光热催化反应仪内待测膜层的光照侧温度检测装置制造方法及图纸

技术编号:29993403 阅读:21 留言:0更新日期:2021-09-11 04:33
本实用新型专利技术公开了一种光热催化反应仪内待测膜层的光照侧温度检测装置,包括:固定在仪表箱顶部的法兰底座、法兰底座连接的螺纹杆、安装在螺纹杆上的高度调节组件、与高度调节组件连接的角度调节组件、呈水平状并且两端分别与高度调节组件和角度调节组件连接的水平连杆、安装在角度调节组件上的红外测温仪,所述红外测温仪位于反应釜的上方偏一侧,所述红外测温仪的测温光斑透过反应釜的光窗落在待测膜层的上表面。有益效果:本实用新型专利技术通过在不阻挡反应光照射待测膜层的前提下,透过反应釜的光窗对待测膜层的上表面进行实时监测;通过高度调节组件和角度调节组件可以根据实验的需要调整红外测温仪的位置和角度,有效地保证了实验数据的准确性。保证了实验数据的准确性。保证了实验数据的准确性。

【技术实现步骤摘要】
光热催化反应仪内待测膜层的光照侧温度检测装置


[0001]本技术涉及一种实温度检测装置,特别涉及一种光热催化反应仪内待测膜层的光照侧温度检测装置,属于试验仪器


技术介绍

[0002]催化反应主要是通过控制光、电、热、压等不同能量场的能量强度及能量分布;同时,调节湿度、流速等环境参数;产生自由载流子,即电子

空穴对,使吸附于催化剂表面的气体发生催化反应,可使有机气体或污染物气体氧化降解为二氧化碳、水及其他小分子,或合成目标产物的过程。
[0003]光热催化反应仪是通过光照和加热的方法使吸附于待测膜层表面的气体发生催化反应。目前光热催化反应在实验过程中,仅通过待测膜层底部的温度传感器测得的待测膜层底部温度作为整个实验过程中的实验温度;但是在实际实验过程中由于光照影响会造成待测膜层上表面温度高于下表面温度的现象;为了掌握实验过程中真实的反应情况需要实时监测待测膜层上表面的温度。
[0004]目前,现有的光热催化反应仪无法实现对待测膜层上表面的温度实时测量。

技术实现思路

[0005]专利技术目的:本技术旨在至少在一定程度上解决现有技术中的上述技术问题之一,提供一种光热催化反应仪内待测膜层的光照侧温度检测装置,能够对待测膜层上表面的温度实时测量。
[0006]为了实现上述目的,本技术采用如下技术方案:一种光热催化反应仪内待测膜层的光照侧温度检测装置,包括:
[0007]法兰底座,所述法兰底座固定在仪表箱顶部;
[0008]螺纹杆,所述螺纹杆与法兰底座连接,与仪表箱上表面垂直;
[0009]高度调节组件,所述高度调节组件安装在螺纹杆上;
[0010]角度调节组件,所述角度调节组件与高度调节组件连接;
[0011]水平连杆,所述水平连杆呈水平状并且两端分别与高度调节组件和角度调节组件连接;
[0012]红外测温仪,所述红外测温仪安装在角度调节组件上,所述红外测温仪位于反应釜的上方偏一侧,所述红外测温仪的测温光斑透过反应釜的光窗落在待测膜层的上表面。
[0013]本技术通过在反应釜上方偏一侧的位置设置红外测温仪,在不阻挡反应光照射待测膜层的前提下,透过反应釜的光窗对待测膜层的上表面进行实时监测;通过高度调节组件和角度调节组件可以根据实验的需要调整红外测温仪的位置和角度,有效地保证了实验数据的准确性。
[0014]优选项,为了实现红外测温仪位置的调节,所述高度调节组件包括连接套筒、高度调节螺母,所述连接套筒和高度调节螺母由上向下依次套装在螺纹杆上,所述连接套筒中
心为光孔,所述高度调节螺母的内螺纹与螺纹杆的外螺纹相匹配,所述连接套筒的外壁与水平连杆连接。通过调节高度调节螺母在螺纹杆上的位置能够实现连接套筒高度的调节;在调节高度时只需要旋转高度调节螺母即可以进行高度调节,不需要旋转整个连接套筒,提高了调节的便利性。
[0015]优选项,为了提高红外测温仪的安装稳定性,所述连接套筒上方设有锁紧螺母,所述锁紧螺母的内螺纹与螺纹杆的外螺纹相匹配。通过锁紧螺母与高度调节螺母配合可以将位于中间的连接套筒进一步固定,提高了连接套筒的稳定性。
[0016]优选项,为了进一步提高红外测温仪的安装稳定性,所述高度调节螺母上方设有下锯齿状凸起部,所述连接套筒下方与高度调节螺母接触处也设有相匹配的上锯齿状凸起部。通过高度调节螺母的下锯齿状凸起部与连接套筒的上锯齿状凸起部的配合,可以有效防止连接套筒在螺纹杆上发生轴向转动,进而影响实验数据的准确性。
[0017]优选项,为了方便调节红外测温仪的测温角度,所述角度调节组件包括安装座、安装螺母、角度调节板和调节螺钉,所述红外测温仪通过安装螺母固定在安装座上,所述安装座与角度调节板通过调节螺钉连接,所述水平连杆与角度调节板连接。通过调节安装座与角度调节板之间的相对位置关系实现红外测温仪测温角度的调节,调节完成后通过调节螺钉锁紧固定。
[0018]优选项,为了实现测温角度的调节,所述安装座一侧设有侧板,侧板上设有螺纹孔,所述角度调节板上设有弧形通孔,所述调节螺钉穿过弧形通孔与螺纹孔连接。通过调节螺钉在弧形通孔中的位置实现安装座角度的调节,弧形通孔的弧长限定了调节的角度范围。
[0019]优选项,为了实现高度方向的微调,所述水平连杆包括第一连杆单元、第二连杆单元和第三连杆单元,所述第二连杆单元两端分别与第一连杆单元和第三连杆单元铰接于连接处,所述第一连杆单元与高度调节组件连接,所述第三连杆单元与角度调节组件连接,所述第一连杆单元和第三连杆单元呈水平布置。在保持第一连杆单元和第三连杆单元水平布置的情况下,调节第二连杆单元的角度可以实现红外测温仪高度方向的微调,同时由于高度方向的微调改变了原水平连杆的长度,此时可以通过旋转连接套筒以及调节角度调节组件保持原红外测温仪测温点不变。
[0020]有益效果:经由上述的技术方案可知,与现有技术相比,本技术通过在反应釜上方偏一侧的位置设置红外测温仪,在不阻挡反应光照射待测膜层的前提下,透过反应釜的光窗对待测膜层的上表面进行实时监测;通过高度调节组件和角度调节组件可以根据实验的需要调整红外测温仪的位置和角度,有效地保证了实验数据的准确性。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图;
[0022]图1为本技术的主视图;
[0023]图2为本技术的俯视图;
[0024]图3为本技术高度调节组件的结构示意图;
[0025]图4为本技术安装座的结构图;
[0026]图5为本技术安装座的右视图;
[0027]图6为本技术角度调节板的结构示意图;
[0028]图7为本技术水平连杆的结构示意。
具体实施方式
[0029]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0030]在本技术的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0031]在本技术中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光热催化反应仪内待测膜层的光照侧温度检测装置,其特征在于,包括:法兰底座(1),所述法兰底座(1)固定在仪表箱(2)顶部;螺纹杆(3),所述螺纹杆(3)与法兰底座(1)连接,与仪表箱(2)上表面垂直;高度调节组件(4),所述高度调节组件(4)安装在螺纹杆(3)上;角度调节组件(5),所述角度调节组件(5)与高度调节组件(4)连接;水平连杆(6),所述水平连杆(6)呈水平状并且两端分别与高度调节组件(4)和角度调节组件(5)连接;红外测温仪(7),所述红外测温仪(7)安装在角度调节组件(5)上,所述红外测温仪(7)位于反应釜(8)的上方偏一侧,所述红外测温仪(7)的测温光斑透过反应釜(8)的光窗落在待测膜层的上表面。2.根据权利要求1所述的光热催化反应仪内待测膜层的光照侧温度检测装置,其特征在于:所述高度调节组件(4)包括连接套筒(41)、高度调节螺母(42),所述连接套筒(41)和高度调节螺母(42)由上向下依次套装在螺纹杆(3)上,所述连接套筒(41)中心为光孔,所述高度调节螺母(42)的内螺纹与螺纹杆(3)的外螺纹相匹配,所述连接套筒(41)的外壁与水平连杆(6)连接。3.根据权利要求2所述的光热催化反应仪内待测膜层的光照侧温度检测装置,其特征在于:所述连接套筒(41)上方设有锁紧螺母(43),所述锁紧螺母(43)的内螺纹与螺纹杆(3)的外螺纹相匹配。4.根据权利要求2或3所述的光热催化反应仪内待测膜层的光...

【专利技术属性】
技术研发人员:张铁锐刘彬顾春鹏陈磊
申请(专利权)人:泊菲莱镇江智能设备有限公司
类型:新型
国别省市:

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