SPR传感器、检测装置及检测系统制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种SPR传感器、检测装置及检测系统。SPR传感器包括：多模光纤、柱形波导以及反射镜，所述多模光纤与所述柱形波导连接，所述反射镜设于所述柱形波导的远离所述多模光纤的端面，所述柱形波导包括波导主体与等离子体传感层，所述等离子体传感层设于所述波导主体的周面；所述多模光纤用于将外界的光线传导至所述波导主体与所述等离子体传感层的界面进行第一次调制，第一次调制后的所述光线到达所述反射镜且经所述反射镜反射后，进入所述波导主体与所述等离子体传感层的界面进行第二次调制，第二次调制后的所述光线经所述多模光纤出射。本发明专利技术的SPR传感器体积较小。

【技术实现步骤摘要】
SPR传感器、检测装置及检测系统
本专利技术涉及光纤传感器
，特别涉及一种SPR传感器、检测装置及检测系统。
技术介绍
SPR传感器可以用来检测待测样品中目标检测物的含量。但是，传统的SPR传感器的体积较大，这使得SPR传感器不能在微小空间进行检测，限制了SPR传感器的应用范围。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种SPR传感器、检测装置及检测系统，以解决SPR传感器的体积较大，SPR传感器不能在微小空间进行检测，限制了SPR传感器的应用范围的技术问题。本专利技术提供一种SPR传感器，包括：多模光纤、柱形波导以及反射镜，所述多模光纤与所述柱形波导连接，所述反射镜设于所述柱形波导的远离所述多模光纤的端面，所述柱形波导包括波导主体与等离子体传感层，所述等离子体传感层设于所述波导主体的周面；所述多模光纤用于将外界的光线传导至所述波导主体与所述等离子体传感层的界面进行第一次调制，第一次调制后的所述光线到达所述反射镜且经所述反射镜反射后，进入所述波导主体与所述等离子体传感层的界面进行第二次调制，第二次调制后的所述光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种SPR传感器，其特征在于，包括：多模光纤、柱形波导以及反射镜，所述多模光纤与所述柱形波导连接，所述反射镜设于所述柱形波导的远离所述多模光纤的端面，所述柱形波导包括波导主体与等离子体传感层，所述等离子体传感层设于所述波导主体的周面；所述多模光纤用于将外界的光线传导至所述波导主体与所述等离子体传感层的界面进行第一次调制，第一次调制后的所述光线到达所述反射镜且经所述反射镜反射后，进入所述波导主体与所述等离子体传感层的界面进行第二次调制，第二次调制后的所述光线经所述多模光纤出射。/n

【技术特征摘要】
1.一种SPR传感器，其特征在于，包括：多模光纤、柱形波导以及反射镜，所述多模光纤与所述柱形波导连接，所述反射镜设于所述柱形波导的远离所述多模光纤的端面，所述柱形波导包括波导主体与等离子体传感层，所述等离子体传感层设于所述波导主体的周面；所述多模光纤用于将外界的光线传导至所述波导主体与所述等离子体传感层的界面进行第一次调制，第一次调制后的所述光线到达所述反射镜且经所述反射镜反射后，进入所述波导主体与所述等离子体传感层的界面进行第二次调制，第二次调制后的所述光线经所述多模光纤出射。


2.根据权利要求1所述的SPR传感器，其特征在于，所述SPR传感器还包括分光耦合器，所述分光耦合器设于所述多模光纤的远离所述柱形波导的一侧，所述分光耦合器用于将外界的光线透过以进入所述多模光纤，且用于将第二次调制后的光线反射。


3.根据权利要求1所述的SPR传感器，其特征在于，所述柱形波导的轴向长度小于等于10mm。


4.根据权利要求1所述的SPR传感器，其特征在于，所述柱形波导为圆柱形，所述柱形波导的直径小于等于125μm。


5.根据权利要求1所述的SPR传感器，其特征在于，所述等离子体传感层可以为单质金属层、混合合金层、多层金属复合层或者半导体层中的一种或多种。


6.一种检测装置，用于检测待测样品中的目标检测物的含量，其特征在于，包括检测管路、分解载体以及两个如权利要求1-5任一项所述的SPR传感器，所述检测管路内形成有检测空间，所述检测管路包括进样口以及与所述进样口相对设置的出样口，所述进样口以及所述出样口均与所述检测空间连通，两个所述SPR传感器间隔设于所述检测管路上且伸入在所述检测空间内，所述分解载体位于所述检测空间内，且位于两个所述SPR传感器之间；所述待测样品从所述进样口进入所述检测空间，靠近所述进样口的所述SPR传感器用于检测所述待测样品的第一信号，所述待测样品中的所述目标检测物到达所述分解载体时在所述分解载体上分解或者在所述分解载体上消耗，靠近所述出样口的所述SPR传感器用于检测所述目标检测物分解后的所述待测样品的第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈郁芝，李学金，洪学明，
申请(专利权)人：陈郁芝，李学金，洪学明，
类型：发明
国别省市：广东;44