一种半原位X射线光电子能谱分析仪制造技术

技术编号:30004688 阅读:27 留言:0更新日期:2021-09-11 04:53
本实用新型专利技术公开了一种半原位X射线光电子能谱分析仪,包括分析仪主体,所述分析仪主体的内部设置有分析装置,所述分析仪主体的前端表面设置有挡尘板,所述挡尘板的下端与分析仪主体的之间以及挡尘板的上端与分析仪主体的上端表面之间均设置有滑槽,所述分析仪主体的下端设置有底座,所述底座的左侧面设置有推手,所述分析仪主体的右侧设置有支撑架,所述支撑架的上端内部设置有显示器,所述底座的下端表面设置有万向轮。本实用新型专利技术的一种半原位X射线光电子能谱分析仪,具备较好的防尘效果,避免灰尘积聚影响使用,同时便于移动固定,提高使用效果。高使用效果。高使用效果。

【技术实现步骤摘要】
一种半原位X射线光电子能谱分析仪


[0001]本技术涉及光电子能谱分析仪领域,特别涉及一种半原位X射线光电子能谱分析仪。

技术介绍

[0002]X射线光电子能谱分析仪,是使用X射线与样品表面相互作用,利用光电效应,激发样品表面发射光电子,利用能量分析器,测量光电子动能进而得到激发电子的结合能,是一种表面分析技术,主要用来表征材料表面元素及其化学状态的一种仪器,现有的半原位X射线光电子能谱分析仪不具有防尘结构,长时间容易积聚灰尘,影响使用,同时半原位X射线光电子能谱分析仪位置移动不方便,且搬运过程中存在仪器损坏的可能,为此,我们提出一种半原位X射线光电子能谱分析仪。

技术实现思路

[0003]本技术的主要目的在于提供一种半原位X射线光电子能谱分析仪,可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0004]为实现上述目的,本技术采取的技术方案为:
[0005]一种半原位X射线光电子能谱分析仪,包括分析仪主体,所述分析仪主体的内部设置有分析装置,所述分析仪主体的前端表面设置有挡尘板,所述挡尘板的下端与分析仪主体的之间以及挡尘板的上端与本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半原位X射线光电子能谱分析仪,包括分析仪主体(1),其特征在于:所述分析仪主体(1)的内部设置有分析装置(2),所述分析仪主体(1)的前端表面设置有挡尘板(4),所述挡尘板(4)的下端与分析仪主体(1)的之间以及挡尘板(4)的上端与分析仪主体(1)的上端表面之间均设置有滑槽(19),所述分析仪主体(1)的下端设置有底座(3),所述底座(3)的左侧面设置有推手(14),所述分析仪主体(1)的右侧设置有支撑架(7),所述支撑架(7)的上端内部设置有显示器(6),所述底座(3)的下端表面设置有万向轮(18)。2.根据权利要求1所述的一种半原位X射线光电子能谱分析仪,其特征在于:所述挡尘板(4)的前端表面设置有观察窗口(5),所述观察窗口(5)与挡尘板(4)之间为固定连接,所述挡尘板(4)内侧表面设置有吸尘板(12),所述吸尘板(12)与挡尘板(4)之间为活动连接,所述滑槽(19)的内部与挡尘板(4)之间设置有移动滑块(10),所述移动滑块(10)与挡尘板(4)之间为固定连接,所述滑槽(19)嵌于分析仪主体(1)表面,所述滑槽(19)与分析仪主体(1)之间为固定连接。3.根据权利要求1所述的一种半原位...

【专利技术属性】
技术研发人员:曾宪荣
申请(专利权)人:广州普川检测技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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