【技术实现步骤摘要】
基于数字表面模型辅助的高光谱图像本征分解方法
[0001]本专利技术涉及一种高光谱图像本征分解方法,属于高光谱图像融合处理
技术介绍
[0002]高光谱图像具有丰富的光谱信息,但是高维的光谱空间也造成信息的高度冗余,不利于信息的处理解译。为了更好的挖掘信息,现在已经设计出了各种特征提取的方法,但是这些信息提取方法具有本质的缺陷。当环境光照等成像条件变化时,成像得到的光谱也会随之变化,这使得得到的光谱具有很高的不确定性,这种不确定性体现在提取的特征上就会使得特征表达的信息不可靠。为了解决这个问题,研究基于物理成像模型的本征分解方法具有极大的意义。本征分解旨在研究物理成像过程,恢复反映地物本身属性的反射率,同时也反演出环境成像要素,比如光照。本征分解的难点在于,本征分解是一个欠定问题,在模型求解上存在挑战。
技术实现思路
[0003]本专利技术目的是为了解决现有高光谱图像本征分解精度低的问题,提供了一种基于数字表面模型辅助的高光谱图像本征分解方法。
[0004]本专利技术所述基于数字表面模型辅助 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.基于数字表面模型辅助的高光谱图像本征分解方法,其特征在于,它包括:S1、输入高光谱图像和数字表面模型数据,计算获得几何分量;S2、计算获得局部先验矩阵;S3、计算获得非局部先验矩阵;S4、根据几何分量、局部先验矩阵和非局部先验矩阵进行本征分解,输出高光谱反射率和环境光照。2.根据权利要求1所述的基于数字表面模型辅助的高光谱图像本征分解方法,其特征在于,S1所述计算获得几何分量的具体方法包括:输入高光谱图像输入数字表面模型高程数据其中,h
k
=[h
k
(λ1),h
k
(λ2),
…
,h
k
(λ
d
)]
T
,k=1,2,...,u表示每个像素的光谱特征,k=1,2,...,u表示每个像素的索引,λ表示波长,d表示波段数,u表示高光谱图像像素的个数,z1,z2,
…
,z
u
表示各个像素对应的高程,表示域;计算每个像素的法线,获得法线特征:其中,表示法线在x、y、z空间坐标轴的投影;计算获得几何分量J:J=[J1,J2,
…
,J
u
]
T
;其中,c1、c2、c3、c4、c5是五个常数。3.根据权利要求2所述的基于数字表面模型辅助的高光谱图像本征分解方法,其特征在于,所述c1、c2分别是:c1=0.429,c2=0.512。4.根据权利要求2所述的基于数字表面模型辅助的高光谱图像本征分解方法,其特征在于,所述c3是:c3=0.743。5.根据权利要求2所述的基于数字表面模型辅助的高光谱图像本征分解方法,其特征在于,所述c4是:c4=0.886。6.根据权利要求2所述的基于数字表面模型辅助的高光谱图像本征分解方法,其特征在于,所述c5是:c5=0.248。7.根据权利要求2所述的基于数字表面模型辅助的高光谱图像本征分解方法,其特征在于,S2所述计算获得局部先验矩阵的具体方法包括:遍历每个像素的索引k=1,2,...,u,建立字典D
k
=[h1,
…
,h
k
‑1,h
k+1
,
…
,h
u
,I
d
];
其中,I
d
表示d维单位矩阵;根据下式计算h
k
在字典D
k
中的稀疏表示系数α:min
α
‖α‖
1 subject to h
k
=D
k
α;局部先验矩阵W的每个元素W
kj
由下式赋值...
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