一种实验样品研磨装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种实验样品研磨装置，包括研磨装置外箱和定位槽，所述研磨装置外箱的内部设置有电动推杆，且电动推杆的下方安装有机箱，所述机箱的内部设置有电机，且电机的下方安装有转轴，所述机箱的下方设置有研磨盖，且研磨盖的内部安装有转轴孔，所述转轴的下方设置有研磨块，且研磨块的下方设置有内槽，所述内槽的内部设置有研磨槽，所述研磨槽的下方设置有底座，且底座的内部设置有减震垫，所述减震垫的内部安装有弹簧。本实用新型专利技术设置有研磨块通过转轴与电机之间构成转动结构，这样可以通过电机带动研磨块在研磨槽内部高速转动，以此可以对待研磨材料进行多角度、全方位的研磨，从而使装置可以适应多种样品原料。料。料。

【技术实现步骤摘要】
一种实验样品研磨装置


[0001]本技术涉及实验样品研磨装置
，具体为一种实验样品研磨装置。

技术介绍

[0002]在实验过程中，经常需要对样品进行研磨粉碎，现有的研磨工具一般是使用研钵，将需要研磨的样品放置于研钵内，并使用研杵将样品研碎。这种方法虽然能将样品研碎，但是使用的过程中，随着时间的延长，容易使手腕酸痛，费时费力，且样品研磨效果也不好。
[0003]现有的实验样品研磨装置具有不能多角度对样品进行研磨的问题，以及不方便把研磨完成的样品取出的问题，且适用样品种类单一的问题，针对上述情况，在现有的实验样品研磨装置基础上进行技术创新。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种实验样品研磨装置，以解决上述
技术介绍
中提出现有的实验样品研磨装置具有不能多角度对样品进行研磨的问题，以及不方便把研磨完成的样品取出的问题，且适用样品种类单一的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种实验样品研磨装置，包括研磨装置外箱和定位槽，所述研磨装置外箱的内部设置有电动推杆，且电动推杆的下方安装有机箱本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种实验样品研磨装置，包括研磨装置外箱(1)和定位槽(20)，其特征在于：所述研磨装置外箱(1)的内部设置有电动推杆(10)，且电动推杆(10)的下方安装有机箱(8)，所述机箱(8)的内部设置有电机(9)，且电机(9)的下方安装有转轴(6)，所述机箱(8)的下方设置有研磨盖(7)，且研磨盖(7)的内部安装有转轴孔(17)，所述转轴(6)的下方设置有研磨块(5)，且研磨块(5)的下方设置有内槽(3)，所述内槽(3)的内部设置有研磨槽(4)，所述研磨槽(4)的下方设置有底座(2)，且底座(2)的内部设置有减震垫(15)，所述减震垫(15)的内部安装有弹簧(14)，且弹簧(14)的内侧设置有定位销(16)，所述定位槽(20)设置于定位销(16)的内侧，且定位槽(20)的上方设置有卡槽(12)，所述卡槽(12)的外侧设置有卡块(13)，所述研磨装置外箱(1)的前端设置有装置前门(11)，且装置前门(11)的内部设置有门锁(18)，所述机箱(8)的左侧设置有锁柱(19)。2.根据权利要求1所述的一种实验样品研磨装置，其特征在于：所述研磨块(5)通过转轴(6)与电机(9)之间构成转动结...

【专利技术属性】
技术研发人员：柳德发，
申请(专利权)人：上海赛夫特半导体材料有限公司，
类型：新型
国别省市：