一种图像传感器的残像测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种图像传感器的残像测试方法及装置，涉及残像测试技术领域，该方法包括以下步骤：利用待测试的图像传感器得到第一图像以及第二图像，其中，第二图像与第一图像相邻且位于第一图像之后；确定第一图像上至少一个宇宙线事例点的第一像素位置，获取第二图像上第一像素位置处的第一响应值。其中，宇宙线事例点为宇宙线粒子在图像上的信息；根据第一响应值，得到待测试的图像传感器的残像，本发明专利技术实现在普通环境下即可开展的图像传感器残像测试。

【技术实现步骤摘要】
一种图像传感器的残像测试方法及装置
本专利技术涉及残像测试
，尤其涉及一种图像传感器的残像测试方法及装置。
技术介绍
图像传感器是利用半导体(多为硅)光电器件的光电转换功能将入射的光子转换为电信号读出的器件，常见的包括CCD(Charge-coupledDevice，CCD)和互补金属氧化物半导体(ComplementaryMetalOxideSemiconductor，CMOS)器件等。图像传感器广泛应用于工业、科研、安防等领域，有着广泛的市场应用基础。图像传感器的残像是指图像传感器在曝光一幅图像后，在进行电子清除过程中部分电子未被完全清除，而残留在后续的图像中。残像是图像传感器的一个重要参数，其大小影响着图像的质量，尤其是在光谱应用、微光探测和科学成像中。大部分图像传感器产品的残像百分比在1％以内，优秀的图像传感器残像百分比低于1‰。现有技术中，某些图像传感器并不具备相应的残像测试方法，或者不具备相应的测试环境来开展残像测试，因此，普通环境下即可开展的图像传感器残像测试方法是目前业界亟待解决的重要问题。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种图像传感器的残像测试方法，其特征在于，包括以下步骤：/n利用待测试的图像传感器得到第一图像以及第二图像；其中，所述第二图像与所述第一图像相邻且位于所述第一图像之后；/n确定所述第一图像上至少一个宇宙线事例点的第一像素位置，获取所述第二图像上所述第一像素位置处的第一响应值；其中，所述宇宙线事例点为宇宙线粒子在图像上的信息；/n根据所述第一响应值，得到所述待测试的图像传感器的残像。/n

【技术特征摘要】
1.一种图像传感器的残像测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
利用待测试的图像传感器得到第一图像以及第二图像；其中，所述第二图像与所述第一图像相邻且位于所述第一图像之后；
确定所述第一图像上至少一个宇宙线事例点的第一像素位置，获取所述第二图像上所述第一像素位置处的第一响应值；其中，所述宇宙线事例点为宇宙线粒子在图像上的信息；
根据所述第一响应值，得到所述待测试的图像传感器的残像。


2.根据权利要求1所述的图像传感器的残像测试方法，其特征在于，获取所述第二图像上所述第一像素位置处的第一响应值具体为获取第二图像在第一像素位置处的响应值DN1，并将所述响应值DN1确定为第一响应值。


3.根据权利要求2所述的图像传感器的残像测试方法，其特征在于，根据所述第一响应值，得到所述待测试的图像传感器的残像，具体包括以下步骤：
对所有响应值DN1取平均值，得到第一平均响应值DN1ave；
根据待测试的图像传感器的增益，将所述第一平均响应值DN1ave转换为对应的电子数，得到待测试的图像传感器的残像。


4.根据权利要求3所述的图像传感器的残像测试方法，其特征在于，根据所述第一响应值，得到所述待测试的图像传感器的残像之后还包括以下步骤：
根据所述残像，获取待测试的图像传感器的残像百分比。


5.根据权利要求4所述的图像传感器的残像测试方法，其特征在于，根据所述残像，获取待测试的图像传感器的残像百分比，具体包括以下步骤：
获取第一图像在第一像素位置处的响应值DN2，将所述响应值DN2作为第二响应值；
对所有响应值DN2取平均值，得到第二平均响应值DN2ave；
根据待测试的图像传感器的增益，将所述第二平均响应值DN2ave转换为对应的电子数，将第一平均响应值DN1ave对应的电子数除以第二平均响应值DN2ave对应的电子数，得到所述残像百分比。


6.根据权利要求1所述的图像传感器的残像...

【专利技术属性】
技术研发人员：凌志兴，张臣，王文昕，贾振卿，
申请(专利权)人：中国科学院国家天文台，
类型：发明
国别省市：北京;11