【技术实现步骤摘要】
一种DR空间分辨力自动检测计算方法
[0001]本专利技术涉及设备检测
，具体为一种DR空间分辨力自动检测计算方法。
技术介绍
[0002]空间分辨力又称作高对比度分辨力，它是指在高对比度的情况下鉴别细微结构的能力，也即显示最小体积病灶或结构的能力。在评价DR图像质量的时候，经常首先考虑空间分辨力。对于DR数字射线检测系统,DR探测器的性能决定了整个系统的性能,系统分辨率是表征DR探测器系统性能的一项重要指标,他给出了DR探测器可分辨的最小几何细节。
[0003]目前不同人对同一设备系统检测会产生不同的评价结果，这是因为这些结果在一定程度上依赖于人的主观判断。因此我们提出一种新型的DR空间分辨力自动检测计算方法，具有的明显优点有：对检测的要求低，容易实现，摆放和定位容易，测量结果具有客观性且定量严格。
技术实现思路
[0004]本部分的目的在于概述本专利技术的实施方式的一些方面以及简要介绍一些较佳实施方式。在本部分以及本申请的说明书摘要和专利技术名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和专利技术名称的目的模糊，而这种简化或省略不能用于限制本专利技术的范围。
[0005]鉴于现有空间分辨力计算中存在的问题，提出了本专利技术。
[0006]因此，本专利技术的目的是提供一种DR空间分辨力自动检测计算方法，能够实现在使用的过程中，提高计算效率，且计算过程简单便捷。
[0007]为解决上述技术问题，根据本专利技术的一个方面，本专利技术提供了如下技术方案：>[0008]一种DR空间分辨力自动检测计算方法，其包括如下步骤：
[0009]步骤一：使用DR空间分辨力测试卡；
[0010]步骤二：使用图像处理软件对测试卡检测图像进行分析，以线对中心区域60％范围内的图像作为分析对象；
[0011]步骤三：按公式1计算每组线对的调制度值；
[0012][0013]步骤四：通过曲线拟合获得调制度值与线径间的关系曲线，当调制度值为20％时所对应的线径值为空间分辨力线径值；
[0014]步骤五：按公式2计算空间分辨力线对数。
[0015][0016]作为本专利技术所述的一种DR空间分辨力自动检测计算方法的一种优选方案，其中：公式1中的Dip为调制度值；A1为相对基线第一个最小幅度值；A2为相对基线第二个最小幅度
值；A3相对基线第三个最小幅度值；B1为相对基线A1和A2之间的极小值相应的最小幅度值；B2为相对基线A2和A3之间的极小值相应的最小幅度值；A
n
为相对基线第n个最小幅度值；A
n+1
为相对基线第n+1个最小幅度值；B
n
为相对基线A
n
和A
n+1
之间的极小值相应的最小幅度值。
[0017]作为本专利技术所述的一种DR空间分辨力自动检测计算方法的一种优选方案，其中：公式2中的SR
线对
为空间分辨力线对数，单位为线对每厘米(Lp/cm)；SR
线径
空间分辨力线径值，单位为毫米(mm)。
[0018]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：获得多项式回归方程,方便地自动计算不同识别率所对应的线径和系统分辨率，可获得比较准确的DR空间分辨力,为DR空间分辨力测试提供了一个良好的分析计算工具,提高了DR空间分辨力的计算精度和便捷程度。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本专利技术实施方式的技术方案，下面将结合附图和详细实施方式对本专利技术进行详细说明，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。其中：
[0020]图1为本专利技术测试卡示意图；
[0021]图2为本专利技术调度值结构示意图；
[0022]图3为本专利技术曲线拟合示意图结构示意图。
具体实施方式
[0023]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。
[0024]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术，但是本专利技术还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似推广，因此本专利技术不受下面公开的具体实施方式的限制。
[0025]其次，本专利技术结合示意图进行详细描述，在详述本专利技术实施方式时，为便于说明，表示器件结构的剖面图会不依一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本专利技术保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。
[0026]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术的实施方式作进一步地详细描述。
[0027]实施例1
[0028]一种DR空间分辨力自动检测计算方法，其包括如下步骤：
[0029]步骤一：使用DR空间分辨力测试卡；
[0030]步骤二：使用图像处理软件对测试卡检测图像进行分析，以线对中心区域60％范围内的图像作为分析对象；
[0031]步骤三：按公式1计算每组线对的调制度值；
[0032][0033]步骤四：通过曲线拟合获得调制度值与线径间的关系曲线，当调制度值为20％时
所对应的线径值为空间分辨力线径值；
[0034]步骤五：按公式2计算空间分辨力线对数。
[0035][0036]具体的，公式1中的Dip为调制度值；A1为相对基线第一个最小幅度值；A2为相对基线第二个最小幅度值；A3相对基线第三个最小幅度值；B1为相对基线A1和A2之间的极小值相应的最小幅度值；B2为相对基线A2和A3之间的极小值相应的最小幅度值；A
n
为相对基线第n个最小幅度值；A
n+1
为相对基线第n+1个最小幅度值；B
n
为相对基线A
n
和A
n+1
之间的极小值相应的最小幅度值。
[0037]具体的，公式2中的SR
线对
为空间分辨力线对数，单位为线对每厘米(Lp/cm)；SR
线径
空间分辨力线径值，单位为毫米(mm)。
[0038]虽然在上文中已经参考实施方式对本专利技术进行了描述，然而在不脱离本专利技术的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，本专利技术所披露的实施方式中的各项特征均可通过任意方式相互结合起来使用，在本说明书中未对这些组合的情况进行穷举性的描述仅仅是出于省略篇幅和节约资源的考虑。因此，本专利技术并不局限于文中公开的特定实施方式，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种DR空间分辨力自动检测计算方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：使用DR空间分辨力测试卡；步骤二：使用图像处理软件对测试卡检测图像进行分析，以线对中心区域60％范围内的图像作为分析对象；步骤三：按公式1计算每组线对的调制度值；步骤四：通过曲线拟合获得调制度值与线径间的关系曲线，当调制度值为20％时所对应的线径值为空间分辨力线径值；步骤五：按公式2计算空间分辨力线对数。2.根据权利要求1所述的一种DR空间分辨力自动检测计算方法，其特征在于：公式1中的Dip为调制度值；A1为相对基线第一个最小幅度值；A2为相对基线第二个最小幅度值；A3相对基线第三个最小幅度值；B1为相对基线A1和A2之间的...
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