一种半导体性能测试用双头探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体性能测试用双头探针，包括连接套，所述连接套的一侧外壁上焊接有斜套，且连接套的一侧内壁上开设有螺纹槽，所述连接套的一侧内壁上靠近螺纹槽的一侧位置处焊接有固定盘，所述连接套的内部设置有探针套，所述探针套的一端焊接有螺纹头，且探针套的内部滑动连接有第一滑座，所述第一滑座的一侧外壁上焊接有探针杆。该半导体性能测试用双头探针，通过连接套和探针套的相互配合，并在螺纹头与螺纹槽的螺纹旋合连接，可以便捷的将探针套内的探针杆拆卸取出，一方面便于对磨损的探针杆进行更换，提高探针杆更换的便捷，另一方面便于对拆卸后的探针充分清洗，保证探针内部清洗的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体性能测试用双头探针
本技术涉及探针
，具体为一种半导体性能测试用双头探针。
技术介绍
探针是用于测试PCBA的一种测试针，表面镀金，内部有平均寿命3万-10万次的高性能弹簧。但是，现有的半导体性能测试用双头探针大多不便于拆卸，这样在受到磨损或者清洗时，不便于将双头探针进行更换和清洗，拆卸不够便捷，现有的半导体性能测试用双头探针内部弹簧弹性回弹力是固定的，难以根据需求进行调节。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种半导体性能测试用双头探针，以解决上述
技术介绍
中提出现有的半导体性能测试用双头探针大多不便于拆卸，这样在受到磨损或者清洗时，不便于将双头探针进行更换和清洗，拆卸不够便捷，现有的半导体性能测试用双头探针内部弹簧弹性回弹力是固定的，难以根据需求进行调节的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体性能测试用双头探针，包括连接套，所述连接套的一侧外壁上焊接有斜套，且连接套的一侧内壁上开设有螺纹槽，所述连接套的一侧内壁上靠近螺纹槽的一侧位置处焊接有固定盘，所述连接套的内部设置有探针套，所述探针套的一端焊接有螺纹头，且探针套的内部滑动连接有第一滑座，所述第一滑座的一侧外壁上焊接有探针杆，所述探针杆上远离第一滑座的一端焊接有探针头，且探针杆相邻于第一滑座的一侧外壁上焊接有滑轨，所述探针套的内部靠近第一滑座的一侧位置处设置有弹簧，且探针套的内部靠近弹簧的一侧位置处滑动连接有第二滑座，所述第二滑座上远离弹簧的一侧外壁上焊接有内杆，所述内杆的外部套设有外杆，所述外杆的一侧外壁上通过螺纹旋合连接有紧固螺母，所述探针套的一侧内壁上靠近滑轨的一侧位置处开设有滑槽。优选的，所述斜套共设置有两个，且两个斜套对称设置在连接套的外壁上。优选的，所述滑轨嵌入在滑槽的内部，且滑轨与滑槽滑动连接。优选的，所述螺纹槽与螺纹头通过螺纹旋合连接。优选的，所述滑轨和探针套均共设置有四个，且四个滑轨和四个探针套分别对称设置在探针杆的一侧外壁上和探针套的一侧内壁上。优选的，所述斜套为空心锥台体结构。与现有技术相比，本技术的有益效果是：该半导体性能测试用双头探针，通过连接套和探针套的相互配合，并在螺纹头与螺纹槽的螺纹旋合连接，可以便捷的将探针套内的探针杆拆卸取出，一方面便于对磨损的探针杆进行更换，提高探针杆更换的便捷，另一方面便于对拆卸后的探针充分清洗，保证探针内部清洗的效果，通过调节外杆和内杆的长度，可以改变弹簧的弹性回弹力，保证双头探针的弹性适应需求。附图说明图1为本技术正视图；图2为本技术探针套内部结构示意图；图3为本技术探针套剖视图；图4为本技术探针套侧视图；图5为本技术连接套内部结构示意图。图中：1、连接套；2、斜套；3、螺纹槽；4、固定盘；5、探针套；6、螺纹头；7、第一滑座；8、探针杆；9、滑轨；10、探针头；11、弹簧；12、第二滑座；13、内杆；14、外杆；15、紧固螺母；16、滑槽。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-5，本技术提供一种技术方案：一种半导体性能测试用双头探针，包括连接套1，连接套1的一侧外壁上焊接有斜套2，且连接套1的一侧内壁上开设有螺纹槽3，连接套1的一侧内壁上靠近螺纹槽3的一侧位置处焊接有固定盘4，连接套1的内部设置有探针套5，探针套5的一端焊接有螺纹头6，且探针套5的内部滑动连接有第一滑座7，第一滑座7的一侧外壁上焊接有探针杆8，探针杆8上远离第一滑座7的一端焊接有探针头10，且探针杆8相邻于第一滑座7的一侧外壁上焊接有滑轨9，探针套5的内部靠近第一滑座7的一侧位置处设置有弹簧11，且探针套5的内部靠近弹簧11的一侧位置处滑动连接有第二滑座12，第二滑座12上远离弹簧11的一侧外壁上焊接有内杆13，内杆13的外部套设有外杆14，外杆14的一侧外壁上通过螺纹旋合连接有紧固螺母15，探针套5的一侧内壁上靠近滑轨9的一侧位置处开设有滑槽16。本技术中：斜套2共设置有两个，且两个斜套2对称设置在连接套1的外壁上；便于组装成双头探针。本技术中：滑轨9嵌入在滑槽16的内部，且滑轨9与滑槽16滑动连接；保证探针杆8在探针套5内移动的稳定性。本技术中：螺纹槽3与螺纹头6通过螺纹旋合连接；便于探针套5和连接套1连接在一起。本技术中：滑轨9和探针套5均共设置有四个，且四个滑轨9和四个探针套5分别对称设置在探针杆8的一侧外壁上和探针套5的一侧内壁上；进一步的保证探针杆8移动的稳定性。本技术中：斜套2为空心锥台体结构；便于探针套5贯穿通过斜套2。工作原理：在使用时，根据弹簧11所需的回弹力，调节内杆13和外杆14的长度，将内杆13在外杆14内伸缩调节，调节到所需的长度后，通过紧固螺母15与外杆14的旋合连接，转动紧固螺母15，紧固螺母15将内杆13固定，将外杆14放在探针套5内，通过螺纹头6与螺纹槽3的螺纹旋合连接，将探针套5旋紧固定在连接套1上，外杆14与连接套1内的固定盘4接触，通过外杆14和内杆13的支撑，第一滑座7和第二滑座12之间的弹簧11受到挤压，改变弹簧11的弹性回弹力，保证双头探针的弹性适应需求，通过滑轨9在滑槽16内的滑动，可以保证探针杆8移动的稳定性，当需要更换探针杆8时，将探针套5从连接套1内旋下，将探针杆8从探针套5内抽出，便于进行探针的更换。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。该文中出现的电器元件均与外界的主控器及220V市电电连接，并且主控器可为计算机等起到控制的常规已知设备。尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体性能测试用双头探针，包括连接套(1)，其特征在于：所述连接套(1)的一侧外壁上焊接有斜套(2)，且连接套(1)的一侧内壁上开设有螺纹槽(3)，所述连接套(1)的一侧内壁上靠近螺纹槽(3)的一侧位置处焊接有固定盘(4)，所述连接套(1)的内部设置有探针套(5)，所述探针套(5)的一端焊接有螺纹头(6)，且探针套(5)的内部滑动连接有第一滑座(7)，所述第一滑座(7)的一侧外壁上焊接有探针杆(8)，所述探针杆(8)上远离第一滑座(7)的一端焊接有探针头(10)，且探针杆(8)相邻于第一滑座(7)的一侧外壁上焊接有滑轨(9)，所述探针套(5)的内部靠近第一滑座(7)的一侧位置处设置有弹簧(11)，且探针套(5)的内部靠近弹簧(11)的一侧位置处滑动连接有第二滑座(12)，所述第二滑座(12)上远离弹簧(11)的一侧外壁上焊接有内杆(13)，所述内杆(13)的外部套设有外杆(14)，所述外杆(14)的一侧外壁上通过螺纹旋合连接有紧固螺母(15)，所述探针套(5)的一侧内壁上靠近滑轨(9)的一侧位置处开设有滑槽(16)。/n

【技术特征摘要】
1.一种半导体性能测试用双头探针，包括连接套(1)，其特征在于：所述连接套(1)的一侧外壁上焊接有斜套(2)，且连接套(1)的一侧内壁上开设有螺纹槽(3)，所述连接套(1)的一侧内壁上靠近螺纹槽(3)的一侧位置处焊接有固定盘(4)，所述连接套(1)的内部设置有探针套(5)，所述探针套(5)的一端焊接有螺纹头(6)，且探针套(5)的内部滑动连接有第一滑座(7)，所述第一滑座(7)的一侧外壁上焊接有探针杆(8)，所述探针杆(8)上远离第一滑座(7)的一端焊接有探针头(10)，且探针杆(8)相邻于第一滑座(7)的一侧外壁上焊接有滑轨(9)，所述探针套(5)的内部靠近第一滑座(7)的一侧位置处设置有弹簧(11)，且探针套(5)的内部靠近弹簧(11)的一侧位置处滑动连接有第二滑座(12)，所述第二滑座(12)上远离弹簧(11)的一侧外壁上焊接有内杆(13)，所述内杆(13)的外部套设有外杆(14)，所述外杆(14)的一侧外壁上通过螺纹旋合连接有紧固螺母(15)，所述探针套(5)的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王睿，
申请(专利权)人：哈尔滨卡伦纳科技有限公司，
类型：新型
国别省市：黑龙江;23