一种可测量盲孔深度的外径千分尺制造技术

本实用新型专利技术公开了一种可测量盲孔深度的外径千分尺，包括旋钮、测力装置、微分筒、固定套管、测微螺杆、测砧以及尺架，其特征在于：所述测微螺杆表面设有刻度。本实用新型专利技术一种可测量盲孔深度的外径千分尺，该外径千分尺的测微螺杆的表面设置刻度，可以通过测微螺杆的推进量测量出盲孔的深度。

【技术实现步骤摘要】
一种可测量盲孔深度的外径千分尺
本技术涉及一种可测量盲孔深度的外径千分尺。
技术介绍
外径千分尺，也叫螺旋测微器，常简称为"千分尺"。它是比游标卡尺更精密的长度测量仪器。外径千分尺一般的作用是测量圆球、圆管等的外径，也能用来测量薄型零件的厚度。对于盲孔的深度，一般的外径千分尺是无法测量的。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种可测量盲孔深度的外径千分尺，该外径千分尺的测微螺杆的表面设置刻度，可以通过测微螺杆的推进量测量出盲孔的深度。同时，该外径千分尺的尺架可以在水平和垂直方向伸缩，进一步的增加了外径千分尺的量程。为了实现上述目的，本技术的技术方案是设计一种可测量盲孔深度的外径千分尺，包括旋钮、测力装置、微分筒、固定套管、测微螺杆、测砧以及尺架，其特征在于：所述测微螺杆表面设有刻度。进一步的，所述尺架由测砧连接尺架、固定套管连接尺架、第一弧形尺架和第二弧形尺架；所述测砧连接尺架为一侧连接测砧的竖条状结构，固定套管连接尺架为连接固定套管的竖条状结构；所述第一弧形尺架和第二弧形尺架为互为镜像设置的两个弧形块结构；所述测砧连接尺架、固定套管连接尺架、第一弧形尺架和第二弧形尺架共同拼接成“U”形的尺架7。进一步的，所述测砧连接尺架、固定套管连接尺架下端面均设有连接槽；所述第一弧形尺架和第二弧形尺架上端面均设有用于依次插入测砧连接尺架、固定套管连接尺架下端面连接槽的连接柱；所述连接柱上自上而下设有若干个螺孔；通过选择螺孔分别螺接测砧连接尺架、固定套管连接尺架，使得测砧连接尺架、固定套管连接尺架在垂直方向上延展或收缩，且测砧连接尺架、固定套管连接尺架始终保持同一高度。进一步的，所述第一弧形尺架和第二弧形尺架相接处两侧的侧壁上分别设有能够相互卡接的卡片和卡套。进一步的，所述第一弧形尺架和第二弧形尺架相接处均设有水平的螺纹孔；所述第一弧形尺架和第二弧形尺架相接处通过一个螺纹柱旋入螺纹孔实现连接。进一步的，所述第一弧形尺架下端设有用于螺纹柱穿过的轴承，且轴承外侧的螺纹柱端部设有拨动轮；所述拨动轮直径大于轴承的内径；所述螺纹柱另一端设有避免第二弧形尺架从螺纹柱上脱出的限位片。本技术的优点和有益效果在于：本技术一种可测量盲孔深度的外径千分尺，该外径千分尺的测微螺杆的表面设置刻度，可以通过测微螺杆的推进量测量出盲孔的深度。同时，该外径千分尺的尺架可以在水平和垂直方向伸缩。当被测盲孔位于一个尺寸较大的零件上时，可以通过伸展尺架的方式来使得尺架避让零件，而使得测微螺杆能够顺利的进入盲孔中。同时，由于外径千分尺架的延伸，进一步增加了外径千分尺的量程，使得外径千分尺能够测量厚度较大的薄型零件以及外径较大的圆球或圆筒。附图说明图1为本技术尺架收缩时的示意图。图2为本技术尺架延展时的示意图。图3为本技术的爆炸图。其中，旋钮1、测力装置2、微分筒3、固定套管4、测微螺杆5、测砧6、尺架7、第一弧形尺架7-1、第二弧形尺架7-2、连接柱7-3、固定套管连接尺架7-4、测砧连接尺架7-5、卡套7-6、卡片7-7、螺纹柱7-8、轴承7-9、拨动轮7-10、限位片7-11。具体实施方式下面结合附图和实施例，对本技术的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本技术的技术方案，而不能以此来限制本技术的保护范围。实施例：一种可测量盲孔深度的外径千分尺，包括旋钮1、测力装置2、微分筒3、固定套管4、测微螺杆5、测砧6以及尺架7，所述测微螺杆5表面设有刻度。所述尺架7由测砧连接尺架7-5、固定套管连接尺架7-4、第一弧形尺架7-1和第二弧形尺架7-2；所述测砧连接尺架7-5为一侧连接测砧6的竖条状结构，固定套管连接尺架7-4为连接固定套管4的竖条状结构；所述第一弧形尺架7-1和第二弧形尺架7-2为互为镜像设置的两个弧形块结构；所述测砧连接尺架7-5、固定套管连接尺架7-4、第一弧形尺架7-1和第二弧形尺架7-2共同拼接成“U”形的尺架7。所述测砧连接尺架7-5、固定套管连接尺架7-4下端面均设有连接槽；所述第一弧形尺架7-1和第二弧形尺架7-2上端面均设有用于依次插入测砧连接尺架7-5、固定套管连接尺架7-4下端面连接槽的连接柱7-3；所述连接柱7-3上自上而下设有若干个螺孔；通过选择螺孔分别螺接测砧连接尺架7-5、固定套管连接尺架7-4，使得测砧连接尺架7-5、固定套管连接尺架7-4在垂直方向上延展或收缩，且测砧连接尺架7-5、固定套管连接尺架7-4始终保持同一高度。所述第一弧形尺架7-1和第二弧形尺架7-2相接处两侧的侧壁上分别设有能够相互卡接的卡片7-7和卡套7-6。所述第一弧形尺架7-1和第二弧形尺架7-2相接处均设有水平的螺纹孔；所述第一弧形尺架7-1和第二弧形尺架7-2相接处通过一个螺纹柱7-8旋入螺纹孔实现连接。所述第一弧形尺架7-1下端设有用于螺纹柱7-8穿过的轴承7-9，且轴承7-9外侧的螺纹柱7-8端部设有拨动轮7-10；所述拨动轮7-10直径大于轴承7-9的内径；所述螺纹柱7-8另一端设有避免第二弧形尺架7-2从螺纹柱7-8上脱出的限位片7-11。使用方法：通过旋转螺纹柱7-8能够调整测砧6和固定套管4之间的水平距离；通过调整测砧连接尺架7-5、固定套管连接尺架7-4在连接柱7-3上的安装高度调整了被测零件与尺架7弯折处的距离（用于避让尺寸较大的零件）。完成上述调整后，将零件的盲孔水平对准测微螺杆5，通过测微螺杆5进入盲孔并抵达盲孔底部时的推进量可知盲孔深度。以上所述仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可测量盲孔深度的外径千分尺，包括旋钮、测力装置、微分筒、固定套管、测微螺杆、测砧以及尺架，所述测微螺杆表面设有刻度，其特征在于：所述尺架由测砧连接尺架、固定套管连接尺架、第一弧形尺架和第二弧形尺架组成；所述测砧连接尺架为一侧连接测砧的竖条状结构，固定套管连接尺架为连接固定套管的竖条状结构；所述第一弧形尺架和第二弧形尺架为互为镜像设置的两个弧形块结构；所述测砧连接尺架、固定套管连接尺架、第一弧形尺架和第二弧形尺架共同拼接成“U”形的尺架(7)。/n

【技术特征摘要】
1.一种可测量盲孔深度的外径千分尺，包括旋钮、测力装置、微分筒、固定套管、测微螺杆、测砧以及尺架，所述测微螺杆表面设有刻度，其特征在于：所述尺架由测砧连接尺架、固定套管连接尺架、第一弧形尺架和第二弧形尺架组成；所述测砧连接尺架为一侧连接测砧的竖条状结构，固定套管连接尺架为连接固定套管的竖条状结构；所述第一弧形尺架和第二弧形尺架为互为镜像设置的两个弧形块结构；所述测砧连接尺架、固定套管连接尺架、第一弧形尺架和第二弧形尺架共同拼接成“U”形的尺架(7)。


2.根据权利要求1所述的一种可测量盲孔深度的外径千分尺，其特征在于：所述测砧连接尺架、固定套管连接尺架下端面均设有连接槽；所述第一弧形尺架和第二弧形尺架上端面均设有用于依次插入测砧连接尺架、固定套管连接尺架下端面连接槽的连接柱；所述连接柱上自上而下设有若干个螺孔；通过选择螺孔分别螺接测砧连接尺架、固...

【专利技术属性】
技术研发人员：郝标，吕林华，
申请(专利权)人：苏州方华校准检测有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32