一种紧缩场测量系统技术方案

本发明专利技术实施例提供了一种紧缩场测量系统，涉及雷达信号处理技术领域，馈源与副反射面分别位于主反射面的两侧，且馈源位于副反射面的焦点位置，其中：馈源与副反射面在第一坐标系中的水平距离为第一预设距离，用于发射球面波；副反射面具有锯齿状边缘，与主反射面在第二坐标系中的水平距离为第二预设距离，用于接收球面波，并对球面波进行反射，使得球面波沿着反射后的方向继续传输；主反射面具有锯齿状边缘，用于接收经过副反射面反射的球面波，并对接收到的球面波进行反射，将球面波转化为近似平面波，发射近似平面波。应用本发明专利技术实施例提供的系统测量天线，能够减小对天线进行测量时的误差。

【技术实现步骤摘要】
一种紧缩场测量系统
本专利技术涉及雷达信号处理
，特别是涉及一种紧缩场测量系统。
技术介绍
远场测量是目前天线测量的主流方法，理想条件下的远场测量是通过发射天线发射平面波照射待测天线，从而获得待测天线相关特性的数据，完成天线测量。但由于实际中并不存在平面波，所以远场测量通常是将发射天线与待测天线之间的距离调整至足够远，使得球面波在被发射天线发射之后，经过远距离地传输，照射到待测天线的时候，能够被认为是近似平面波。但远距离传输会导致球面波严重衰减，且球面波也容易受到各种噪声影响。因此，需要提供一种紧缩场测量系统，以缩短对天线进行测量过程中波的传输距离，减小对天线进行测量的误差。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种紧缩场测量系统，以减小对天线进行测量时的误差。具体技术方案如下：在本专利技术实施的一个实施例中，提供了一种紧缩场测量系统，所述系统包括：馈源、主反射面和副反射面，所述馈源与副反射面分别位于所述主反射面的两侧，且所述馈源位于所述副反射面的焦点位置，其中：所述馈源与所述副反射面在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种紧缩场测量系统，其特征在于，所述系统包括：馈源、主反射面和副反射面，所述馈源与副反射面分别位于所述主反射面的两侧，且所述馈源位于所述副反射面的焦点位置，其中：/n所述馈源与所述副反射面在第一坐标系中的水平距离为第一预设距离，用于发射球面波，其中，所述第一坐标系为以副反射面为原点的空间直角坐标系；/n所述副反射面具有锯齿状边缘，与所述主反射面在第二坐标系中的水平距离为第二预设距离，用于接收所述球面波，并对所述球面波进行反射，使得所述球面波沿着反射后的方向继续传输，其中，所述第二坐标系为以所述主反射面为原点的空间直角坐标系；/n所述主反射面具有锯齿状边缘，用于接收经过所述副反射面反射的球面...

【技术特征摘要】
1.一种紧缩场测量系统，其特征在于，所述系统包括：馈源、主反射面和副反射面，所述馈源与副反射面分别位于所述主反射面的两侧，且所述馈源位于所述副反射面的焦点位置，其中：
所述馈源与所述副反射面在第一坐标系中的水平距离为第一预设距离，用于发射球面波，其中，所述第一坐标系为以副反射面为原点的空间直角坐标系；
所述副反射面具有锯齿状边缘，与所述主反射面在第二坐标系中的水平距离为第二预设距离，用于接收所述球面波，并对所述球面波进行反射，使得所述球面波沿着反射后的方向继续传输，其中，所述第二坐标系为以所述主反射面为原点的空间直角坐标系；
所述主反射面具有锯齿状边缘，用于接收经过所述副反射面反射的球面波，并对接收到的球面波进行反射，将所述球面波转化为近似平面波，发射所述近似平面波。


2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，
所述第一预设距离为：48.18米。


3.根据权利要求1或2所述的系统，其特征在于，
所述第二预设距离为：33.21米。


4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，
所述副反射面的锯齿状边缘与所述主反射面之间在所述第二坐标系中的最大竖直距离为8.8米、最小竖直距离为7.3米；
所述副反射面的锯齿状边缘与所述主反射面之间在第一方向上的最大距离为7.5米、在所述第一方向上的最小距离为6.0米，其中，所述第一方向为：与...

【专利技术属性】
技术研发人员：王卫民，陈雨夏，吴永乐，
申请(专利权)人：北京邮电大学，
类型：发明
国别省市：北京;11