基于电子元件的红外测试系统技术方案

技术编号:29832950 阅读:24 留言:0更新日期:2021-08-27 14:22
本发明专利技术提供的电子元件的红外测试系统,存储单元、红外发射单元和红外接收单元分别连接至处理单元,电源单元为所述红外测试系统供电;红外发射单元用于发射预设的红外测试信号,红外接收单元用于接收电子元件的返回信号,并将返回信号传递给处理单元;所述返回信号包括响应脉冲和电子元件ID;处理单元用于生成所述红外测试信号,对返回信号进行分析,得到电子元件的测试结果。该系统可以对电子元件进行红外通讯功能的批量测试,缩短测试时间,提高测试效率,克服现有技术一个一个电子元件测试的弊端。

【技术实现步骤摘要】
基于电子元件的红外测试系统
本专利技术属于电子电路
,具体涉及基于电子元件的红外测试系统。
技术介绍
现有一些电子元件为了实现功能的拓展,集成了红外通讯功能。这类电子元件的红外通讯功能在生产过程中需要进行测试,确认电子元件的红外通讯功能是否正常。现有的测试方法是依次对每个电子元件进行红外测试,但是如果需要测试的电子元件数量较多,就会导致测试时间较长、测试效率低下。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷,本专利技术提供一种基于电子元件的红外测试系统,缩短测试时间,提高测试效率。一种电子元件的红外测试系统,包括处理单元、存储单元、红外发射单元、红外接收单元和电源单元;其中存储单元、红外发射单元和红外接收单元分别连接至处理单元,电源单元为所述红外测试系统供电;红外发射单元用于发射预设的红外测试信号,红外接收单元用于接收电子元件的返回信号,并将返回信号传递给处理单元;所述返回信号包括响应脉冲和电子元件ID;处理单元用于生成所述红外测试信号,对返回信号进行分析,得到电子元件的测试结果。优选地本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元件的红外测试系统,其特征在于,包括处理单元、存储单元、红外发射单元、红外接收单元和电源单元;/n其中存储单元、红外发射单元和红外接收单元分别连接至处理单元,电源单元为所述红外测试系统供电;/n红外发射单元用于发射预设的红外测试信号,红外接收单元用于接收电子元件的返回信号,并将返回信号传递给处理单元;所述返回信号包括响应脉冲和电子元件ID;/n处理单元用于生成所述红外测试信号,对返回信号进行分析,得到电子元件的测试结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种电子元件的红外测试系统,其特征在于,包括处理单元、存储单元、红外发射单元、红外接收单元和电源单元;
其中存储单元、红外发射单元和红外接收单元分别连接至处理单元,电源单元为所述红外测试系统供电;
红外发射单元用于发射预设的红外测试信号,红外接收单元用于接收电子元件的返回信号,并将返回信号传递给处理单元;所述返回信号包括响应脉冲和电子元件ID;
处理单元用于生成所述红外测试信号,对返回信号进行分析,得到电子元件的测试结果。


2.根据权利要求1所述电子元件的红外测试系统,其特征在于,
所述处理单元具体用于:从返回信息中分离出所述响应脉冲和电子元件ID;判断响应脉冲是否与预设的响应信号一致,如果是,设置该电子元件ID对应的测试结果为正常,否则,设置该电子元件ID对应的测试结果为异常。


3.根据权利要求2所述电子元件的红外测试系统,其特征在于,
所述响应信号与所述红外测试信号相对应。


4.根据权利要求1所述电子元件的红外测试系统,其特征在于,
所述存储单元包括存储器U1,存储器U1的型号为24C02;
存储器U1的第一管脚、第二管脚、第三管脚和第四管脚相互连接,且通过电容CX8连接至高电平;存储器U1的第八管脚连接至高电平;
存储器U1的第五管脚、第六管脚和第七管脚连接至处理单元。


5.根据权利要求1所述电子元件的红外测试系统,其特征在于,
所述红外发射单元包括红外发射头L4和三极管Q2;三极管Q2的漏极接地,三极管Q2的源极反...

【专利技术属性】
技术研发人员:乔雪娜陈乐
申请(专利权)人:平顶山聚新网络科技有限公司
类型:发明
国别省市:河南;41

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