用于制造显示装置的装置和方法以及测量微滴的方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了用于制造显示装置的装置和方法以及测量微滴的方法。用于制造显示装置的装置包括：至少一个测试台，微滴被设置在至少一个测试台上；至少一个轮廓测量部，与至少一个测试台相邻设置，以测量至少一个测试台的表面轮廓以及设置在至少一个测试台上的微滴的表面轮廓；以及控制器，电连接至至少一个轮廓测量部，以根据至少一个测试台的表面轮廓与设置在至少一个测试台上的微滴的表面轮廓之间的差异来测量微滴的体积。

【技术实现步骤摘要】
用于制造显示装置的装置和方法以及测量微滴的方法相关申请的交叉引用本申请要求2020年2月14日递交韩国知识产权局的韩国专利申请第10-2020-0018570号的优先权和权益，其全部内容通过引用合并于此。
一个或多个实施例涉及方法和装置，并且涉及用于制造显示装置的装置、测量微滴的方法以及制造显示装置的方法。
技术介绍
基于移动性的电子设备被广泛使用。作为移动电子设备，除了诸如移动电话的小型电子设备之外，平板个人计算机(PC)近来已经被广泛使用。这种移动电子设备可以通常包括显示装置，显示装置向用户提供各种功能，即诸如图像或视频的视觉信息。近来，显示装置在电子设备中的重要性正在提高，并且还开发了在展平时可以弯曲成具有特定角度或预定角度的结构。显示装置可以包括各种层，并且各种工艺可以被用于形成各种层。在有机材料被用在显示装置的各种层中的情况下，有机材料可以被堆叠，或结构可以通过印刷工艺而形成。在印刷工艺期间，诸如显示装置的分辨率的因素可以依赖于如何形成有机材料微滴的图案来确定，并且因此，通常可以预先将有机材料微滴排放到测试台，然后再排放到基板。应理解，该
技术介绍
部分部分地旨在提供用于理解技术的有用背景。但是，该
技术介绍
部分还可能包括在本文公开的主题的对应有效申请日之前相关领域的技术人员不知道或不了解的思想、概念或认识。
技术实现思路
一个或多个实施例包括一种测量微滴的方法，通过该方法，微滴的体积可以通过反映至少一个测试台的表面轮廓来精确地测量。一个或多个实施例可以包括一种用于制造显示装置的方法和装置，通过该方法和装置，可以通过反映如上所述准确测量的微滴的体积来将微滴准确排放到或设置在基板上。另外的方面将被部分地阐明在随后的描述中，并且部分地根据这些描述显而易见，或者可以通过实践本公开呈现的实施例而获知。根据一个或多个实施例，用于制造显示装置的装置可以包括：至少一个测试台，微滴可以被设置在至少一个测试台上；至少一个轮廓测量部，与至少一个测试台相邻设置，以测量至少一个测试台的表面轮廓以及设置在至少一个测试台上的微滴的表面轮廓；以及控制器，电连接至至少一个轮廓测量部，以根据至少一个测试台的表面轮廓与设置在至少一个测试台上的微滴的表面轮廓之间的差异来测量微滴的体积。至少一个轮廓测量部可以包括第一轮廓测量部和第二轮廓测量部，至少一个测试台可以包括第一测试台和第二测试台，第一轮廓测量部可以测量第一测试台的表面轮廓，并且第二轮廓测量部可以测量第二测试台的表面轮廓。至少一个轮廓测量部可以包括第一轮廓测量部和第二轮廓测量部，第一轮廓测量部可以测量至少一个测试台的第一区域的表面轮廓，并且第二轮廓测量部可以测量至少一个测试台的第二区域的表面轮廓。该装置可以进一步包括至少一个尺寸测量部，至少一个尺寸测量部可以测量设置在至少一个测试台上的微滴的尺寸，其中控制器可以根据至少一个测试台的表面轮廓以及由至少一个尺寸测量部测量的微滴的尺寸来测量微滴的体积。至少一个轮廓测量部可以包括第一轮廓测量部和第二轮廓测量部，并且至少一个尺寸测量部可以包括第一尺寸测量部和第二尺寸测量部。至少一个测试台可以包括第一测试台和第二测试台，第一轮廓测量部和第一尺寸测量部可以分别测量第一测试台的表面轮廓和设置在第一测试台上的微滴的尺寸，并且第二轮廓测量部和第二尺寸测量部可以分别测量第二测试台的表面轮廓和设置在第二测试台上的微滴的尺寸。第一轮廓测量部和第一尺寸测量部可以分别测量至少一个测试台的第一区域的表面轮廓和设置在第一区域上的微滴的尺寸，并且第二轮廓测量部和第二尺寸测量部可以分别测量至少一个测试台的第二区域的表面轮廓和设置在第二区域上的微滴的尺寸。至少一个测试台可以包括可供给膜的膜供给器以及可收集膜的膜收集器，微滴可以被设置在膜上。该装置可以进一步包括微滴排放器，微滴排放器可以将微滴排放到至少一个测试台。根据一个或多个实施例，测量微滴的方法可以包括：测量至少一个测试台的表面轮廓；将微滴设置在至少一个测试台上；测量设置在至少一个测试台上的微滴的表面轮廓；以及根据至少一个测试台的表面轮廓与设置在至少一个测试台上的微滴的表面轮廓之间的差异来测量微滴的体积。至少一个测试台可以包括第一测试台和第二测试台，并且当测量第一测试台的表面轮廓时，设置在第二测试台上的微滴的表面轮廓可以被测量。至少一个测试台可以包括第一测试台和第二测试台，并且第一测试台的表面轮廓和第二测试台的表面轮廓可以被同时测量。表面轮廓的测量可以包括：测量至少一个测试台的第一区域的表面轮廓；以及测量至少一个测试台的第二区域的表面轮廓。微滴的体积的测量可以进一步包括：测量设置在至少一个测试台上的微滴的尺寸；以及根据至少一个测试台的表面轮廓和设置在至少一个测试台上的微滴的尺寸来测量微滴的体积。至少一个测试台可以包括第一测试台和第二测试台，并且当测量第一测试台的表面轮廓时，设置在第二测试台上的微滴的尺寸可以被测量。至少一个测试台可以包括第一测试台和第二测试台，并且设置在第一测试台上的微滴的尺寸和设置在第二测试台上的微滴的尺寸可以被同时测量。微滴的体积的测量可以进一步包括：测量至少一个测试台的第一区域的表面轮廓和至少一个测试台的第二区域的表面轮廓；以及测量设置在第一区域上的微滴的尺寸和设置在第二区域上的微滴的尺寸。微滴在至少一个测试台上的设置可以包括：将微滴排放到至少一个测试台的膜；以及收集膜。根据一个或多个实施例，制造显示装置的方法可以包括：测量至少一个测试台的表面轮廓；将微滴设置在至少一个测试台上；测量设置在至少一个测试台上的液滴的表面轮廓；根据至少一个测试台的表面轮廓与设置在至少一个测试台上的微滴的表面轮廓之间的差异来测量微滴的体积；以及根据测量的微滴的体积，将微滴排放到基板。至少一个测试台可以包括第一测试台和第二测试台，并且当测量第一测试台的表面轮廓时，设置在第二测试台上的微滴的表面轮廓可以被测量。至少一个测试台可以包括第一测试台和第二测试台，并且第一测试台的表面轮廓和第二测试台的表面轮廓可以被同时测量。表面轮廓的测量可以包括测量至少一个测试台的第一区域的表面轮廓；以及测量至少一个测试台的第二区域的表面轮廓。排放的微滴的体积的测量可以进一步包括：测量设置在至少一个测试台上的微滴的尺寸；以及根据至少一个测试台的表面轮廓和设置在至少一个测试台上的微滴的尺寸来测量排放的微滴的体积。至少一个测试台可以包括第一测试台和第二测试台，并且当测量第一测试台的表面轮廓时，设置在第二测试台上的微滴的尺寸可以被测量。至少一个测试台可以包括第一测试台和第二测试台，并且设置在第一测试台上的微滴的尺寸和设置在第二测试台上的微滴的尺寸可以被同时测量。微滴的体积的测量可以包括：测量至少一个测试台的第一区域的表面轮廓和至少一个测试台的第二区域的表面轮廓；以及测量设置在第一区域上的微滴的尺寸和设置在第二区域上的微滴本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于制造显示装置的装置，所述装置包括：/n至少一个测试台，微滴被设置在所述至少一个测试台上；/n至少一个轮廓测量部，与所述至少一个测试台相邻设置，以测量所述至少一个测试台的表面轮廓以及设置在所述至少一个测试台上的所述微滴的表面轮廓；以及/n控制器，电连接至所述至少一个轮廓测量部，以根据所述至少一个测试台的所述表面轮廓与设置在所述至少一个测试台上的所述微滴的所述表面轮廓之间的差异来测量所述微滴的体积。/n

【技术特征摘要】
20200214 KR 10-2020-00185701.一种用于制造显示装置的装置，所述装置包括：
至少一个测试台，微滴被设置在所述至少一个测试台上；
至少一个轮廓测量部，与所述至少一个测试台相邻设置，以测量所述至少一个测试台的表面轮廓以及设置在所述至少一个测试台上的所述微滴的表面轮廓；以及
控制器，电连接至所述至少一个轮廓测量部，以根据所述至少一个测试台的所述表面轮廓与设置在所述至少一个测试台上的所述微滴的所述表面轮廓之间的差异来测量所述微滴的体积。


2.根据权利要求1所述的装置，其中：
所述至少一个轮廓测量部包括第一轮廓测量部和第二轮廓测量部，
所述至少一个测试台包括第一测试台和第二测试台，
所述第一轮廓测量部测量所述第一测试台的表面轮廓，并且
所述第二轮廓测量部测量所述第二测试台的表面轮廓。


3.根据权利要求1所述的装置，其中：
所述至少一个轮廓测量部包括第一轮廓测量部和第二轮廓测量部，
所述第一轮廓测量部测量所述至少一个测试台的第一区域的表面轮廓，并且
所述第二轮廓测量部测量所述至少一个测试台的第二区域的表面轮廓。


4.一种用于制造显示装置的装置，所述装置包括：
至少一个测试台，微滴被设置在所述至少一个测试台上；
至少一个轮廓测量部，与所述至少一个测试台相邻设置，以测量所述至少一个测试台的表面轮廓；
至少一个尺寸测量部，用于测量设置在所述至少一个测试台上的所述微滴的尺寸；以及
控制器，电连接至所述至少一个轮廓测量部和所述至少一个尺寸测量部，
其中所述控制器根据所述至少一个测试台的所述表面轮廓以及由所述至少一个尺寸测量部测量的所述微滴的所述尺寸来测量所述微滴的体积。


5.根据权利要求4所述的装置，其中：
所述至少一个轮廓测量部包括第一轮廓测量部和第二轮廓测量部，并且
所述至少一个尺寸测量部包括第一尺寸测量部和第二尺寸测量部。


6.根据权利要求5所述的装置，其中：
所述至少一个测试台包括第一测试台和第二测试台，
所述第一轮廓测量部和所述第一尺寸测量部分别测量所述第一测试台的表面轮廓和设置在所述第一测试台上的微滴的尺寸，并且
所述第二轮廓测量部和所述第二尺寸测量部分别测量所述第二测试台的表面轮廓和设置在所述第二测试台上的微滴的尺寸。


7.根据权利要求5所述的装置，其中：
所述第一轮廓测量部和所述第一尺寸测量部分别测量所述至少一个测试台的第一区域的表面轮廓和设置在所述第一区域上的微滴的尺寸，并且
所述第二轮廓测量部和所述第二尺寸测量部分别测量所述至少一个测试台的第二区域的表面轮廓和设置在所述第二区域上的微滴的尺寸。


8.根据权利要求1或4所述的装置，其中，所述至少一个测试台包括：
供给膜的膜供给器，所述微滴被设置在所述膜上；以及
收集所述膜的膜收集器。

【专利技术属性】
技术研发人员：韩政洹，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR