一种微型馈通连接器用导线间电气学性能测试夹具制造技术

技术编号:30010460 阅读:36 留言:0更新日期:2021-09-11 05:06
本实用新型专利技术涉及一种微型馈通连接器用导线间电气学性能测试夹具,属于电气学测试技术领域,为解决现有的测试探针由于测试端直径大,导致对微型馈通连接器进行测试时。测试时会出现同时触碰两根导线导致测试质量差,而夹持式会对导线出现压痕而损坏,同时测试效率低的问题。本实用新型专利技术通过将锥形夹套安装在锥形夹套放置装置上设有的锥形通孔内,将待测产品放置在测试底座台阶上,通过将锥形夹套与待测产品的导线紧贴连接,再利用锥形夹套固连的测试导线与夹持探针的夹持完成与测试仪器的连接,进而可一次完成一根导线与其他导线间的电气学性能测试。因为不对导线进行夹持,不会对导线造成损坏,操作简单快速,测试结果可靠,测试工作效率高。试工作效率高。试工作效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种微型馈通连接器用导线间电气学性能测试夹具


[0001]本技术涉及一种微型馈通连接器用导线间电气学性能测试夹具,属于电气学测试


技术介绍

[0002]典型的馈通连接器由导线、法兰套圈、绝缘体和封接体四个部分组成,绝缘体起到支撑、绝缘作用,通过高温真空钎焊与外围法兰套圈及传导信号的导线结合,导线与法兰套圈内圈间以封接体实现各部件间的密封连接。与聚合物和玻璃相比,陶瓷绝缘体力学性能好、耐热冲击性、腐蚀性强、密封等级高,是一种更为理想的绝缘体,陶瓷馈通连接器有着广阔的应用前景。
[0003]评价馈通连接器的性能优劣,其中一个很重要的因素便是馈通连接器各根导线之间的电气学性能例如绝缘强度测试、耐压强度测试等性能,因此在实际生产的质量控制过程中必须对其进行全检。
[0004]当前通用的馈通连接器测试各导线间电气学性能测试的工作原理是利用两根测试探针的连接端分别与测试仪器的正、负极连接,测试探针的测试端分别与导线连接,一次完成两根导线之间的测试,再逐根测试剩余导线间的测试工作。例如一个馈通连接器有4根导线,需要测试6次,才能完成每根导线间的测试工作。根据与导线的连接方式分为手动接触法和夹持法两种,手动接触法是手动操做探针的测试端与导线接触并进行测试,夹持法是将探针的测试端设置成可夹持式夹具,再将夹具直接夹住导线并进行测试。此类方法仅适用于尺寸较大、导线较粗的馈通连接器。在对微型馈通连接器进行导线间电气学性能测试时,由于微型馈通连接器的尺寸很小,最大尺寸小于10mm,导线间的间距很小,间距一般小于1mm,且导线很细,直径在0.2

1.0mm之间,而且导线通常使用质地偏软的贵金属材料如铂金,铂铱合金等制作,利用传统方法对微型馈通连接器进行测量时常常会产生以下问题:
[0005]1.采用手动接触法用的测试探针的测试端直径大于微型馈通连接器的导线间距,导致测试时会同时碰触到两根或两根以上的导线,从而导致测试结果不可靠,且直径较大的两根测试探针很难进行相邻导线之间的测量。
[0006]2.由于微型馈通连接器的导线很细且质地偏软,在测试过程中由于人工手动操作,会在碰触到导线时造成导线弯折,影响产品可靠性和后续使用,特别是在进行相邻的两根导线间电气学性能测试时。
[0007]3.由于导线的质地偏软,在使用夹持法装夹导线时会造成导线损伤,留下很深的夹压痕迹,影响后续使用。手动接触式测试虽不会造成明显的导线损伤,但是由于单根导线测试时间较长,通常每根导线测试时间在1min以上,因此常常存在测试过程中由于手工操作失误导致探针和测试导线分离的现象,导致测试结果不可靠。
[0008]4.测试时需要逐根测试,并且每根导线通电测试的时间需要在1min以上,当产品的导线数量较多时,特别是常见的微型馈通连接器导线数量介于2

30根之间,这样就极大的降低了测试效率。

技术实现思路

[0009]对现有技术中存在的问题与不足,本技术提供一种微型馈通连接器用导线间电气学性能测试夹具,能在进行测试过程中,测试探针不对导线直接接触,避免对导线造成变形和损伤,相比传统测试方法,提高测试效率和测试准确性。
[0010]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种微型馈通连接器用导线间电气学性能测试夹具,包括测试仪器、夹持探针、若干个锥形夹套、锥形夹套放置装置和测试底座,夹持探针两端分别对应为连接端和夹持端,连接端分别与测试仪器连接,测试底座为中空的带台阶的套筒状结构;锥形夹套放置装置设有若干个锥形通孔;锥形夹套安装在锥形通孔内;待测产品的法兰套圈竖直安装在测试底座的台阶上;锥形夹套放置装置放置在待测产品的导线上,且锥形夹套与待测产品的导线一一对应紧贴连接;与测试仪器负极连接的夹持探针的夹持端与待测产品的一根导线所连接的锥形夹套连接,与测试仪器正极连接的夹持探针的夹持端与待测产品剩余导线所连接的锥形夹套连接。
[0011]具体的,锥形夹套放置装置为由顶部和下部开口的侧壁构成的筒状空腔结构,整体由绝缘陶瓷制成;顶部上设有若干个锥形通孔,锥形夹套放置装置放置在待测产品的导线上,锥形夹套放置装置的侧壁内侧与测试底座外圈间隙配合,之间形成待测产品的安装空腔。这样设置锥形通孔内安装锥形夹套,通过锥形夹套与待测产品的导线接触,既使得代替传统探针夹持导线,不对导线造成损坏,又可以通过锥形夹套放置装置与测试底座之间的空腔构成待测产品的安装空间,这样可以有效的保证待测产品在测试过程中处于竖直状态,可以进一步的保证导线不会出现弯折,变形的情况。
[0012]具体的,锥形夹套放置装置的侧壁内侧与测试底座外圈的配合间隙小于0.1mm这样设置既可以保证待测产品安装稳定,保证测试精确性,又使得安装在锥形夹套装置上的锥形夹套利用两者的自重作用平稳,牢固的与待测产品的导线紧贴连接,进一步保证测试质量。
[0013]具体的,锥形通孔为上窄下宽的锥形孔,且其上端窄孔直径介于0.1

1.0mm之间。
[0014]具体的,锥形夹套为上窄下宽的筒状腔体结构,且其上部小端固连有测试导线,测试导线可与夹持探针的夹持端连接。这样设置锥形夹套便于与锥形通孔的安装,且上窄下宽的设置也能保证锥形夹套与导线的紧密连接,设置成引出测试导线,便于因对待测产品的导线间距小而方便测试的目的。
[0015]具体的,锥形夹套由钼或铁镍合金制作。这样设置既保证了测试过程的导电性能较好。
[0016]具体的,测试底座由氧化铝含量95%以上的高纯氧化铝瓷的绝缘性能材料制作。设置测试底座的高绝缘性避免了测试底座对待测产品的影响,保证了测试数据的高准确性。
[0017]具体的,夹持探针整体外层由绝缘橡胶包裹,且其夹持端设有鳄鱼夹。这样设置既保证了测试质量,又保证了夹持探针的夹持效果。
[0018]与现有技术相比,本技术的有益效果在于:
[0019]1.不对导线进行夹持操作,避免了测试过程中产品的导线损伤。
[0020]2.通过锥形夹套放置装置和测试底座之间的固定,保证了测试过程中待测产品的导线始终处于竖直状态,避免了测试过程中造成导线弯折。
[0021]3.提高了测试的效率,可以一次性进行一根导线和剩余导线之间的电气学性能测
试。相比传统测试方法,大大节省测试周期。例如传统方式测试4根导线需要测试6次,本技术只需4次即可完成全部导线间的测试,对于导线数量较多时,相对测试效率会更高。又减少待测产品的测试时间,降低测试过程中产品的损坏率。
[0022]4.测试结果稳定可靠,避免了由于探针直径过大导致碰触到两根导线或操作过程中导线和探针分离导致的误差。
附图说明
[0023]图1是测试夹具测试结构示意图
[0024]图中:1、夹持探针;2、锥形夹套放置装置;3、锥形夹套;4、待测产品;5、测试仪器;6、测试底座;7、待测产品的法兰套圈;8、待测产品的导线。
具体实施方式
[0025]下本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微型馈通连接器用导线间电气学性能测试夹具,包括测试仪器、夹持探针、若干个锥形夹套、锥形夹套放置装置和测试底座,所述夹持探针两端分别对应为连接端和夹持端,所述连接端分别与所述测试仪器连接,其特征在于:所述测试底座为中空的带台阶的套筒状结构;所述锥形夹套放置装置设有若干个锥形通孔;所述锥形夹套安装在所述锥形通孔内;待测产品的法兰套圈竖直安装在所述测试底座的台阶上;所述锥形夹套放置装置放置在待测产品的导线上,且锥形夹套与待测产品的导线一一对应紧贴连接;与测试仪器负极连接的所述夹持探针的夹持端与待测产品的一根导线所连接的锥形夹套连接,与测试仪器正极连接的所述夹持探针的夹持端与待测产品剩余导线所连接的锥形夹套连接。2.根据权利要求1所述的一种微型馈通连接器用导线间电气学性能测试夹具,其特征在于:所述锥形夹套放置装置为由顶部和下部开口的侧壁构成的筒状空腔结构,整体由绝缘陶瓷制成;所述顶部上设有若干个锥形通孔,所述锥形夹套放置装置放置在待测产品的导线上,所述锥形夹套放置装置的侧壁内侧与所述测试底座外圈间隙配合,之间形成待测产品的安装空腔。3...

【专利技术属性】
技术研发人员:于凯凯刘立双
申请(专利权)人:摩科斯新材料科技苏州有限公司
类型:新型
国别省市:

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