致密储层物性下限的确定方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种致密储层物性下限的确定方法及装置，该方法包括：获得致密储层的含油样品的第一孔喉半径分布范围和第二孔喉半径分布范围；确定致密储层的第三孔喉半径分布范围；获得致密储层的岩心样品的第一核磁T2弛豫谱累积曲线和第二核磁T2弛豫谱累积曲线；根据第一核磁T2弛豫谱累积曲线和第二核磁T2弛豫谱累积曲线，确定致密储层的可动流体分布孔喉下限；在可动流体分布孔喉下限在第三孔喉半径分布范围之内时，根据第一孔喉半径分布范围和可动流体分布孔喉下限，确定致密储层的物性下限，所述物性下限包括孔隙度下限和渗透率下限。本发明专利技术实施例可以确定致密储层物性下限，准确度高。准确度高。准确度高。

【技术实现步骤摘要】
致密储层物性下限的确定方法及装置


[0001]本专利技术涉及石油勘探开发
，尤其涉及一种致密储层物性下限的确定方法及装置。

技术介绍

[0002]现有技术中，有效储层物性下限的确定方法主要包括两类，一种是基于动态生产资料的确定方法，主要包括测试法、试油法、分布函数法、含油产状法等，以上方法多是根据试油资料、录井资料与孔隙度、渗透率的分布关系的统计方法，是一种在常规砂岩储层研究的基础上建立的方法，受完井方式及试油工艺的影响较大，低产储层与干层也不能较好的区分，受限于大量生产资料。另一种是基于岩心实验分析结果的确定方法，主要是依据物性、压汞、核磁共振及流体饱和度测试结果，主要方法包括孔隙度-渗透率交汇法、经验统计法、束缚水饱和度法、最小孔喉法，这些方法多是根据测试结果的分布变化特征、经验值来进行孔喉下限的确定，基于岩心的分析测试的方法受样品代表性及测试条件的影响较大。
[0003]随着国内致密油勘探力度的加大，致密储层的研究受到重视。由于致密储层与常规储层的在充注机理、孔喉尺度上的差异，以及测试精度的限制，上述方法不适用于致密储层，而现有的针对致密储层的物性下限确定方法存在准确度不高的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提出一种致密储层物性下限的确定方法，用以确定致密储层物性下限，准确度高，该方法包括：
[0005]获得致密储层的含油样品的第一孔喉半径分布范围和第二孔喉半径分布范围，所述第一孔喉半径分布范围是对含油样品进行压汞测试获得的，所述第二孔喉数据是对含油样品进行扫描电镜分析获得的；
[0006]根据含油样品的第一孔喉半径分布范围和第二孔喉半径分布范围，确定致密储层的第三孔喉半径分布范围；
[0007]获得致密储层的岩心样品的第一核磁T2弛豫谱累积曲线和第二核磁T2弛豫谱累积曲线，所述第一核磁T2弛豫谱累积曲线是对致密储层的饱和流体后的岩心样品进行核磁共振测试获得的；所述第二核磁T2弛豫谱累积曲线是对离心处理后的岩心样品进行核磁共振测试获得，所述离心处理后的岩心样品是通过对饱和流体后的岩心样品进行离心处理获得的；
[0008]根据第一核磁T2弛豫谱累积曲线和第二核磁T2弛豫谱累积曲线，确定致密储层的可动流体分布孔喉下限；
[0009]在可动流体分布孔喉下限在第三孔喉半径分布范围之内时，根据第一孔喉半径分布范围和可动流体分布孔喉下限，确定致密储层的物性下限，所述物性下限包括孔隙度下限和渗透率下限。
[0010]本专利技术实施例提出一种致密储层物性下限的确定装置，用以确定致密储层物性下
限，准确度高，该装置包括：
[0011]第一数据获得模块，用于获得致密储层的含油样品的第一孔喉半径分布范围和第二孔喉半径分布范围，所述第一孔喉半径分布范围是对含油样品进行压汞测试获得的，所述第二孔喉数据是对含油样品进行扫描电镜分析获得的；
[0012]第一分析模块，用于根据含油样品的第一孔喉半径分布范围和第二孔喉半径分布范围，确定致密储层的第三孔喉半径分布范围；
[0013]第二数据获得模块，用于获得致密储层的岩心样品的第一核磁T2弛豫谱累积曲线和第二核磁T2弛豫谱累积曲线，所述第一核磁T2弛豫谱累积曲线是对致密储层的饱和流体后的岩心样品进行核磁共振测试获得的；所述第二核磁T2弛豫谱累积曲线是对离心处理后的岩心样品进行核磁共振测试获得，所述离心处理后的岩心样品是通过对饱和流体后的岩心样品进行离心处理获得的；
[0014]第二分析模块，用于根据第一核磁T2弛豫谱累积曲线和第二核磁T2弛豫谱累积曲线，确定致密储层的可动流体分布孔喉下限；
[0015]物性下限确定模块，用于在可动流体分布孔喉下限在第三孔喉半径分布范围之内时，根据第一孔喉半径分布范围和可动流体分布孔喉下限，确定致密储层的物性下限，所述物性下限包括孔隙度下限和渗透率下限。
[0016]本专利技术实施例还提出了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述致密储层物性下限的确定方法。
[0017]本专利技术实施例还提出了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有执行上述致密储层物性下限的确定方法的计算机程序。
[0018]在本专利技术实施例中，获得致密储层的含油样品的第一孔喉半径分布范围和第二孔喉半径分布范围，所述第一孔喉半径分布范围是对含油样品进行压汞测试获得的，所述第二孔喉数据是对含油样品进行扫描电镜分析获得的；根据含油样品的第一孔喉半径分布范围和第二孔喉半径分布范围，确定致密储层的第三孔喉半径分布范围；获得致密储层的岩心样品的第一核磁T2弛豫谱累积曲线和第二核磁T2弛豫谱累积曲线，所述第一核磁T2弛豫谱累积曲线是对致密储层的饱和流体后的岩心样品进行核磁共振测试获得的；所述第二核磁T2弛豫谱累积曲线是对离心处理后的岩心样品进行核磁共振测试获得，所述离心处理后的岩心样品是通过对饱和流体后的岩心样品进行离心处理获得的；根据第一核磁T2弛豫谱累积曲线和第二核磁T2弛豫谱累积曲线，确定致密储层的可动流体分布孔喉下限；在可动流体分布孔喉下限在第三孔喉半径分布范围之内时，根据第一孔喉半径分布范围和可动流体分布孔喉下限，确定致密储层的物性下限，所述物性下限包括孔隙度下限和渗透率下限。在上述过程中，首先获得了压汞测试和扫描电镜分析输出的第一孔喉半径分布范围和第二孔喉半径分布范围，确定了致密储层的孔喉半径分布范围，然后，获得了两次核磁共振测试输出的第一核磁T2弛豫谱累积曲线和第二核磁T2弛豫谱累积曲线，从而确定了致密储层的可动流体分布孔喉下限，通过该过程获得的可动流体分布孔喉下限的精度高，最后确定致密储层的物性下限时，判断了可动流体分布孔喉下限是否在第三孔喉半径分布范围之内，通过该判断，保证了可动流体分布孔喉下限的准确度，因此，考虑了第一致密储层的孔喉半径分布范围和可动流体分布孔喉下限，获得的致密储层的物性下限准确度高。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
[0020]图1为本专利技术实施例中致密储层物性下限的确定方法的流程图；
[0021]图2为本专利技术实施例中注汞过程获得的孔喉半径分布范围的示意图；
[0022]图3为本专利技术实施例中退汞过程获得的孔喉半径分布范围的示意图；
[0023]图4为本专利技术实施例中氩离子抛光的含油样品的黑白图像的示意图；
[0024]图5为本专利技术实施例中扫描电镜获得的多个孔喉半径分布示意图；
[0025]图6为本专利技术实施例中可动流体与束缚流体分离点示意图；
[0026]图7为本专利技术实施例中孔隙度与渗透率的关系示意图；
[0027]图8为本专利技术实施例中渗透率和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种致密储层物性下限的确定方法，其特征在于，包括：获得致密储层的含油样品的第一孔喉半径分布范围和第二孔喉半径分布范围，所述第一孔喉半径分布范围是对含油样品进行压汞测试获得的，所述第二孔喉数据是对含油样品进行扫描电镜分析获得的；根据含油样品的第一孔喉半径分布范围和第二孔喉半径分布范围，确定致密储层的第三孔喉半径分布范围；获得致密储层的岩心样品的第一核磁T2弛豫谱累积曲线和第二核磁T2弛豫谱累积曲线，所述第一核磁T2弛豫谱累积曲线是对致密储层的饱和流体后的岩心样品进行核磁共振测试获得的；所述第二核磁T2弛豫谱累积曲线是对离心处理后的岩心样品进行核磁共振测试获得，所述离心处理后的岩心样品是通过对饱和流体后的岩心样品进行离心处理获得的；根据第一核磁T2弛豫谱累积曲线和第二核磁T2弛豫谱累积曲线，确定致密储层的可动流体分布孔喉下限；在可动流体分布孔喉下限在第三孔喉半径分布范围之内时，根据第一孔喉半径分布范围和可动流体分布孔喉下限，确定致密储层的物性下限，所述物性下限包括孔隙度下限和渗透率下限。2.如权利要求1所述的致密储层物性下限的确定方法，其特征在于，还包括：采集对含油样品进行压汞测试时注汞过程获得的孔喉半径分布范围和退汞过程获得的孔喉半径分布范围；根据注汞过程获得的孔喉半径分布范围和退汞过程获得的孔喉半径分布范围，获得含油样品的第一孔喉半径分布范围。3.如权利要求1所述的致密储层物性下限的确定方法，其特征在于，还包括：采集对氩离子抛光的含油样品进行扫描电镜拍摄获得的二次电子图像；将所述二次电子图像转化为黑白图像；计算黑白图像中每个孔喉的半径，多个孔喉的半径形成第二孔喉半径分布范围。4.如权利要求1所述的致密储层物性下限的确定方法，其特征在于，根据第一核磁T2弛豫谱累积曲线和第二核磁T2弛豫谱累积曲线，确定致密储层的可动流体分布孔喉下限，包括：确定第一核磁T2弛豫谱累积曲线和第二核磁T2弛豫谱累积曲线的分离点对应的弛豫时间；根据所述分离点对应的弛豫时间，确定致密储层的可动流体分布孔喉下限。5.如权利要求4所述的致密储层物性下限的确定方法，其特征在于，采用如下公式，根据所述分离点对应的弛豫时间，确定致密储层的可动流体分布孔喉下限：r＝C
·
T2其中，r为致密储层的可动流体分布孔喉下限；C为系数；T2为分离点对应的弛豫时间。6.如权利要求1所述的致密储层物性下限的确定方法，其特征在于，还包括：在可动流体分布孔喉下限不在第三孔喉半径分布范围之内时，重新执行以下步骤，直
至新的可动流体分布孔喉下限在第三孔喉半径分布范围之内：获得致密储层的岩心样品的新的第一核磁T2弛豫谱累积曲线和新的第二核磁T2弛豫谱累积曲线；根据新的第一核磁T2弛豫谱累积曲线和新的第二核磁T2弛豫谱累积曲线，确定新的致密储层的可动流体分布孔喉下限。7.如权利要求1所述的致密储层物性下限的确定方法，其特征在于，根据第一孔喉半径分布范围和可动流体分布孔喉下限，确定致密储层的物性下限，包括：根据第一孔喉半径分布范围，确定孔喉半径与孔隙度的拟合公式的拟合系数；将所述可动流体分布孔喉下限输入至所述拟合公式中，确定致密储层的孔隙度下限；根据致密储层的孔隙度下限，确定致密储层的渗透率下限。8.如权利要求7所述的致密储层物性下限的确定方法，其特征在于，根据第一孔喉半径分布范围，确定孔喉半径与孔隙度的拟合公式的拟合系数，包括：获得致密储层的第一孔喉半径分布范围内的多个孔喉中值半径对应的孔隙度；根据每个孔喉中值半径对应的孔隙度，确定孔喉半径与孔隙度的拟合公式的拟合系数。9.如权利要求8所述的致密储层物性下限的确定方法，其特征在于，孔喉半径与孔隙度的拟合公式如下：y＝1.5756ln(x)+9.9268其中，y为渗透率，x为孔喉半径。10.如权利要求7所述的致密储层物性下限的确定方法，其特征在于，根据致密储层的孔隙度下限，确定致密储层的渗透率下限，包括：确定孔隙度与渗透率的拟合公式；将所述孔隙度下限输入至所述拟合公式中，获得致密储层的渗透率下限。11.如权利要求10所述的致密储层物性下限的确定方法，其特征在于，孔隙度与渗透率的拟合公式如下：y＝1.7408ln(x)+15.264其中，y为孔隙度，x为渗透率。12.一种致密储层物性下限的确定装置，其特征在于，包括：第一数据获得模块，用于获得致密储层的含油样品的第一孔喉半径...

【专利技术属性】
技术研发人员：张世铭，王建功，张小军，张婷静，吴梁宇，王朴，
申请(专利权)人：中国石油天然气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：