【技术实现步骤摘要】
共聚焦扫描式暗场显微成像方法与装置
本专利技术涉及光学显微成像领域,具体地说,涉及一种共聚焦扫描式暗场显微成像方法与装置。
技术介绍
暗场显微镜是一种基于光学丁达尔效应的显微技术。照明光通过装载环形光阑的聚光镜,形成中空环形光锥。因为物镜的数值孔径小于聚光镜的数值孔径,样品的透射光无法通过物镜,只有小角度的散射光被物镜收集。由此形成了暗视野下亮物体的像,提高了成像对比度。在生命科学领域,暗场显微镜用于观察未染色的透明样品;在化学、材料科学领域,使用光谱仪分析暗场显微镜收集的散射光研究材料的散射光谱。
技术实现思路
本专利技术提供了一种共聚焦扫描式暗场显微成像方法与装置,本专利技术与传统的宽场暗场显微镜相比,共聚焦式的设计具有低背景噪声、优秀的层析能力等特点。本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的:本专利技术一方面提供了一种共聚焦扫描式暗场显微成像方法,该方法包括:通过调制器将激光器发出的激光光束的相位调制成0-2nπ涡旋相位,其中n>3;将调制后的光束与共聚焦扫描显微镜 ...
【技术保护点】
1.一种共聚焦扫描式暗场显微成像方法,其特征在于,该方法包括:/n通过调制器将激光器发出的激光光束的相位调制成0-2nπ涡旋相位,其中n>3;/n将调制后的光束与共聚焦扫描显微镜的物镜入瞳共轭,使得物镜的聚焦光斑为空心光斑,且空心光斑内环半径大于不进行相位调制时的实心光斑半径;/n使共聚焦扫描显微镜工作,实现暗场显微成像。/n
【技术特征摘要】
1.一种共聚焦扫描式暗场显微成像方法,其特征在于,该方法包括:
通过调制器将激光器发出的激光光束的相位调制成0-2nπ涡旋相位,其中n>3;
将调制后的光束与共聚焦扫描显微镜的物镜入瞳共轭,使得物镜的聚焦光斑为空心光斑,且空心光斑内环半径大于不进行相位调制时的实心光斑半径;
使共聚焦扫描显微镜工作,实现暗场显微成像。
2.根据权利要求1所述的一种共聚焦扫描式暗场显微成像方法,其特征在于,调制相位的具体方法为:
将激光器发出的激光光束准直后用起偏器转为P分量的线偏光入射到液晶空间光调制器;
调节液晶空间光调制器出射平面与共聚焦扫描显微镜的物镜入瞳共轭;在液晶空间光调制器上加载0-2nπ涡旋相位。
3.根据权利要求2所述的一种共聚焦扫描式暗场显微成像方法,其特征在于,在起偏器后设置二分之一波片,激光光束通过起偏器后再通过一个二分之一波片转为P分量的线偏光,使液晶空间光调制器对该偏振光作纯相位调制;
所述P分量的线偏光入射液晶空间光调制器前使用一个D形镜转折光路,以减小入射角,改善液晶空间光调制器的性能。
4.根据权利要求2所述的一种共聚焦扫描式暗场显微成像方法,其特征在于,所述液晶空间光调制器使用泽尼克多项式校正像差,从而改善空心光斑的质量。
5.根据权利要求1所述的一种共聚焦扫描式暗场显微成像方法,其特征在于,在物镜前设置四分之一波片,将光束用四分之一波片转为圆偏光后入射到物镜,提高用于扫描样品的空心光斑质量。
6.根据权利要求1所述的一种共聚焦扫描式暗场显微成像方法,其特征在于,所述共聚焦扫描显微镜的工作过程具体为:
控制扫描机构使得空心光斑在样品表面扫描;所述扫描机构为扫描振镜或电控移动样品台;
样品的反射光经过透镜聚焦在与物共轭的小孔上,反射光被探测器接收,获得暗场照明下的光强度分布。
7.根据权利要求1-6任一项所述的一种共聚焦扫描式暗场显微成像方法,其特...
【专利技术属性】
技术研发人员:匡翠方,邱宇轩,张宇森,刘旭,
申请(专利权)人:浙江大学,
类型:发明
国别省市:浙江;33
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