用于显微地检查大样本的显微镜和方法技术

技术编号:29502766 阅读:26 留言:0更新日期:2021-07-30 19:17
用于显微地检查大样本的显微镜和方法。本发明专利技术涉及一种显微镜(1),特别是被改造成光片显微镜(3)的共焦显微镜(4),该显微镜包括显微镜主体(5)、用于显微镜物镜的机械的接纳装置(7)—显微镜光路(9)延伸穿过该接纳装置—和可安置在所述接纳装置(7)上的光学模块(11),该光学模块用于照明样本容腔(13)并且用于收集和传播来自所述样本容腔(13)的光(15),其中,所述光学模块(11)包括:具有第一光路(19)的第一光学总成(17);具有第二光路(23)的第二光学总成(21),该第二光路在所述样本容腔(13)中与所述第一光路(19)相交;将所述第一光路(19)和/或所述第二光路(23)与所述显微镜光路(9)合并的光学的光路选择器(25);和在所述第一光学总成(17)或所述第二光学总成(21)与所述样本容腔(13)之间的附接部件(27),其中,所述第一光路(19)或所述第二光路(23)至少部分地穿过所述附接部件(27),其中,所述显微镜(1)包括用于探测从所述样本容腔(13)收集的光(15)的面传感器。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于显微地检查大样本的显微镜和方法
本专利技术涉及一种显微镜特别是被改造成光片显微镜的共焦显微镜和一种通过显微镜特别是被改造成光片显微镜的共焦显微镜观察样本容腔的方法。
技术介绍
开头提到的类型的显微镜,即光片显微镜和共焦显微镜,在现有技术中是已知的。现有技术的解决方案在可能的样本大小方面受到限制,因此在检查大样本时提供了很小的灵活性和/或准确性。
技术实现思路
因此,本专利技术的目的在于,改进开头所述类型的已知显微镜,使得可以检查更大的样本。该目的针对开头提到的显微镜,根据本专利技术按如下方式得以实现:显微镜具有显微镜主体、用于显微镜物镜的机械的接纳装置(显微镜光路延伸穿过该接纳装置)和可安置在接纳装置上的光学模块,该光学模块用于照明样本容腔并且用于收集和传播来自样本容腔的光,其中,光学模块包括具有第一光路的第一光学总成;具有第二光路的第二光学总成,第二光路在样本容腔中与第一光路相交;将第一光路和/或第二光路与显微镜光路合并的光学的光路选择器;以及在第一或第二光学总成与样本容腔之间的附接部件,其中,第一或第二光路至本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显微镜(1),特别是被改造成光片显微镜(3)的共焦显微镜(4),包括显微镜主体(5)、用于显微镜物镜的机械的接纳装置(7)—显微镜光路(9)延伸穿过该接纳装置—和可安置在所述接纳装置(7)上的光学模块(11),该光学模块用于照明样本容腔(13)并且用于收集和传播来自所述样本容腔(13)的光(15),其中,所述光学模块(11)包括:/n-具有第一光路(19)的第一光学总成(17);/n-具有第二光路(23)的第二光学总成(21),该第二光路在所述样本容腔(13)中与所述第一光路(19)相交;/n-将所述第一光路(19)和/或所述第二光路(23)与所述显微镜光路(9)合并的光学的光路选择器...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20181221 DE 102018222876.01.一种显微镜(1),特别是被改造成光片显微镜(3)的共焦显微镜(4),包括显微镜主体(5)、用于显微镜物镜的机械的接纳装置(7)—显微镜光路(9)延伸穿过该接纳装置—和可安置在所述接纳装置(7)上的光学模块(11),该光学模块用于照明样本容腔(13)并且用于收集和传播来自所述样本容腔(13)的光(15),其中,所述光学模块(11)包括:
-具有第一光路(19)的第一光学总成(17);
-具有第二光路(23)的第二光学总成(21),该第二光路在所述样本容腔(13)中与所述第一光路(19)相交;
-将所述第一光路(19)和/或所述第二光路(23)与所述显微镜光路(9)合并的光学的光路选择器(25);和
-在所述第一光学总成(17)或所述第二光学总成(21)与所述样本容腔(13)之间的附接部件(27),其中,所述第一光路(19)或所述第二光路(23)至少部分地穿过所述附接部件(27),以便产生光片,
其中,所述显微镜(1)包括用于探测从所述样本容腔(13)收集的光(15)的面传感器。


2.一种显微镜(1),特别是被改造成光片显微镜(3)的共焦显微镜(4),包括显微镜主体(5)、用于显微镜物镜的机械的接纳装置(7)—显微镜光路(9)延伸穿过该接纳装置—和可安置在所述接纳装置(7)上的光学模块(11),该光学模块用于照明样本容腔(13)并且用于收集和传播来自所述样本容腔(13)的光(15),其中,所述光学模块(11)包括:
-具有第一光路(19)的第一光学总成(17);
-具有第二光路(23)的第二光学总成(21),该第二光路在所述样本容腔(13)中与所述第一光路(19)相交;
-用于—优选地通过光纤(168)传输的—照明光的输入点(162),该照明光用于经由第一光路(19)和/或第二光路(23)照明所述样本容腔(13)的一部分;和
-在所述第一光学总成(17)或所述第二光学总成(21)与所述样本容腔(13)之间的附接部件(27),其中,所述第一光路(19)或所述第二光路(23)至少部分地穿过所述附接部件(27),
其中,所述显微镜(1)包括用于探测从所述样本容腔(13)收集的光(15)的面传感器。


3.如权利要求1或2所述的显微镜,其中,所述显微镜(1)具有以下工作状态列表中的至少两种工作状态:
-扫描显微模式;
-非线性照明模式;
-共焦模式;
-光场模式;和
-光片模式(149)。


4.如权利要求1~3中任一项所述的显微镜(1),其中,所述显微镜(1)具有切换装置(159),通过该切换装置,所述显微镜(1)能可逆地和重复地至少切换到第一显微模式(155)或光片模式(149)。


5.如权利要求1、3或4中任一项所述的显微镜(1),其中,所述光学的光路选择器(25)是波长选择的光学部件(39)。


6.如权利要求1~5中任一项所述的显微镜(1),其中,所述第二光学总成(21)被设计为用于产生横穿所述样本容腔(13)的光片(45)的光片模块(43)。


7.如权利要求5或6所述的显微镜(1),其中,所述波长选择的光学部件(39)具有至少一个光谱的滤光片边缘(143),该滤光片边缘将第一光谱范围(145)与第二光谱范围(147)分开,其中,所述波长选择的光学部件(930)对于所述第一光谱范围(145)和所述第二光谱范围(147)具有不同的透射特性和反射特性(T、R),其中,
-在所述光片模式(149)下,光谱的所述滤光片边缘(149)在光谱上位于辐射到所述样本容腔(13)中的光(15)的第一波长(151)和从所述样本容腔(13)收集来的光(15)的第二波长(153)之间,其中,
-在所述第一显微模式(155)下,所述光(15)的所述第一波长(151)和所述第二波长(153)共同地位于所述第一光谱范围(145)或所述第二光谱范围(147)内。


8.如权利要求3~7中任一项所述的显微镜(1),其中,所述切换装置(159)包括来自如下部件列表的至少一个部件:
-波长可变的光源(84);
-具有至少两个可相互独立地切换的不同的发射波长的光源(84);
-用于改变入射光(15)波长的波长改变光学部件(85);
-用于改变入射光偏振的光学延迟部件;和
-光路选择器-更换模块(157),用于交替地或独立地将至少两个光路选择器(25)引入所述显微镜光路(9)中。


9.如权利要求7或8所述的显微镜(1),其中,所述显微镜(1)包括至少一个光源(47),该光源发出在至少两个不同的波长范围内的光(15),其中,至少一个光源(45)的至少两个不同波长范围(151、153)的光可相互独立地输入到所述显微镜光路(9)中,其中,所述光源(47)的至少两个不同的波长范围(151、153)处于所述波长选择的光学部件(39)的不同的光谱范围(145、147)内。


10.如权利要求1~9中任一项所述的显微镜(1),其中,所述显微镜光路可相对于法线倾斜地馈入到所述光学模块(11)中,该法线垂直于所述第一光学总成(17)和/或所述第二光学总成(21)的后面的焦平面(95),所述第二光学总成(21)和/或所述附接部件(27)可根据所述显微镜光路(9)相对于所述第二光学总成(21)的后面的焦平面(95)的法线的倾斜而倾斜。


11.如权利要求7~10中任一项所述的显微镜(1),其中,在所述第一光路(19)中设置了:
-用于减弱或阻挡所述第二光谱范围(153)的反射部分(123)的截止滤光片(35),该反射部分从所述波长选择的光学部件(39)基本上传输到所述第二光学总成(21);和/或...

【专利技术属性】
技术研发人员:维尔纳·克尼贝尔弗罗里安·法尔巴赫
申请(专利权)人:莱卡微系统CMS有限责任公司
类型:发明
国别省市:德国;DE

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