一种微电子器件检测平台制造技术

技术编号:29701284 阅读:13 留言:0更新日期:2021-08-17 14:29
本发明专利技术属于微电子器件检测技术领域,具体涉及一种微电子器件检测平台,包括底板,底板上纵向开设有若干第一槽孔,底板上纵向开设有若干第一矩形槽,第一矩形槽位于第一槽孔上方、且与第一槽孔相连通,底板上横向开设有若干第二槽孔,底板上横向开设有若干第二矩形槽,第二矩形槽位于第二槽孔上方、且与第二槽孔相连通,球体底部固定设有矩形凸柱,矩形凸柱穿设在矩形盲孔内,平板上固定设有连接套,连接套上安装有升降杆,升降杆顶端安装有转动盘,转动盘上设有固定机构。其目的是:解决现有的检测平台结构缺陷导致的安装有微电子器件的电路板夹持完成后电路板无法移动,不方便对安装有微电子器件的电路板的不同部位进行检测的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种微电子器件检测平台
本专利技术属于微电子器件检测
,具体涉及一种微电子器件检测平台。
技术介绍
微电子器件是利用微电子工艺技术实现的微型化电子系统芯片和器件,在使用时,一般把微电子器件安装在电路板上,这样可以使电路和器件的性能、可靠性大幅度提高,体积和成本大幅度降低,微电子器件在使用出现故障后,通常用户会将这些电路板送至专业的维修部门进行检修,维修人员在进行维修之前需要对电路板上的微电子器件进行多方面检测,从而寻找其无法正常工作的原因。在检测前,为避免被检测的电路板上的微电子器件移动,需先把电路板夹持在检测平台上,而在对微电子器件进行局部放大检测时,则需要移动安装有微电子器件的电路板,但在夹持完成后,电路板无法移动,出现了不方便对安装有微电子器件的电路板的不同部位进行检测的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是:旨在提供一种微电子器件检测平台,用来解决现有的检测平台结构缺陷导致的安装有微电子器件的电路板夹持完成后电路板无法移动,不方便对安装有微电子器件的电路板的不同部位进行检测的问题。为实现上述技术目的,本专利技术采用的技术方案如下:一种微电子器件检测平台,包括底板,所述底板上纵向开设有若干第一槽孔,所述底板上纵向开设有若干第一矩形槽,所述第一矩形槽位于第一槽孔上方、且与第一槽孔相连通,所述底板上横向开设有若干第二槽孔,所述底板上横向开设有若干第二矩形槽,所述第二矩形槽位于第二槽孔上方、且与第二槽孔相连通,所述第一槽孔和第二槽孔相连通,所述第一矩形槽和第二矩形槽相连通,所述第一槽孔和第二槽孔均由上下两个相同的半圆槽和位于两个半圆槽中部的矩形槽构成,所述底板于第一槽孔和第二槽孔底部均匀开设有若干矩形盲孔,所述底板上方设有平板,所述平板下端面设有多根连接杆,所述连接杆位于第一矩形槽和第二矩形槽内,所述连接杆下端连接有球体,所述球体位于第一槽孔和第二槽孔内,所述球体底部固定设有矩形凸柱,所述矩形凸柱穿设在矩形盲孔内,所述平板上固定设有连接套,所述连接套上安装有升降杆,所述升降杆顶端安装有转动盘,所述转动盘上设有固定机构。进一步限定,所述升降杆穿设在连接套内,所述连接套一侧轴向开设有过槽,所述升降杆一侧安装有第一齿条,所述第一齿条位于过槽内,所述连接套上部固定设有安装座,所述安装座上转动安装有传动轴和蜗杆,所述传动轴上固定安装有第一齿轮和涡轮,所述第一齿轮和第一齿条啮合,所述蜗杆与涡轮啮合,所述蜗杆外端安装有第一转轮。在把安装有微电子器件的电路板通过固定机构进行固定后,当需要对电路板进行升降时,只需转动第一转轮即可,通过第一转轮带动蜗杆转动,进而利用涡轮带动第一齿轮转动,从而带动安装有第一齿条的升降杆升降;这样的结构设计,利用涡轮与蜗杆之间的单向传动,配合第一齿轮和第一齿条的啮合,带动升降杆上升或下降,可避免升降杆在转动盘的重力的作用下,自动下降,使用更加方便。进一步限定,所述升降杆顶端固定安装有定位盘,所述定位盘上开设有通孔,所述定位盘以通孔为中心还开设有若干半球槽,所述转动盘的下端面设有转动杆,所述转动杆转动安装在通孔内,所述转动盘上还开设有多个螺纹通孔,所述螺纹通孔内螺接有球头柱塞,所述球头柱塞的球体卡设在半球槽内。这样的结构设计,转动盘通过转动杆转动安装在定位盘上,通过球头柱塞与半球槽的相互配合,避免转动盘在不需要时发生转动,实用性较强。进一步限定,所述转动杆包括杆体和位于杆体下端的卡球,所述转动杆径向开设有多个条形槽。这样的结构设计,在安装时,可利用径向开设有多个条形槽的转动杆的弹性,直接把卡球从定位盘的上方卡入到通孔内,并穿过通孔,使得卡球位于定位盘的下方,杆体穿设在通孔内,此时,当转动盘在球头柱塞的作用下具备向上移动的趋势时,由定位盘对卡球施加向下的推力,避免转动盘向上移动,安装更加方便。进一步限定,所述固定机构包括两个相对设置的夹持块,所述夹持块滑动安装在转动盘上,所述夹持块上安装有第二齿条,所述转动盘中部转动安装有第二齿轮,所述第二齿轮与两个第二齿条啮合。这样的结构设计,通过第二齿轮与齿条的啮合,使得两个夹持块在向内滑动,对电路板进行夹持时,可同步向内运动,对电路板进行夹持,从而使得电路板在被夹持后,始终处于转动盘的中心,在一定程度上可避免转动盘和平板受力不均而造成的偏斜问题。进一步限定,其中一个所述夹持块上固定设有连接块,所述连接块上螺接有丝杆,所述转动盘上于丝杆两端安装有固定座,所述丝杆转动安装在固定座上,所述丝杆一端安装有第二转轮。这样的结构设计,通过第二转轮对丝杆的转动,实现夹持块的移动,可避免电路板对夹持块施加的反向作用力,使得夹持块向两侧移动,而造成的无法稳固地地对电路板进行夹持的问题。进一步限定,所述夹持块两端的下部均设有凸块,所述第二齿轮、第二齿条、连接块和固定座均位于两个凸块之间。这样的结构设计,通过凸块对夹持块进行支撑,对夹持块的水平高度进行上移,避免夹持块在移动过程中,第二齿轮、第二齿条和固定座对夹持块的移动造成干扰,加大夹持块的适用范围。进一步限定,所述凸块下端设有燕尾块,所述转动盘上开设有燕尾槽,所述燕尾块位于燕尾槽内。这样的结构设计,通过燕尾块和燕尾槽的相互配合,实现夹持块和转动盘之间的滑动连接,结构简单,使用方便。进一步限定,所述夹持块的內端面开设有卡槽,所述卡槽从上到下逐渐向外倾斜。这样的结构设计,通过从上到下逐渐向外倾斜的卡槽对电路板的端部进行夹持,由卡槽的下端面对电路板进行支撑,卡槽的倾斜面对电路板施加向内、向下的力,可避免电路板向上跳动的同时,对于不同厚度尺寸的电路板均能起到夹持作用,适应范围广。进一步限定,所述夹持块的内侧面还设有多根支撑杆,所述支撑杆的上端面与卡槽的下端面重合,所述夹持块上还开设有过孔,所述支撑杆穿设在过孔内。这样的结构设计,通过支撑杆对电路板进行支撑,在使用时,直接把电路板放置在支撑杆上,再把两个夹持块向中合拢,对电路板进行夹持即可。采用上述技术方案的专利技术,具有如下优点:1、通过矩形凸柱和矩形盲孔的相互配合,实现底板和平板之间的相互定位,使得平板可稳固地安装在底板上,并使得完成夹持后的电路板,可根据需要,以把矩形凸柱卡设在不同的矩形盲孔内的方式,实现电路板的移动,方便对安装有微电子器件的电路板的不同部位进行检测的问题;2、通过连接杆和纵向开设的第一矩形槽、横向开设的第二矩形槽的相互匹配,使得平板只能纵向或横向移动,避免出现平板偏移后,出现的矩形凸柱无法对准矩形盲孔的问题;3、通过球体和第一槽孔、第二槽孔的相互配合,避免在抓住连接套向上移动时,连接杆脱离第一矩形槽和第二矩形槽的问题;4、利用涡轮与蜗杆之间的单向传动,配合第一齿轮和第一齿条的啮合,带动升降杆上升或下降,可避免升降杆在转动盘的重力的作用下,自动下降,使用更加方便;5、转动盘通过转动杆转动安装在定位盘上,通过球头柱塞与半球槽的相互配合,避免转动盘在不需要时发生转动,实用性较强;6、通过第二齿轮与齿条的啮合,使得两个夹持块在向内滑动,对电路板进行夹持时,本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微电子器件检测平台,其特征在于:包括底板(1),所述底板(1)上纵向开设有若干第一槽孔(11),所述底板(1)上纵向开设有若干第一矩形槽(111),所述第一矩形槽(111)位于第一槽孔(11)上方、且与第一槽孔(11)相连通,所述底板(1)上横向开设有若干第二槽孔(12),所述底板(1)上横向开设有若干第二矩形槽(121),所述第二矩形槽(121)位于第二槽孔(12)上方、且与第二槽孔(12)相连通,所述第一槽孔(11)和第二槽孔(12)相连通,所述第一矩形槽(111)和第二矩形槽(121)相连通,所述第一槽孔(11)和第二槽孔(12)均由上下两个相同的半圆槽和位于两个半圆槽中部的矩形槽构成,所述底板(1)于第一槽孔(11)和第二槽孔(12)底部均匀开设有若干矩形盲孔(220),所述底板(1)上方设有平板(20),所述平板(20)下端面设有多根连接杆(21),所述连接杆(21)位于第一矩形槽(111)和第二矩形槽(121)内,所述连接杆(21)下端连接有球体(210),所述球体(210)位于第一槽孔(11)和第二槽孔(12)内,所述球体(210)底部固定设有矩形凸柱(22),所述矩形凸柱(22)穿设在矩形盲孔(220)内,所述平板(20)上固定设有连接套(2),所述连接套(2)上安装有升降杆(3),所述升降杆(3)顶端安装有转动盘(5),所述转动盘(5)上设有固定机构。/n...

【技术特征摘要】
1.一种微电子器件检测平台,其特征在于:包括底板(1),所述底板(1)上纵向开设有若干第一槽孔(11),所述底板(1)上纵向开设有若干第一矩形槽(111),所述第一矩形槽(111)位于第一槽孔(11)上方、且与第一槽孔(11)相连通,所述底板(1)上横向开设有若干第二槽孔(12),所述底板(1)上横向开设有若干第二矩形槽(121),所述第二矩形槽(121)位于第二槽孔(12)上方、且与第二槽孔(12)相连通,所述第一槽孔(11)和第二槽孔(12)相连通,所述第一矩形槽(111)和第二矩形槽(121)相连通,所述第一槽孔(11)和第二槽孔(12)均由上下两个相同的半圆槽和位于两个半圆槽中部的矩形槽构成,所述底板(1)于第一槽孔(11)和第二槽孔(12)底部均匀开设有若干矩形盲孔(220),所述底板(1)上方设有平板(20),所述平板(20)下端面设有多根连接杆(21),所述连接杆(21)位于第一矩形槽(111)和第二矩形槽(121)内,所述连接杆(21)下端连接有球体(210),所述球体(210)位于第一槽孔(11)和第二槽孔(12)内,所述球体(210)底部固定设有矩形凸柱(22),所述矩形凸柱(22)穿设在矩形盲孔(220)内,所述平板(20)上固定设有连接套(2),所述连接套(2)上安装有升降杆(3),所述升降杆(3)顶端安装有转动盘(5),所述转动盘(5)上设有固定机构。


2.根据权利要求1所述的一种微电子器件检测平台,其特征在于:所述升降杆(3)穿设在连接套(2)内,所述连接套(2)一侧轴向开设有过槽(310),所述升降杆(3)一侧安装有第一齿条(31),所述第一齿条(31)位于过槽(310)内,所述连接套(2)上部固定设有安装座(23),所述安装座(23)上转动安装有传动轴(24)和蜗杆(25),所述传动轴(24)上固定安装有第一齿轮(240)和涡轮(250),所述第一齿轮(240)和第一齿条(31)啮合,所述蜗杆(25)与涡轮(250)啮合,所述蜗杆(25)外端安装有第一转轮(26)。


3.根据权利要求1所述的一种微电子器件检测平台,其特征在于:所述升降杆(3)顶端固定安装有定位盘(4),所述定位盘(4)上开设有通孔(41),所述定位盘(4)以通孔(41)为中心还开设有若干半球槽(42),所述转动盘(5)的下端面设有转动杆,所述转动杆转动安装在通孔(41)内,...

【专利技术属性】
技术研发人员:吕坤颐牟洪江蔡川
申请(专利权)人:重庆城市管理职业学院
类型:发明
国别省市:重庆;50

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