【技术实现步骤摘要】
一种阵列基板及其制备方法
本申请涉及面板领域,具体涉及一种阵列基板及其制备方法。
技术介绍
大尺寸OLED背板为减少走线阻抗采用铜走线作为栅极/源极/漏极,铜稳定性差,暴露在外部环境时容易氧化,因此不能直接用作邦定区邦定:1.对于底发光大尺寸OLED背板邦定区邦定通常使用阳极ITO(氧化铟锡)将铜覆盖住,邦定区邦定为ITO+铜,ITO可靠性较好,目前底发光量产品均为此结构。2.但对于顶发光大尺寸OLED背板,阳极为反射金属层+ITO,一般是银or铝(反射率较高应用于目前的顶发光反射金属),①由于反射金属的蚀刻液(HNO3,H3PO4等)对铜有严重腐蚀;②反射金属稳定性同样不佳,不能满足邦定区邦定的可靠性需求;因此顶发光大尺寸OLED背板的邦定区邦定设计需要检讨方案。
技术实现思路
本专利技术提供了一种阵列基板,包括显示区和邦定区,所述邦定区设于所述显示区的边侧,还包括:基板;若干薄膜晶体管,设于所述基板上,且位于所述显示区,所述薄膜晶体管包括栅极层;第一金属层,设于所述基板上,且位于所述邦定区,所述第一金属层和所述栅极层同时制备成型,所述第一金属层为叠层结构,所述第一金属层远离所述基板一侧的材料为钼、钛、钼钛合金中的至少一种。可选的,在本申请的一些实施例中,所述薄膜晶体管还包括:有源层,设于所述基板上;栅极绝缘层,设于所述有源层上,所述栅极层设于所述栅极绝缘层上;介电层,设于所述基板上,并覆盖所述有源层和所述栅极层,所述介电层自所述显示区延伸至所述邦定区,并覆盖所述第一金属 ...
【技术保护点】
1.一种阵列基板,包括显示区和邦定区,所述邦定区设于所述显示区的边侧,其特征在于,还包括:/n基板;/n若干薄膜晶体管,设于所述基板上,且位于所述显示区,所述薄膜晶体管包括栅极层;/n第一金属层,设于所述基板上,且位于所述邦定区,所述第一金属层和所述栅极层同时制备成型,所述第一金属层为叠层结构,所述第一金属层远离所述基板一侧的材料为钼、钛、钼钛合金中的至少一种。/n
【技术特征摘要】
1.一种阵列基板,包括显示区和邦定区,所述邦定区设于所述显示区的边侧,其特征在于,还包括:
基板;
若干薄膜晶体管,设于所述基板上,且位于所述显示区,所述薄膜晶体管包括栅极层;
第一金属层,设于所述基板上,且位于所述邦定区,所述第一金属层和所述栅极层同时制备成型,所述第一金属层为叠层结构,所述第一金属层远离所述基板一侧的材料为钼、钛、钼钛合金中的至少一种。
2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,
所述薄膜晶体管还包括:
有源层,设于所述基板上;
栅极绝缘层,设于所述有源层上,所述栅极层设于所述栅极绝缘层上;
介电层,设于所述基板上,并覆盖所述有源层和所述栅极层,所述介电层自所述显示区延伸至所述邦定区,并覆盖所述第一金属层;
源漏电极,设于所述介电层远离所述基板的一侧表面,所述源漏电极贯穿所述介电层并连接至所述有源层。
3.根据权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,还包括:
钝化层,设于所述介电层远离所述基板的一侧表面,且覆盖所述源漏电极,并从所述显示区延伸至所述邦定区;
平坦层,设于所述钝化层远离所述介电层的一侧表面,且从所述显示区延伸至所述邦定区,在所述平坦层对应所述第一金属层处设有一开孔,所述开孔贯穿所述平坦层、所述钝化层和所述介电层;
像素电极,设于所述平坦层远离所述钝化层的一侧表面,所述像素电极部分贯穿所述平坦层和所述钝化层,连接至所述源漏电极;
挡墙,设于所述平坦层远离所述钝化层的一侧表面,且覆盖所述像素电极,所述挡墙对应所述像素电极处设有像素开孔;
发光层,设于所述像素开孔内,并连接至所述像素电极。
4.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,还包括
遮光金属层,设于所述基板上,所述遮光金属层对应所述有源层;
缓冲层,设于所述衬底上,且覆盖所述遮光金属层,所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管设于所述缓冲层上。
5.一种阵列基板的制备方法,所述阵列基板包括显示区和邦定区,所述邦定区设于所述显示区的边侧,其特征在于,包括以下步骤:
提供一基板;
在所述基板制备若干薄膜晶体管,所述薄膜晶体管对应所述显示区;
在制备所述薄膜晶体管的栅极层时,在所述邦定区同时制备第一金属层,所述第一金属层为叠层结构,所述第一金属层远离所述基板的一侧为钼、钛或钼钛合金材料。
6.根据权利要求5所述的阵列基板的制备方法,其特征在于,制备所述薄膜晶体管和所述第一金属层包括以下步骤:
在所述基板上制备一层半导体材料,图案化所述半导体材料后形成若干半导体单元,所述半导体...
【专利技术属性】
技术研发人员:郑智琳,唐甲,
申请(专利权)人:深圳市华星光电半导体显示技术有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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