一种基于重入式同轴腔的可调频复介电常数测试系统技术方案

本发明专利技术提供了一种基于重入式同轴腔的可调频复介电常数测试系统，包括调频模块与微波测试模块；调频模块包括环状介质扰动块、夹持杆、环形夹具、滑块、导轨、步进电机；微波测试模块包括重入式同轴腔、耦合旋转调节器、幅相测试模块、程控计算机；重入式同轴腔外导体开缝，夹持杆一端固定于环形夹具中，另一端穿过缝固定于腔体中与内导体同心放置的环状介质扰动块侧壁槽上，环形夹具固定于滑块上，通过步进电机控制滑块在导轨上移动，实现环状介质扰动块在腔体内垂直方向上的移动，改变腔体的谐振频率。本发明专利技术实现重入式谐振腔的谐振频率可调，不再局限于腔体本身谐振频点，具有稳定性好，调频操作简单的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种基于重入式同轴腔的可调频复介电常数测试系统
本专利技术属于微波材料介电性能测试
，尤其设计到基于重入式同轴腔的可调频复介电常数测试系统。
技术介绍
目前我国的材料技术正以前所未有的速度向前发展，尤其在电子领域中，各式各样的材料广泛被应用于航空航天、无线通讯及电磁波检测等领域。在低频段检测理论和方法、军用P波段雷达通信与雷达隐身、探地雷达及其成像技术、生物医学、环境保护、食品安全检测等诸多方面，对应用于其中的不同类型的材料进行复介电常数的高精度测量有着极其迫切的需求，而现有技术手段主要采用电容法、利用天线或雷达测反射等方法进行材料低频性能检测，测试误差大，而本系统所采用的同轴谐振法不仅测试精度极高，且低频应用时尺寸也较同频段的天线或其他传感器小。微波谐振腔是一种具有储能与频率选择性作用的微波元件，应用于谐振法当中，但相对比于网络参数法，虽然谐振法的测试精度较高，但其只能对单一谐振点频处待测材料的复介电常数进行测试，无法实现连续扫频
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺陷，本专利技术的目的在于提供一种基于重入式同轴腔本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于重入式同轴腔的可调频复介电常数测试系统，其特征在于包括调频模块与微波测试模块；所述调频模块包括环状介质扰动块1、夹持杆2、环形夹具3、滑块4、导轨5、步进电机6；所述微波测试模块包括重入式同轴腔、耦合旋转调节器(7a,7b)、幅相测试模块8、程控计算机9；耦合旋转调节器(7a,7b)通过微波同轴传输线(14a,14b)与幅相测试模块8相连接，步进电机6通过串口线16与程控计算机9相连，重入式同轴腔包括侧壁开缝的外导体10，与外导体同心配合顶部开孔的内导体11，含有样品测试孔的上端盖12，下端盖13；程控计算机(9)通过数据传输线15发送控制指令给幅相测试模块8，设置其发生信号的频率...

【技术特征摘要】
1.一种基于重入式同轴腔的可调频复介电常数测试系统，其特征在于包括调频模块与微波测试模块；所述调频模块包括环状介质扰动块1、夹持杆2、环形夹具3、滑块4、导轨5、步进电机6；所述微波测试模块包括重入式同轴腔、耦合旋转调节器(7a,7b)、幅相测试模块8、程控计算机9；耦合旋转调节器(7a,7b)通过微波同轴传输线(14a,14b)与幅相测试模块8相连接，步进电机6通过串口线16与程控计算机9相连，重入式同轴腔包括侧壁开缝的外导体10，与外导体同心配合顶部开孔的内导体11，含有样品测试孔的上端盖12，下端盖13；程控计算机(9)通过数据传输线15发送控制指...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭亦童，李恩，李灿平，陈天润，郭浩东，
申请(专利权)人：成都恩驰微波科技有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51