【技术实现步骤摘要】
一种微电子器件检测平台
本专利技术属于微电子器件检测
,具体涉及一种微电子器件检测平台。
技术介绍
微电子器件是利用微电子工艺技术实现的微型化电子系统芯片和器件,在使用时,一般把微电子器件安装在电路板上,这样可以使电路和器件的性能、可靠性大幅度提高,体积和成本大幅度降低,微电子器件在使用出现故障后,通常用户会将这些电路板送至专业的维修部门进行检修,维修人员在进行维修之前需要对电路板上的微电子器件进行多方面检测,从而寻找其无法正常工作的原因。在检测前,为避免被检测的电路板上的微电子器件移动,需先把电路板夹持在检测平台上,而在对微电子器件进行局部放大检测时,则需要移动安装有微电子器件的电路板,但在夹持完成后,电路板无法移动,出现了不方便对安装有微电子器件的电路板的不同部位进行检测的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是:旨在提供一种微电子器件检测平台,用来解决现有的检测平台结构缺陷导致的安装有微电子器件的电路板夹持完成后电路板无法移动,不方便对安装有微电子器件的电路板的不同部位进行检测的问题。为实现上述技术目的,本专利技术采用的技术方案如下:一种微电子器件检测平台,包括底板,所述底板上纵向开设有若干第一槽孔,所述底板上纵向开设有若干第一矩形槽,所述第一矩形槽位于第一槽孔上方、且与第一槽孔相连通,所述底板上横向开设有若干第二槽孔,所述底板上横向开设有若干第二矩形槽,所述第二矩形槽位于第二槽孔上方、且与第二槽孔相连通,所述第一槽孔和第二槽孔相连通,所述第一矩形槽和第二矩形槽 ...
【技术保护点】
1.一种微电子器件检测平台,其特征在于:包括底板(1),所述底板(1)上纵向开设有若干第一槽孔(11),所述底板(1)上纵向开设有若干第一矩形槽(111),所述第一矩形槽(111)位于第一槽孔(11)上方、且与第一槽孔(11)相连通,所述底板(1)上横向开设有若干第二槽孔(12),所述底板(1)上横向开设有若干第二矩形槽(121),所述第二矩形槽(121)位于第二槽孔(12)上方、且与第二槽孔(12)相连通,所述第一槽孔(11)和第二槽孔(12)相连通,所述第一矩形槽(111)和第二矩形槽(121)相连通,所述第一槽孔(11)和第二槽孔(12)均由上下两个相同的半圆槽和位于两个半圆槽中部的矩形槽构成,所述底板(1)于第一槽孔(11)和第二槽孔(12)底部均匀开设有若干矩形盲孔(220),所述底板(1)上方设有平板(20),所述平板(20)下端面设有多根连接杆(21),所述连接杆(21)位于第一矩形槽(111)和第二矩形槽(121)内,所述连接杆(21)下端连接有球体(210),所述球体(210)位于第一槽孔(11)和第二槽孔(12)内,所述球体(210)底部固定设有矩形凸柱(22),所 ...
【技术特征摘要】
1.一种微电子器件检测平台,其特征在于:包括底板(1),所述底板(1)上纵向开设有若干第一槽孔(11),所述底板(1)上纵向开设有若干第一矩形槽(111),所述第一矩形槽(111)位于第一槽孔(11)上方、且与第一槽孔(11)相连通,所述底板(1)上横向开设有若干第二槽孔(12),所述底板(1)上横向开设有若干第二矩形槽(121),所述第二矩形槽(121)位于第二槽孔(12)上方、且与第二槽孔(12)相连通,所述第一槽孔(11)和第二槽孔(12)相连通,所述第一矩形槽(111)和第二矩形槽(121)相连通,所述第一槽孔(11)和第二槽孔(12)均由上下两个相同的半圆槽和位于两个半圆槽中部的矩形槽构成,所述底板(1)于第一槽孔(11)和第二槽孔(12)底部均匀开设有若干矩形盲孔(220),所述底板(1)上方设有平板(20),所述平板(20)下端面设有多根连接杆(21),所述连接杆(21)位于第一矩形槽(111)和第二矩形槽(121)内,所述连接杆(21)下端连接有球体(210),所述球体(210)位于第一槽孔(11)和第二槽孔(12)内,所述球体(210)底部固定设有矩形凸柱(22),所述矩形凸柱(22)穿设在矩形盲孔(220)内,所述平板(20)上固定设有连接套(2),所述连接套(2)上安装有升降杆(3),所述升降杆(3)顶端安装有转动盘(5),所述转动盘(5)上设有固定机构。
2.根据权利要求1所述的一种微电子器件检测平台,其特征在于:所述升降杆(3)穿设在连接套(2)内,所述连接套(2)一侧轴向开设有过槽(310),所述升降杆(3)一侧安装有第一齿条(31),所述第一齿条(31)位于过槽(310)内,所述连接套(2)上部固定设有安装座(23),所述安装座(23)上转动安装有传动轴(24)和蜗杆(25),所述传动轴(24)上固定安装有第一齿轮(240)和涡轮(250),所述第一齿轮(240)和第一齿条(31)啮合,所述蜗杆(25)与涡轮(250)啮合,所述蜗杆(25)外端安装有第一转轮(26)。
3.根据权利要求1所述的一种微电子器件检测平台,其特征在于:所述升降杆(3)顶端固定安装有定位盘(4),所述定位盘(4)上开设有通孔(41),所述定位盘(4)以通孔(41)为中心还开设有若干半球槽(42),所述转动盘(5)的下端面设有转动杆,所述转动杆转动安装在通孔(41)内,...
【专利技术属性】
技术研发人员:吕坤颐,牟洪江,蔡川,
申请(专利权)人:重庆城市管理职业学院,
类型:发明
国别省市:重庆;50
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