一种用于元器件测试的高频测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种用于元器件测试的高频测试装置，其包括测试板、固定件、微带线以及金属弹片，固定件为长方体结构，固定件固定在测试板上，金属弹片借助于固定件固定在测试板上形成金属探测针，金属弹片设置有两个；两个金属弹片的第一端部借助于固定件固定在微带线上，微带线固定在测试板上，两个金属弹片的第二个端部能够相对于测试板压下或弹起，与两个金属弹片的第二端部相对于的测试板的位置固定有待测物品，当两个金属弹片的第二端压下时，两个金属弹片的第二端与待测物品接触。其利用弹片结构代替传统的导电胶结构，具有较高的强度、耐受度和稳定性，并且具有测试效果好，测试精度高的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种用于元器件测试的高频测试装置
本技术涉及元器件测试领域，具体地涉及一种用于元器件测试的高频测试装置。
技术介绍
元器件测量装置用于对元器件的参数进行测量，一般用于元器件测试分选机中。元器件测试分选机在对元器件进行测量后，会将符合要求的元器件放置在一处，将不符合要求的元器件放置在另一处，从而实现对元器件的分选。现有的元器件测试装置通常采用导电胶与金属探测针结合，目前使用的导电胶是一胶状物与金属探测针的结合体，使用在元器件与测试板之间，可让微小且多脚位的元器件与测试板充分结合，达到验证元器件电器特性的目的。其主要存在以下问题：现有导电胶是一胶状物与金属针的结合体，踩位多次之后胶容易破碎、金属探测针会掉出来，导致元器件的电器特性测试不准确。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于元器件测试的高频测试装置，其利用弹片结构代替传统的导电胶结构，具有较高的强度、耐受度和稳定性，并且具有测试效果好，测试精度高的优点。具体地，本技术提供一种用于元器件测试的高频测试装置，其包括测试板、固定件、微带线以及金属弹片，所述微带线本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于元器件测试的高频测试装置，其特征在于：其包括测试板、固定件、微带线以及金属弹片，所述微带线的两端分别借助于SMA接头进行固定，所述固定件为长方体结构，所述固定件固定在测试板上，所述金属弹片借助于所述固定件固定在所述测试板上形成金属探测针，所述金属弹片设置有两个；/n两个金属弹片的第一端部借助于所述固定件固定在所述微带线上，所述微带线固定在所述测试板上，两个金属弹片的第二个端部能够相对于所述测试板压下或弹起，与两个金属弹片的第二端部相对于的测试板的位置固定有待测物品，所述待测物品固定在所述测试板上表面开设的凹槽内部，当两个金属弹片的第二端压下时，两个金属弹片的第二端与待测物品接触。/...

【技术特征摘要】
1.一种用于元器件测试的高频测试装置，其特征在于：其包括测试板、固定件、微带线以及金属弹片，所述微带线的两端分别借助于SMA接头进行固定，所述固定件为长方体结构，所述固定件固定在测试板上，所述金属弹片借助于所述固定件固定在所述测试板上形成金属探测针，所述金属弹片设置有两个；
两个金属弹片的第一端部借助于所述固定件固定在所述微带线上，所述微带线固定在所述测试板上，两个金属弹片的第二个端部能够相对于所述测试板压下或弹起，与两个金属弹片的第二端部相对于的测试板的位置固定有待测物品，所述待测物品固定在所述测试板上表面开设的凹槽内部，当两个金属弹片的第二端压下时，两个金属弹片的第二端与待测物品接触。


2.根据权利要求1所述的用于元器件测...

【专利技术属性】
技术研发人员：王洪洋，洪世勋，
申请(专利权)人：深圳飞特尔科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44