一种液面探测限位装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种液面探测限位装置，包括槽型光耦、挡光片与第一电阻；所述槽型光耦包括信号发射端与信号接收端；所述信号发射端的第一端与高电平连接，第二端与低电平连接；所述信号接收端的第一端通过所述第一电阻与所述高电平连接，第二端与所述低电平连接；所述挡光片随所述探测结构移动，当所述探测结构到达液面极限位置时，所述挡光片到达所述槽型光耦的所述信号发射端与所述信号接收端之间，所述信号接收端的第一端由低电平变为高电平。通过此技术方案，将探测结构是否到达极限位置的检测转化为电学量的变化，准确且灵敏度高，当探测结构下降到极限位置时，可以迅速响应使探测结构停止下降，也不会损坏探测结构。也不会损坏探测结构。也不会损坏探测结构。

【技术实现步骤摘要】
一种液面探测限位装置


[0001]本专利技术涉及液面探测限位领域，尤其涉及一种液面探测限位装置。

技术介绍

[0002]现有CDA等仪器上使用的液面探测防撞装置为一个微动开关，需要探针在撞到实物后才能起到停止作用，且需要达到一定撞击力度微动开关才能闭合，将可能损坏探针，而且经过撞击后探针针体本身也有可能会因受力发生弯曲，导致位置偏移需重新调试归位，影响后续的检测，降低仪器的工作效率。因此，本专利技术提供一种液面探测限位模块，通过槽型光耦电路对探针是否下降到极限位置进行探测，转化为电学量后，检测灵敏度更高且准确，当探针下降到极限位置时，可以迅速响应使电机停止转动，准确探测的同时也不会损坏探针。

技术实现思路

[0003]为了解决上述问题，本专利技术的目的在于提供一种液面探测限位装置，通过槽型光耦电路对探测结构是否下降到极限位置进行探测，当探测结构下降到极限位置时，可以迅速响应使电机停止转动，探测结构停止下降，准确度高且更灵敏。
[0004]具体地，本专利技术一方面提供一种液面探测限位装置，其特征在于，包括槽型光耦、挡光片与本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种液面探测限位装置，其特征在于，包括槽型光耦、挡光片与第一电阻；所述槽型光耦包括信号发射端与信号接收端；所述信号发射端的第一端与高电平连接，第二端与低电平连接；所述信号接收端的第一端通过所述第一电阻与所述高电平连接，第二端与所述低电平连接；所述挡光片随探测结构移动，当所述探测结构到达液面极限位置时，所述挡光片到达所述槽型光耦的所述信号发射端与所述信号接收端之间，所述信号接收端的第一端的电压由低电平变为高电平。2.如权利要求1所述的液面探测限位装置，其特征在于，所述探测结构为探针。3.如权利要求1所述的液面探测限位装置，其特征在于，还包括第二电阻；所述第二电阻设置于所述信号发射端的第一端与所述高电平之间，限制流经所述信号发射端的电流大小。4.如权利要求1所述的液面探测限位装置，其特征在于，还包括高低电平检测模块；所...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷伟勇，
申请(专利权)人：昌微系统科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：