用于测试诸如纸币或有价证券的片状材料处理装置中存储数据完整性的方法制造方法及图纸

一种通过测试装置测试片状材料处理装置中所存储数据的完整性的方法，所述片状材料可以是例如纸币或有价证券，该处理装置具有多个用于处理片状材料的组件，并可以在不同的工作状态下进行工作，其特征在于该方法包括如下的步骤： 在测试装置（ＰＥ）中存储完整的数据（ＤＵ），该完整数据（ＤＵ）对应于来自处理装置的一个组件（ＫＰ）的被测试数据（ＤＰ），该处理装置此时处于完整状态下的某一工作状态（ＢＺ）； 通过测试装置（ＰＥ）来产生一个密钥（Ｓ），在每一次对数据的完整性进行测试时该密钥都是不同的； 在处理装置的某一工作状态（ＢＺ）下，由其数据需要予以测试的那一个组件（ＫＰ）编制一个密码（ＫＹＰ），该密码（ＫＹＰ）是通过密码算法（ＫＹ）和该密钥（Ｓ），根据来自组件（ＫＰ）的需要测试的数据ＤＰ计算出来的； 由测试装置（ＰＥ）编制密码（ＫＹＵ），该密码（ＫＹＵ）是通过密码算法（ＫＹ）和该密钥（Ｓ），根据所述完整的数据（ＤＵ）计算出来的； 对所述密码（ＫＹＵ）和（密码ＫＹＰ）进行比较（Ｖ）。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种对片状材料处理装置中所存储数据的完整性(intactness)进行测试的方法，所述片状材料可以是例如纸币或有价证券。这样的处理装置通常包括若干组件，其中每一组件在对片状材料进行处理的过程中实现一定的功能。该处理装置的一个组件是控制装置，其重要性高于其余的组件。该控制装置控制处理装置的各个运作。其余的组件被设计成模块，用于实现对片状材料的实际处理。单个模块的处理操作可以是例如将叠放在一起的片状材料分离开来、测试片状材料的状态或真伪、传送片状材料、堆积或销毁片状材料。处理装置的组件可以装有存储器，用于存储操纵处理装置所需的数据。这些数据可以是例如控制命令、程序、结果数据或基准数据。将处理装置的单个组件彼此连接起来，使得能够在它们之间进行数据传输。上述处理装置可以在不同的操作状态下工作。所述工作状态可以例如由操作者通过输入一定的参数来确定。这样的参数可以是需要测试的张数、纸币的金额、某种测试标准的类型或等级或者类似的信息。德国专利DE-PS27060453号披露了一种这样的处理装置。为了存储数据，所述控制装置和单个的模块都设有各自的存储器，用于存储操纵处理装置所需的数据。通过一个主存储器来进行控制装置和模块之间的数据交换，所述控制装置和模块都可以访问该主存储器。此外，各个模块也都直接相互连接起来，以便进行数据交换。德国专利申请公开DE-OS3347607号披露了一种处理装置，其中采用了多个相似的模块，用于对片状材料进行光学测试。其中控制装置和单个的模块都具有用于存储数据的存储器。通过数据总线将单个的模块彼此连接起来并与控制装置相连接。此外，在该数据总线上还连接了一个级别更高的存储器，所有的组件都可以访问该存储器。在上述类型的装置中，存储在处理装置中的数据有可能会出现不希望的变化。这些变化既可以是处理装置中的干扰所引起的，例如数据传输错误或者数据的丢失，也可以是出于欺骗目的而对数据进行有意处置所引起的。已知装置都没有设置用来查明存储在处理装置中的数据中的不希望变化的措施。本专利技术的目的是为解决上述问题，提供一种对片状材料处理装置中所存储数据的完整性进行测试的方法，能够对所述数据的变化进行核实。上述问题是通过独立权利要求中所述的技术方案来解决的。本专利技术的基本构思是首先在处于完整状态的处理装置的某一操作状态下，将对应于处理装置的一个组件的被测试数据的完整数据存储在一个测试装置中。为了检验该组件中的被测试数据的完整性，在测试装置中为每一次测试产生一个密钥，该密钥不同于先前测试中使用过的密钥。采用上述密钥和一种密码算法来编制两个密码。其中一个密码由处理装置的所述组件根据被测试的数据来编制，在该组件中存储了需要测试的数据；另一个密码由测试装置根据上述完整数据来编制。此后，将上述两个密码进行相互比较。如果密码相符，则被测试的数据与完整数据相符，从而判断没有出现不希望的改变。这种方法的一个优点是其中一个密码由测试装置计算，另一个密码由被测试的组件计算产生。这也分割了形成密码所需的计算容量。另一优点是在每一次测试中产生的密钥都不同于先前测试中使用过的密钥。因此，不必对密钥采取保密措施，不存在密钥被窃取的危险。可以通过在每一次测试中加入一个随机数，使得用于编制密码的任选数据动态化。当对同样的数据进行多次测试时，是经过该动态化处理之后的数据所编制的密码就会各不相同。这就防止了通过重放先前测试中的密码来对进行欺骗性测试操作。为了编制所述密码，最好选择一种这样的密码算法，它同时还能够实现数据的压缩。由此产生的密码与原始数据量相比具有相对较小的数据量。这些密码的较小数据量使得它们能够更为方便和快速地进行交换和比较。根据本专利技术，来自处理装置的多个组件的被存储数据也可以在一次操作中予以测试。为此，在测试装置中存储了一个数表，根据其组件需要被测试的处理装置的工作状态，在该数表中指明在哪些存储区域中存储了来自特定组件的被测试数据，在测试装置的哪些存储区域中存储了相应的完整数据。采用这一数表，测试装置就能够编制为检验单个组件所需的密码，并将这些密码与特定组件所产生的密码进行比较。本专利技术的进一步的特点能够由从属权利要求看出。下面将结合附图对本专利技术的实施例进行详细说明，其中附图说明图1是本专利技术第一种实施例的流程图；图2示出了密码算法的两种实施例的流程图；图3是处理装置的方框图；图4示出了本专利技术第一种实施例的第一种实现方式；图5是包括处理装置和辅助装置的系统的方框图；图6示出了本专利技术第一种实施例的第二种实现方式；图7是本专利技术第二种实施例的流程图；图8是经过扩充的处理装置的方框图；图9示出了本专利技术第二种实施例的实现方式。图1是本专利技术第一种实施例的流程图。为了通过检测装置PE来测试片状材料处理装置的组件KP中存储的数据的完整性，首先将完整的数据DU存储在测试装置PE中。在处于完整状态下的处理装置的某一工作状态BZ中，上述完整数据DU对应于处理装置的组件KP中需要测试的数据DP。在对处理装置的组件KP存储的数据的每一次测试中，测试装置PE都会产生一个密钥S，该密钥在每次数据完整性测试中是不同的。该密钥S用于通过一种密码算法KY来产生一种密码。测试装置PE也能产生任选的一个随机数Z，用于使数据DP或DU动态化。随后，将编制密码所需的数据S或Z由测试装置PE传输到需要测试的组件KP。在测试装置PE和被测试组件KP中均采用该密码算法KY和密钥S或随机数Z来计算出密码。在处理装置的组件KP中，根据需要测试的数据DP来编制密码KYP。在测试装置PE中，根据所述完整数据DU来编制密码KYU，该完整数据DU对应于完整状态下的被测试数据DP。随后，在比较V中对密码KYU和KYP进行比较。为此，将密码KYP由需要测试的组件KP传输到测试装置PE。上述比较V例如可以直接由测试装置来进行。另一种进行比较V的方式是以可读方式输出密码KYU和密码KYP，然后由处理装置的操作者BD来进行密码的比较V。如果需要测试的是处理装置中的几个组件，或者处理装置的不同工作状态BZ中的一个组件，或者是上述两种可能性的结合，则可选择地在测试装置中存储一个数表TAB。在上述数表TAB中，根据其组件需要予以测试的处理装置的可能工作状态BZ，指明在哪些存储区域SP中存储了特定组件的需要测试的数据DP，在测试装置PE的哪些存储区域SU中存储了所述完整数据DU。此外，根据处理装置的各种可能的工作状态，将所有的完整数据DU都存在测试装置的上述数表TAB中。可以采用例如直接物理存储器地址或者逻辑名称来确定存储区域SP或SU。直接物理存储器地址通常用于半导体存储器，例如RAM、ROM、EPROM、EEPROM或者类似存储器。通过例如指定存储器中的起始地址和结尾地址，或者通过指定存储器中的起始地址和存储区域的长度来确定存储区域。对于大容量存储器来说，例如硬盘、磁盘、CDROM驱动器或类似存储装置，通常采用逻辑名称(文件名)来确定一定的存储区域。图2a示出了密码算法KY的一种实施例。在执行实际密码算法KY之前，可以通过加入随机数Z，使需要予以编码的数据DU或DP动态化。可以进行这种动态化处理，以便采用本来是相同的密码算法KY获得不同的密码KYU或KYP。这一步骤可以防止通过对处理装置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：博多·艾伯特，威廉·邦特谢克，
申请(专利权)人：吉赛克与德弗连特股份有限公司，
类型：发明
国别省市：