基于可制造性设计仿真器的检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于可制造性设计仿真器的检测方法及系统，所述检测方法包括：获取采集数据；转换采集数据为检测数据，并存储所述检测数据至临时存储区；以及在第一预设周期时长内分析所述临时存储区中的检测数据，并且在第二预设周期时长内存储所述检测数据至最终存储位置；其中第一预设周期时长大于第二预设周期时长。本发明专利技术提供的可制造性设计仿真器的检测方法及系统能够自动化进行逻辑板的可制造性检测，同时提高了检测效率，解决了逻辑板检测成本高、检测效率低的问题。

【技术实现步骤摘要】
基于可制造性设计仿真器的检测方法及系统
本专利技术涉及电子设计领域，具体涉及一种基于可制造性设计仿真器的检测方法及系统。
技术介绍
在用户的日常生活中会使用到各种各样的电子产品，故电子产品的可靠性直接与用户的安全性相关。目前大多数企业中的初级设计工程师并没有丰富的设计经验，为保证电子设计的可制造性和可靠性，只能通过可制造性设计仿真器对电子产品进行可制造性(DesignForManufacturability，简称DFM)检测，但该种方式需人工校对，降低了操作者的工作效率。现有的DFM检测需要大量的人力、物力，且流程较为复杂。因此，亟需一种基于可制造性设计仿真器的检测方法，以解决上述问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供一种基于可制造性设计仿真器的检测方法及系统，以解决DFM检测成本高、检测时间长的问题。为实现上述目的，本专利技术实施例提供了一种基于可制造性设计仿真器的检测方法，所述检测方法包括：获取采集数据；转换采集数据为检测数据，并存储所述检测数据至临时存储区；以及在第一预设周期时长内分析所述临时存储区中的检测数据，并且在第二预设周期时长内存储所述检测数据至最终存储位置；其中第一预设周期时长大于第二预设周期时长。进一步地，所述获取采集数据的步骤，包括：在第三预设周期时长内执行以下步骤；判断采集次数是否小于预设次数；当判定采集次数小于预设次数时，获取采集数据，并且累计所述采集次数，再重新执行所述判断采集次数是否小于预设次数的步骤；其中所述采集数据包括电压数据和/或时长数据，第三预设周期时长大于第二预设周期时长。进一步地，在所述判断采集次数是否小于预设次数的步骤中，当判定采集次数等于预设次数时，重置所述采集次数，并执行所述转换采集数据为检测数据的步骤，并且。进一步地，所述当判定采集次数小于预设次数时，获取采集数据，并且累计所述采集次数，以及重新执行所述判断采集次数是否小于预设次数的步骤，包括：根据预设时长，并通过所述可制造性设计仿真器的不同采集通道获取采集数据。进一步地，所述时长数据为所述可制造性设计仿真器的不同采集通道之间的上电时间差或下电时间差。进一步地，所述在第一预设周期时长内分析所述临时存储区中的检测数据，并且在第二预设周期时长内存储所述检测数据至最终存储位置的步骤，包括：判断所述检测数据是否在预设电压范围和/或预设时长范围内；当判定所述检测数据未在所述预设电压范围和/或所述预设时长范围内时，相应地输出异常标识。进一步地，所述在第一预设周期时长内分析所述临时存储区中的检测数据，并且在第二预设周期时长内存储所述检测数据至最终存储位置的步骤，还包括：根据第二预设周期时长存储检测数据和/或工作状态标识至最终存储位置，其中所述工作状态标识包括异常标识。进一步地，所述转换采集数据为检测数据，并存储所述检测数据至临时存储区的步骤，包括：实时显示转换后的检测数据。进一步地，在所述获取采集数据的步骤之前，包括：设置采样频率，其中所述采样频率用以调整所述可制造性设计仿真器所显示的可视化波形的形状。本专利技术实施例还提供了一种基于可制造性设计仿真器的检测系统，包括：采集单元，用以获取采集数据；转换单元，用以转换采集数据为检测数据；第一存储单元，用以存储所述检测数据至临时存储区；分析单元，用以在第一预设周期时长内分析所述临时存储区中的检测数据；以及第二存储单元，用以在第二预设周期时长内存储所述检测数据至最终存储位置，其中第一预设周期时长大于第二预设周期时长。本专利技术实施例提供的可制造性设计仿真器的检测方法及系统通过将采集数据存储至最终存储位置的方式，保证了数据的可追溯性。由于存储检测数据至最终存储位置流程的实际耗时相较获取采集数据流程的实际耗时短，故当第一预设周期时长与第二预设周期时长相等时，会导致存储检测数据至最终存储位置流程已完成，但仍旧未执行下一流程，进而造成了检测时间的浪费。本专利技术实施例提供的检测方法有效减少了存储检测数据至最终存储位置流程在检测方法中的耗时占比，使得可制造性设计仿真器能够有更多的时间进行采集与分析流程，进而缩短了检测时间。同时由于本专利技术实施例提供的检测方法及系统可实现逻辑板的自动检测，大大减少了人力成本。经过本专利技术实施例提供的检测方法检测的逻辑板可保证自身的良品率。附图说明下面结合附图，通过对本专利技术的具体实施方式详细描述，将使本专利技术的技术方案及其它有益效果显而易见。图1为本专利技术一实施例提供的基于可制造性设计仿真器的检测方法的流程图。图2为图1所示步骤S100的子流程图。图3为本专利技术一实施例提供的基于可制造性设计仿真器的检测系统的结构示意图。附图标记说明：附图标记部件名称附图标记部件名称100检测系统110采集单元120转换单元130第一存储单元140分析单元150第二存储单元具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本实施例提供了一种基于可制造性设计仿真器的检测方法，所述检测方法包括以下步骤。步骤S100、获取采集数据。其中，采集数据包括电压数据和/或时长数据。具体地，该采集数据通过可制造性设计仿真器采集待检测逻辑板获得。可选地，步骤S100之前还包括设置采样频率的步骤。所述采样频率用以调整可制造性设计仿真器所显示的可视化波形的形状。示例性地，该采样频率由用户根据实际需求进行设置，采样频率越高，可视化波形越密集，采样频率越低，可视化波形越稀疏。进一步地，该步骤还包括子步骤S110至S120。步骤S110、在第三预设周期时长内，判断采集次数是否小于预设次。第三预设周期时长大于第二预设周期时长。关于第二预设周期时长和第三预设周期时长，会于下文作进一步的描述。在本实施例中，预设次数可通过用户进行设置，本实施例不对预设次数的具体次数做限定。示例性地，预设次数越高，转换后的检测数据越具有代表性，但检测流程的耗时会相应增加。预设次数越低，转换后的检测数据越不具代表性，但检测流程的耗时会相应降低。厂商可根据实际需求在逻辑板良率与检测耗时之间抉择。步骤S120、当判定采集次数小于预设次数时，获取采集数据，并且累计采集次数，以及重新执行判断采集次数是否小于预设次数的步骤。当判定采集次数等于预设次数时，重置所述采集次数，并执行所述转换采集数据为检测数据的步骤。示例性地，采集次数即是获取的采集数据的数量，当然两者的比例也可为其他比例。例如：采集次数每增加一次时获取两个采集数据。具体地，在获取采集数据的步骤中根据预设时长，并通过所述可制造性设计仿真器的不同采集通道获取采集数据。例如：将可制造性设计仿真器的72MHz主频进行6分频(也可进行4分频)，分频后12MH本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于可制造性设计仿真器的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：/n获取采集数据；/n转换采集数据为检测数据，并存储所述检测数据至临时存储区；以及/n在第一预设周期时长内分析所述临时存储区中的检测数据，并且在第二预设周期时长内存储所述检测数据至最终存储位置；其中第一预设周期时长大于第二预设周期时长。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于可制造性设计仿真器的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：
获取采集数据；
转换采集数据为检测数据，并存储所述检测数据至临时存储区；以及
在第一预设周期时长内分析所述临时存储区中的检测数据，并且在第二预设周期时长内存储所述检测数据至最终存储位置；其中第一预设周期时长大于第二预设周期时长。


2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述获取采集数据的步骤，包括：
在第三预设周期时长内执行以下步骤；
判断采集次数是否小于预设次数；
当判定采集次数小于预设次数时，获取采集数据，并且累计所述采集次数，以及重新执行所述判断采集次数是否小于预设次数的步骤；其中所述采集数据包括电压数据和/或时长数据，第三预设周期时长大于第二预设周期时长。


3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，在所述判断采集次数是否小于预设次数的步骤中，当判定采集次数等于预设次数时，重置所述采集次数，并执行所述转换采集数据为检测数据的步骤。


4.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述当判定采集次数小于预设次数时，获取采集数据，并且累计所述采集次数，以及重新执行所述判断采集次数是否小于预设次数的步骤，包括：根据预设时长，并通过所述可制造性设计仿真器的不同采集通道获取采集数据。


5.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述时长数据为所述可制造性设计仿真器的不同采集通道之间的上电时间差或下电时间差。


6.如权利要求1所述的检测方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏文浩，吕宇轩，赖永康，梅健，冯慈铵，黄嘉荣，陈炳红，王伟，
申请(专利权)人：TCL王牌电器惠州有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44