一种布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法与装置。该方法包括：获取测量光谱信号，采用s‑g算法对测量光谱信号进行滤波处理，得到第一滤波光谱信号；基于k阶自相关算法对第一滤波光谱信号处理的k阶次结果，通过s‑g算法得到第二滤波光谱信号；从第二滤波光谱信号中选取一段不包含有效光谱信息的光谱带外的光谱数据，并采用最小二乘拟合算法进行线性拟合，得到拟合光谱信号，然后得到基于拟合光谱信号的基线值；若基线值达到布里渊光谱仪的系统噪声水平，则此时对应的自相关阶次k为最优自相关次数，基于最优自相关次数和第一滤波光谱信号，得到有效光谱成分。

【技术实现步骤摘要】
一种布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法与装置
本专利技术属于光谱分析领域，具体涉及一种布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法与装置。
技术介绍
本部分的陈述仅仅是提供了与本专利技术相关的
技术介绍
信息，不必然构成在先技术。针对光谱分辨率不足的现状，基于光纤受激布里渊效应的超高光谱分析技术是一种很有前途的技术路线。布里渊光谱仪采用选频放大滤波的方式，实现了待测光纤信号的光谱分光。可见，布里渊光谱仪测量得到的分光信号中，除了有效光谱外，还存在诸如待测光纤信号未放大带外组分、自发布里渊散射、自发辐射噪声等杂散信号基底。现有的利用受激布里渊效应偏振跟随特性移除测量光谱基底等方法，由于待测光纤信号未放大带外组分、自发布里渊散射、自发辐射噪声等杂散信号基底的偏振态分布的随机，无法实现高光学抑制的有效光谱成分提取，从而限制了布里渊光谱仪的可用动态范围，并影响了光谱分辨率、信噪比等指标。光谱分析是诸如通信、传感、分子光谱仪、微波生成等光学应用中的关键诊断工具，例如使用光学方法对光纤通信系统中传输的超高速率信号进行光谱参数测量，可以得到传输信号本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法，其特征在于，包括：/n获取测量光谱信号，采用s-g算法对测量光谱信号进行滤波处理，得到第一滤波光谱信号；/n基于k阶自相关算法对第一滤波光谱信号处理的k阶次结果，通过s-g算法得到第二滤波光谱信号；/n从第二滤波光谱信号中选取一段不包含有效光谱信息的光谱带外的光谱数据，并采用最小二乘拟合算法进行线性拟合，得到拟合光谱信号，然后得到基于拟合光谱信号的基线值；/n若基线值达到布里渊光谱仪的系统噪声水平，则此时对应的自相关阶次k为最优自相关次数，基于最优自相关次数和第一滤波光谱信号，得到有效光谱成分。/n

【技术特征摘要】
1.一种布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法，其特征在于，包括：
获取测量光谱信号，采用s-g算法对测量光谱信号进行滤波处理，得到第一滤波光谱信号；
基于k阶自相关算法对第一滤波光谱信号处理的k阶次结果，通过s-g算法得到第二滤波光谱信号；
从第二滤波光谱信号中选取一段不包含有效光谱信息的光谱带外的光谱数据，并采用最小二乘拟合算法进行线性拟合，得到拟合光谱信号，然后得到基于拟合光谱信号的基线值；
若基线值达到布里渊光谱仪的系统噪声水平，则此时对应的自相关阶次k为最优自相关次数，基于最优自相关次数和第一滤波光谱信号，得到有效光谱成分。


2.根据权利要求1所述的布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法，其特征在于，所述获取测量光谱信号之后，包括将dBm坐标系的测量光谱信号转换为mW坐标系的测量光谱信号。


3.根据权利要求1所述的布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法，其特征在于，所述得到有效光谱成分之后，包括：将mW坐标系的有效光谱成分转换为dBm坐标系的有效光谱成分。


4.根据权利要求1所述的布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法，其特征在于，所述采用s-g算法对测量光谱信号进行滤波处理的过程，通过测量测量光谱信号与s-g算法多项式系数做卷积实现。


5.根据权利要求1所述的布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法，其特征在于，所述k阶自相关算法对第一滤波光谱信号处理的k阶次结果的过程包括：第一滤波光谱信号的k阶自相关，通过每个采样点进行k次方处理实现，得到自相关处理的光谱信号。


6.根据权利要求1所述的布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法，其特征在于，所述基于最优自相关次数和第一滤波光谱信号，得到有效光谱成分的表达式为：
Spa(n)＝(Spf(n))k(1)
式中，Spa(n)为经自相关得到的有效光谱成分；Spf(n)为经s-g算法滤波光谱信号的第n个点；k为自相关阶次，对于同一...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘加庆，盛立文，杜特，陈豪强，宋平，刘志明，刘磊，李志增，吴威，项国庆，聂建华，闫继送，
申请(专利权)人：中电科思仪科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37