本实用新型专利技术提供一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，涉及晶粒度技术领域，本实用新型专利技术包括显微镜和调节装置，显微镜的表面固定连接有光板，显微镜的表面固定连接有两个镜头，显微镜的表面设有调节装置，调节装置包括有固定架，固定架与显微镜的表面滑动连接，固定架远离显微镜的表面固定连接有连接板，连接板远离固定架的表面滑动插设有两个固定杆。本实用新型专利技术解决了工作人员长时间在显微镜上观察容易碰到显微镜上的镜头，进而导致观测的位置发生偏移，工作人员可用手机对显微镜镜头处进行拍摄之后对数据进行测量，但是由于显微镜上没有针对手机进行限位的结构，直接用手拍照容易导致拍出照片不清晰的问题。导致拍出照片不清晰的问题。导致拍出照片不清晰的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种金属材料检测用的晶粒度测试装置
[0001]本技术涉及晶粒度
，尤其涉及一种金属材料检测用的晶粒度测试装置。
技术介绍
[0002]晶粒大小的度量称为晶粒度，即晶粒度是表示晶粒大小的尺度，常用的表示方法有单位体积的晶粒数目，单位面积内的晶粒数目或晶粒的平均线长度，金属结晶时，每个晶粒都是由一个晶核长大而成的，因此晶粒的大小取决于晶核的数目和晶粒长大速度的相对大小。
[0003]金属材料科学领域的晶粒度的测量方法主要是通过金相显微镜观察，工作人员通常需要趴在显微镜上进行观测，工作人员长时间在显微镜上观察容易碰到显微镜上的镜头，进而导致观测的位置发生偏移，工作人员可用手机对显微镜镜头处进行拍摄之后对数据进行测量，但是由于显微镜上没有针对手机进行限位的结构，直接用手拍照容易导致拍出的照片不清晰。
技术实现思路
[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种金属材料检测用的晶粒度测试装置。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，包括显微镜和调节装置，所述显微镜的表面固定连接有光板，所述显微镜的表面固定连接有两个镜头，所述显微镜的表面设有调节装置，所述调节装置包括有固定架，所述固定架与显微镜的表面滑动连接，所述固定架远离显微镜的表面固定连接有连接板，所述连接板远离固定架的表面滑动插设有两个固定杆，所述固定杆呈“L”形结构，两个所述固定杆彼此靠近的一侧固定连接有转环，两个所述固定杆远离转环的一端固定连接有限位架，所述限位架远离固定杆的表面螺纹插设有螺栓。
[0006]优选的，所述固定架远离显微镜的表面固定连接有连接杆，所述连接杆远离固定架的一侧固定连接有螺杆。
[0007]优选的，所述螺杆的表面螺纹连接有螺环，所述螺环的侧壁与转环转动连接，所述螺环远离转环的一侧均匀固定连接有四个固定块。
[0008]优选的，所述固定架的表面设有安装结构，所述安装结构包括有四个限位棒，四个所述限位棒均与固定架的内部滑动连接，四个所述限位棒靠近显微镜的一端固定连接有矩形板，四个所述限位棒远离矩形板的一端均固定连接有圆块。
[0009]优选的，所述矩形板靠近固定架内壁的一侧固定连接有限位环，所述限位环的内壁转动连接有圆板，所述圆板远离矩形板的表面固定连接有驱动杆，所述驱动杆与固定架的内部螺纹连接。
[0010]优选的，所述矩形板远离驱动杆的一侧开设有矩形槽，矩形槽的内壁卡接有防滑
垫。
[0011]与现有技术相比，本技术的优点和积极效果在于，
[0012]1、本技术中，通过设置调节装置，将手机卡放在限位架上，将手机上的摄像头移动至与显微镜上镜头同一水平线的位置后，转动限位架上的螺栓，螺栓会将手机固定在限位架上，转动螺杆上的螺环，螺环会带动转环在螺杆上进行移动，由于转环与固定杆之间是固定连接的，转环会带动固定杆在连接板上进行滑动，从而可达到调节限位架上手机位置的效果，进而可达到对手机上摄像头进行定位的效果，其中固定杆在连接板上进行移动可达到限制限位架移动方向的效果，其中螺环上的固定块具有防止工作人员转动螺环时手滑的效果，调节装置的设置解决了由于显微镜上没有针对手机进行限位的结构，直接用手拍照容易导致拍出照片不清晰的问题。
[0013]2、本技术中，通过设置安装结构，将固定架卡放在显微镜上之后，转动固定架上的驱动杆，驱动杆会带动矩形板向靠近显微镜方向移动，从而可达到将固定架固定在显微镜上的效果，其中限位棒在固定架内部滑动具有限制矩形板移动方向的效果，其中矩形板上矩形槽内壁卡接的防滑垫具有防止矩形板与显微镜之间发生滑动的问题，同时可防止矩形板会与显微镜之间发生剐蹭的问题，反方向转动驱动杆，驱动杆上的圆板会在限位环内进行转动，进而可达到带动矩形板向靠近固定架内壁方向进行移动的效果，从而可达到将固定架从显微镜上的取出效果，安装结构的设置解决了直接将调节装置固定安装在显微镜上不便于显微镜正常使用的问题。
附图说明
[0014]图1为本技术提出一种金属材料检测用的晶粒度测试装置的立体结构示意图；
[0015]图2为本技术提出一种金属材料检测用的晶粒度测试装置中图1的侧视结构示意图；
[0016]图3为本技术提出一种金属材料检测用的晶粒度测试装置中安装结构的结构示意图；
[0017]图4为本技术提出一种金属材料检测用的晶粒度测试装置中调节装置的结构示意图；
[0018]图5为本技术提出一种金属材料检测用的晶粒度测试装置中驱动杆的结构示意图。
[0019]图例说明：1、显微镜；2、光板；3、镜头；4、调节装置；401、固定架；402、连接杆；403、限位架；404、连接板；405、螺杆；406、螺栓；407、固定杆；408、转环；409、固定块；410、螺环；5、安装结构；51、驱动杆；52、防滑垫；53、矩形板；54、限位环；55、限位棒；56、圆块；57、圆板。
具体实施方式
[0020]为了能够更清楚地理解本技术的上述目的、特征和优点，下面结合附图和实施例对本技术做进一步说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0021]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术，但是，本实用
新型还可以采用不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本技术并不限于下面公开说明书的具体实施例的限制。
[0022]实施例1，如图1
‑
5所示，本技术提供了一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，包括显微镜1和调节装置4，显微镜1的表面固定连接有光板2，显微镜1的表面固定连接有两个镜头3，显微镜1的表面设有调节装置4，固定架401的表面设有安装结构5。
[0023]下面具体说一下其调节装置4和安装结构5的具体设置和作用。
[0024]如图1和图4所示，调节装置4包括有固定架401，固定架401与显微镜1的表面滑动连接，固定架401远离显微镜1的表面固定连接有连接板404，连接板404远离固定架401的表面滑动插设有两个固定杆407，其中固定杆407在连接板404上进行移动可达到限制限位架403移动方向的效果，固定杆407呈“L”形结构，两个固定杆407彼此靠近的一侧固定连接有转环408，两个固定杆407远离转环408的一端固定连接有限位架403，限位架403远离固定杆407的表面螺纹插设有螺栓406，通过设置调节装置4，将手机卡放在限位架403上，将手机上的摄像头移动至与显微镜1上镜头3同一水平线的位置后，转动限位架403上的螺栓406，螺栓406会将手机固定在限位架403上，固定架401远离显微镜1的表面固定连接有连接杆402，连接杆402远离固定架401的一侧固定连接有螺杆405，螺杆405的表面螺纹连接有螺环410，转动螺杆405上的螺环410，螺环410会带动转环408在螺杆405上本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，包括显微镜(1)和调节装置(4)，其特征在于：所述显微镜(1)的表面固定连接有光板(2)，所述显微镜(1)的表面固定连接有两个镜头(3)，所述显微镜(1)的表面设有调节装置(4)，所述调节装置(4)包括有固定架(401)，所述固定架(401)与显微镜(1)的表面滑动连接，所述固定架(401)远离显微镜(1)的表面固定连接有连接板(404)，所述连接板(404)远离固定架(401)的表面滑动插设有两个固定杆(407)，所述固定杆(407)呈“L”形结构，两个所述固定杆(407)彼此靠近的一侧固定连接有转环(408)，两个所述固定杆(407)远离转环(408)的一端固定连接有限位架(403)，所述限位架(403)远离固定杆(407)的表面螺纹插设有螺栓(406)。2.根据权利要求1所述的一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，其特征在于：所述固定架(401)远离显微镜(1)的表面固定连接有连接杆(402)，所述连接杆(402)远离固定架(401)的一侧固定连接有螺杆(405)。3.根据权利要求2所述的一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，其特征在于：所述螺杆(405...
【专利技术属性】
技术研发人员：曾兵，
申请(专利权)人：曾兵，
类型：新型
国别省市：
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