一种屏幕灰尘过滤方法技术

本发明专利技术公开了一种屏幕灰尘过滤方法，包括：1）第一阶段，准备阶段：提供待过滤的屏幕，在待过滤的屏幕的上表面旁侧布置至少一组侧光源，在待过滤的屏幕的上下两侧分别布置至少一组图像捕捉单元与背光源；2）第二阶段，图像采集阶段：获得单张上打光图像

【技术实现步骤摘要】
一种屏幕灰尘过滤方法
本专利技术涉及图像缺陷检测领域，特别涉及一种屏幕灰尘过滤方法。
技术介绍
在工业技术高速发展的今天，各种大小、型号、类型、结构的电子产品充斥着我们的日常生活，屏幕或显示面板更是电子产品中不可或缺的重要元器件，而在屏幕或显示面板生产完成到出厂过程中，对屏幕缺陷的检测是必不可少的。在研究和实现屏幕缺陷检测的过程中，研究人员发现现有技术中的屏幕检测方法存在如下问题：对于屏幕缺陷检测来说，人工检测耗时耗力，因此现有技术大部分基于机器视觉的自动化检测装置（AOI）对屏幕进行检测，而在屏幕的后段制程中，因生产环境中的粉尘掉落于屏幕面板上造成AOI将灰尘等异物当作缺陷检出，从而导致大量的误判，使得屏幕缺陷率高于真实水平，由此造成屏幕无谓的返工及产能浪费。有鉴于此，实有必要开发一种屏幕灰尘过滤方法，用以解决上述问题。
技术实现思路
为了克服上述灰尘过滤方法所存在的问题，本专利技术所要解决的技术问题是提供一种屏幕灰尘过滤方法，其解决了传统方法中不能同时识别并过滤背光源异物与下表面异物的问题，其不仅能够区分本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种屏幕灰尘过滤方法，其特征在于，包括以下步骤：/n1）第一阶段，准备阶段：/n提供待过滤的屏幕（11），在待过滤的屏幕（11）的上表面旁侧布置至少一组侧光源（14），在待过滤的屏幕（11）的上下两侧分别布置至少一组图像捕捉单元（13）与背光源（12）；/n2）第二阶段，图像采集阶段：/n在屏幕（11）上通过预定规则定位ROI，并生成ROI信息，根据所述ROI信息对屏幕（11）进行分割以获得至少一个有效检测区域，每组所述图像捕捉单元（13）与相应一个有效检测区域相对齐；/n每组图像捕捉单元（13）在所述侧光源（14）打开及所述背光源（12）关闭的状态下对相 应有效检测区域的上表面捕捉获得单...

【技术特征摘要】
1.一种屏幕灰尘过滤方法，其特征在于，包括以下步骤：
1）第一阶段，准备阶段：
提供待过滤的屏幕（11），在待过滤的屏幕（11）的上表面旁侧布置至少一组侧光源（14），在待过滤的屏幕（11）的上下两侧分别布置至少一组图像捕捉单元（13）与背光源（12）；
2）第二阶段，图像采集阶段：
在屏幕（11）上通过预定规则定位ROI，并生成ROI信息，根据所述ROI信息对屏幕（11）进行分割以获得至少一个有效检测区域，每组所述图像捕捉单元（13）与相应一个有效检测区域相对齐；
每组图像捕捉单元（13）在所述侧光源（14）打开及所述背光源（12）关闭的状态下对相
应有效检测区域的上表面捕捉获得单张上打光图像，或者在所述侧光源（14）关闭、屏幕
（11）通电及背光源（12）打开的状态下对相应有效检测区域的下表面捕捉获得单张下打光
图像，i=1,2,3…,n；
3）第三阶段，图像处理阶段：
图像预处理步骤：依次对单张上打光图像及单张下打光图像进行预处理以分别形
成单张上打光异物掩膜与单张下打光异物掩膜,i=1,2,3…,n；
掩膜合成步骤：将单张上打光异物掩膜与单张下打光异物掩膜进行合并以形成
单张过滤掩膜，并将若干个单张过滤掩膜按照第二阶段的分割规则进行整合以获得
总过滤掩膜，所述总过滤掩膜用于在后续的屏幕缺陷检测中过滤掉灰尘以防
止缺陷误判，其中，，i=1,2,3…,n。


2.如权利要求1所述的屏幕灰尘过滤方法，其特征在于，所述第三阶段中的图像预处理步骤包括如下步骤：
步骤S1，根据第二阶段中获得的ROI信息与有效检测区域以分别对单张上打光图像
及单张下打光图像依次进行转正和灰尘检测，以得到单张上打光异物掩膜与单张下
打光异物掩膜；
步骤S2，为去除掩膜中的噪声点对步骤S1获取的单个上打光异物掩膜与单个下打
光异物掩膜进行包含腐蚀与膨胀的形态学处理。


3.如权利要求2所述的屏幕灰尘过滤方法，其特征在于，在第三阶段的掩膜合成步骤中
将经形态学处理后的单张上打光异物掩膜与单张下打光异物掩膜进行逐像素或操
作，以合并得到单张过滤掩膜，i=1,2,3…,n。


4.如权利要求2所述的屏幕灰尘过滤方法，其特征在于，所述步骤S1包括以下步骤：
步骤S11，通过对有效区域的外扩内缩来对每个有效检测区域进行调整；
步骤S12，对单张上打光图像及单张下打光图像进行模糊处理并去噪；
步骤S13，对经步骤S12处理的单张下打光图像进行灰度闭操作，以抹去单张下打光
图像中的暗点，得到单张下打光对照图，i=1,2,3…,n；
步骤S14，将单张下打光对照图与相应的单张下打光图像相减，使得单张下打光
图像中的暗点区域亮起，得到相应的单张下打光响应图，i=1,2,3…,n；
步骤S15，对步骤S14中得到的单张下打光响应图求极大值的单张窗口均值图，i
=1,2,3…,n；
步骤S16，将步骤S14中得到的单张下打光响应图与步骤S15中得到的相应的单张窗
口均值图相减，以强...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：苏州高视半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32