【技术实现步骤摘要】
用于检查设备的精密驱动滑台
[0001]本技术涉及一种关于检查设备的滑台
,特别是涉及一种用于检查设备的精密驱动滑台。
技术介绍
[0002]通常精密驱动滑台是应用于引线框架,半导体线路等,并且对光学仪器,电子/电气设备,各种机械设备的倾斜角度或者移动位置进行细微调整,控制位置的设备。尤其半导体的高集成化以及机器设备的越来越小,相关引线框架,线路或者部品件也随之变小,需要对被检查物品进行高倍放大检查的显微镜广泛得到应用。
[0003]同时,显微镜的高倍放大率导致在一次检查的视野范围越来越狭小,随之被检查物品需要在显微镜内进行对焦并且自由移动的需要,另外被检查物品非常薄或者有细微的纹路容易被损坏,把被检查物品放在搬运周转托盘,再把托盘放在精密驱动滑台上之后操作旋钮使被检测物品移动到所需要的精确位置。这样精密驱动滑台可以降低机械摩擦导致位置偏差,可以进行细微的位置移动,不受周边欢迎影响可以进行精密的位置控制。
[0004]通常,精密驱动滑台是由下方滑台本体,上方滑台本体和使下方滑台本体在上方滑台本体上进行直线运动的千分尺组成,为了防止滑台的接触面磨损,延长寿命配备交叉导轨导向使其在交叉方向进行滑行移动时通过滚珠的滚动动作实现精密的位置移动,避免滑台本体差生磨损。
[0005]另外,移动通讯终端设备性能检查单元和移动通讯终端设备接触时稳定的结合以及为了实现自动化开发出检查检查工装,依据当前技术检查工装包含上方中间可以使按照所定角度倾斜的限位装置,限位装置前方可以是突出但是上方是开放式的收容空间 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.用于检查设备的精密驱动滑台,其特征在于,包括下方滑台(100);上方滑台(200);所述下方滑台(100)和上方滑台(200)之间安装用于上方滑台(200)前后移动的XY轴移动调整组件(300);以及与所述XY轴移动调整组件(300)联动移动的用于调整所述上方滑台(200)的倾斜角调整组件(400),所述倾斜角调整组件(400)分别与下方滑台(100)和上方滑台(200)连接;所述XY轴移动调整组件(300)包括沿X轴前后移动的X轴调整组件(310);沿Y轴前后移动的Y轴调整组件(320);以及与所述X轴调整组件(310)及Y轴调整组件(320)连接的用于X轴或者Y轴前后移动的交叉单元(330);所述倾斜角调整组件(400)包括以所述上方滑台(200)的中心点X轴线为基准,且沿上方滑台(200)X轴线的两个侧面在Z轴方向上进行上下旋转的X轴倾斜角调整组件(400a);以所述上方滑台(200)的中心点Y轴线为基准,且沿上方滑台(200)Y轴线的两个侧面在Z轴方向上进行上下旋转的Y轴倾斜角调整组件(400b)。2.根据权利要求1所述的用于检查设备的精密驱动滑台,其特征在于,所述下方滑台(100)是固定在地面上的支撑板,支撑板的四个边角各自配备支撑台(110),每个所述支撑台(110)相互分离,通过下方滑台(100)中心点的X轴线的两侧边缘位置中各自形成所定大小的结合孔。3.根据权利要求1所述的用于检查设备的精密驱动滑台,其特征在于,所述上方滑台(200)是被检查物品的托盘,第一结合组件(210),设置在上方滑台(200)的下部;第一结合组件(210)上设置有插入X轴研磨杆(312)的第一贯穿孔,该第一贯穿孔与上方滑台平行;第一结合组件(210)的下端安装有第一滚珠支架(412)。4.根据权利要求1所述的用于检查设备的精密驱动滑台,其特征在于,所述X轴调整组件(310)包括沿上方滑台(200)X轴方向且在上方滑台(200)下部设置的X轴千分尺(311),X轴研磨杆(312),设置在X轴千分尺(311)的后端,X轴研磨杆(312)的后端设置有交叉单元(330),交叉单元(330)的后端设置有X轴铜杆(313),X轴铜杆(313)的后端设置有X轴弹簧(S1);第一辅助支架组件(316),与所述X轴千分尺(311)连接,第一辅助支架组件(316)用于支撑所述X轴千分尺(311)。5.根据权利要求1所述的用于检查设备的精密驱动滑台,其特征在于,所述Y轴调整组件(320)包括沿上方滑台(200)Y轴方向且在上方滑台(200)下部设置的Y轴千分尺(3...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈辉,李柱红,彭伟,
申请(专利权)人:东莞市诚鲲五金电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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