【技术实现步骤摘要】
一种基于双极性RRAM的非易失性可配置上拉电阻网络
[0001]本专利技术涉及高速串行接口
,具体涉及一种基于双极性RRAM的非易失性可配置上拉电阻网络。
技术介绍
[0002]可配置上拉电阻网络是由若干不同阻值的电阻分别与PMOS晶体管串联后、再并联所形成的电路网络,可以为外部电路提供可配置的上拉电阻,其基本结构如图1所示。该电路是高速串行接口电路的关键电路之一,在目前的高数数据传输集成电路中广泛采用。通过修改电阻配置值,可以使高速串行接口的终端上拉阻配置为50Ω、75Ω等高速数据传输协议规定的精确匹配阻值。由于制造工艺偏差和温度、电压等工作条件的不同,相同的电阻网络在不同集成电路中工作时的电阻配置值不同,往往需要在集成电路上电后进行校准,获取正确的电阻配置值。
[0003]如图2所示,为一种常用的可配置上拉电阻网络。该电路是由4个阻值依次减半的电阻R、R/2、R/4、R/8分别与PMOS晶体管K0、K1、K2、K3串联后、再并联构成的。通过改变电阻配置值,即配置各PMOS晶体管的开关状态,就可以使该电阻网络 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于RRAM的非易失性可配置上拉电阻网络,其特征在于:包括并联的n个子电路,即由子电路1至子电路n并联构成,其中,n为并联的可配置电阻数;输入端口A、输出端口B、使能端口EN、电阻配置值端口K0至Kn、电源端口VDD和地端口GND;其中,每个子电路包括RRAMx,RRAMx的一端与第一单元的一个PMOS晶体管相连,另一端与第二单元的一个PMOS晶体管相连,第一单元与第二单元为同构体,即结构相同,均包括并联的两个限流电阻,其中一个限流电阻与一组PMOS晶体管相连,另外一个限流电阻与一组NMOS晶体管相连;一组PMOS晶体管当中的一个PMOS晶体管与使能EN、电源VDD相连,另一个PMOS晶体管与配置端口Kx相连;一组NMOS晶体管当中的一个NMOS晶体管与地GND、信号BEN相连,另一个NMOS晶体管与配置端口Kx相连。2.根据权利要求1所述的一种基于RRAM的非易失性可配置上拉电阻网络,其特征在于:第一PMOS晶体管、第二PMOS晶体管为一组连接于第一限流电阻R1的一端,第一NMOS晶体管、第二NMOS晶体管为一组连接于第二限流电阻R2的一端,第三PMOS晶体管、第四PMOS晶体管为一组连接于第三限流电阻R3的一端,第三NMOS晶体管、第四NMOS晶体管为一组连接于第四限流电阻R4的一端;第一PMOS晶体管的漏极连接第二PMOS晶体管的源极,第一PMOS晶体管的源极连接电源VDD,第一PMOS晶体管的栅极连接信号EN,第一PMOS晶体管的体连接电源VDD;第二PMOS晶体管的漏极连接第一限流电阻R1的一端,第二PMOS晶体管的源极连接第一PMOS晶体管的漏极,第二PMOS晶体管的栅极连接配置端口Kx,第二PMOS晶体管的体连接电源VDD;第三PMOS晶体管的漏极连接第四PMOS晶体管的源极,第三PMOS晶体管的源极连接电源VDD,第三PMOS晶体管的栅极连接信号EN,第三PMOS晶体管的体连接电源VDD;第四PMOS晶体管的漏极连接第三限流电阻R3的一端,第四PMOS晶体管的源极连接第三PMOS晶体管的漏极,第四PMOS晶体管的栅极连接信号BKx,第四PMOS晶体管的体连接电源VDD;第五PMOS晶体管的漏极连接RRAMx的端口P,第五PMOS晶体管的源极和体连接端口A,第五PMOS晶体管的栅极连接信号BEN;第六PMOS晶体管的漏极连接端口B,第六PMOS晶体管的源极和体连接RRAMx的端口Q,第六PMOS晶体管的栅极连接信号BEN;第一NMOS晶体管的漏极连接第二NMOS晶体管的源极,第一NMOS晶体管的源极连接地GND,第一NMOS晶体管的栅极连接信号BEN,第一NMOS晶体管的体连接地GND;第二NMOS晶体管的漏极连接第二限流电阻R2的一端,第二NMOS晶体管的源极连接第...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴佳,李礼,吴叶楠,
申请(专利权)人:上海威固信息技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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