【技术实现步骤摘要】
适用于小颗粒黄色钻石的鉴别方法、装置及电子设备
本专利技术涉及钻石鉴别领域,具体涉及一种适用于小颗粒黄色钻石的鉴别方法、装置及电子设备。
技术介绍
对于黄色钻石的鉴别,通常使用超短波(波长小于220nm的紫外光线)紫外光激发钻石,观察钻石的生长分区特征,以区分天然黄色钻石与合成黄色钻石。但是,小颗粒黄色高温高压合成钻石的鉴别一直是技术上的难题,主要由于其太小,通常小于0.01ct(1ct=0.02g),使用超短波激发小颗粒黄色钻石时,不能清楚地看到合成钻石或天然钻石的典型特征,因此,采用常规的检测手段比较困难。对于鉴别小颗粒黄色钻石较难的问题,目前还没有行之有效的流程方法。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种适用于小颗粒黄色钻石的鉴别方法及装置,以解决对镶嵌或未镶嵌的小颗粒黄色钻石鉴别较难的问题。为了实现上述目的,本专利技术的第一方面提供了一种适用于小颗粒黄色钻石的鉴别方法,所述小颗粒黄色钻石为重量小于0.01ct的黄色钻石,包括:获取小颗粒黄色钻石的图像信息;基于所述图像信息判断所述小颗粒黄色钻石是否已镶嵌;若所述钻石未镶嵌,则获取钻石与强力磁铁之间的吸引情况;判断所述钻石能否被强力磁铁吸引;若所述钻石已镶嵌或所述钻石不能被强力磁铁吸引,则查看钻石在超短波紫外光下的发光情况;判断所述钻石在超短波紫外光下的发光是否具有分区特征;若不具有分区特征,则获取钻石在标准紫外荧光灯下的长波荧光和短波荧光;判断所述钻石在标准紫外荧光灯 ...
【技术保护点】
1.一种适用于小颗粒黄色钻石的鉴别方法,所述小颗粒黄色钻石为重量小于0.01ct的黄色钻石,其特征在于,包括:/n获取小颗粒黄色钻石的图像信息;/n基于所述图像信息判断所述小颗粒黄色钻石是否已镶嵌;若所述钻石未镶嵌,则获取钻石与强力磁铁之间的吸引情况;/n判断所述钻石能否被强力磁铁吸引;若所述钻石已镶嵌或所述钻石不能被强力磁铁吸引,则查看钻石在超短波紫外光下的发光情况;/n判断所述钻石在超短波紫外光下的发光是否具有分区特征;若不具有分区特征,则获取钻石在标准紫外荧光灯下的长波荧光和短波荧光;/n判断所述钻石在标准紫外荧光灯下的长波荧光是否强于短波荧光;若长波荧光不强于短波荧光,则对所述钻石进行显微红外测试,获取所述钻石的类型;/n判断所述钻石的类型是否为纯Ib型;若是纯Ib型,则对所述钻石进行光致发光光谱检测;/n判断所述钻石能否在预设位置检测到峰,若能,则鉴别出所述钻石为合成钻石,否则为天然钻石。/n
【技术特征摘要】
1.一种适用于小颗粒黄色钻石的鉴别方法,所述小颗粒黄色钻石为重量小于0.01ct的黄色钻石,其特征在于,包括:
获取小颗粒黄色钻石的图像信息;
基于所述图像信息判断所述小颗粒黄色钻石是否已镶嵌;若所述钻石未镶嵌,则获取钻石与强力磁铁之间的吸引情况;
判断所述钻石能否被强力磁铁吸引;若所述钻石已镶嵌或所述钻石不能被强力磁铁吸引,则查看钻石在超短波紫外光下的发光情况;
判断所述钻石在超短波紫外光下的发光是否具有分区特征;若不具有分区特征,则获取钻石在标准紫外荧光灯下的长波荧光和短波荧光;
判断所述钻石在标准紫外荧光灯下的长波荧光是否强于短波荧光;若长波荧光不强于短波荧光,则对所述钻石进行显微红外测试,获取所述钻石的类型;
判断所述钻石的类型是否为纯Ib型;若是纯Ib型,则对所述钻石进行光致发光光谱检测;
判断所述钻石能否在预设位置检测到峰,若能,则鉴别出所述钻石为合成钻石,否则为天然钻石。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若所述钻石能被强力磁铁吸引,则鉴别出所述钻石为合成钻石;
其中,所述强力磁铁包括钕铁硼磁铁。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述判断所述钻石在超短波紫外光下的发光是否具有分区特征包括:
判断所述钻石在超短波紫外光下的磷光是否具有分区特征;
判断所述钻石在超短波紫外光下的荧光是否具有分区特征;
其中,所述超短波紫外光为波长等于或小于225nm的紫外光。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述不具有分区特征包括:
所述钻石在超短波紫外光下的磷光不具有分区特征,并且,所述钻石在超短波紫外光下的荧光不具有分区特征。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,若所述钻石在超短波紫外光下的磷光具有分区特征,则鉴别出所述钻石为合成钻石;
若所述钻石在超短波紫外光下的荧光具有分区特征,则鉴别出所述钻石为合成钻石。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若所述钻石在标准紫外荧光灯下的长波荧光强于...
【专利技术属性】
技术研发人员:宋中华,唐诗,代会茹,高博,朱文芳,苏隽,陆太进,
申请(专利权)人:自然资源部珠宝玉石首饰管理中心北京珠宝研究所,
类型:发明
国别省市:北京;11
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