控制显示屏的低分辨率采集方法和设备技术

技术编号:2949076 阅读:182 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及到显示屏的控制设备和方法,其具有:控制显示屏(E)在屏上显示测试图形的控制装置(14);在分辨率低于显示屏分辨率的电子摄像机(12)上生成测试图形图象的成象装置(18);使摄像机上测试图形图象产生偏移的偏移装置(10,20,22);以及对摄像机所提供的多个位移图象进行分析以便对显示屏缺陷像素予以定位的分析装置(14)。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及到显示屏的控制设备与方法。其用来对屏幕进行控制,特别是确定其缺陷像素的数目并能够对这些像素进行定位。专利技术可用于能够显示测试图形或一组周期性或准周期性测试图形的任何类型的屏幕。本专利技术特别用在质量控制应用之中。显示屏的目的或商业价值根据对显示屏上缺陷像素的了解来确定。缺陷像素的定位也是某些情况下对屏幕进行修理,或对屏幕制造方法进行校正的一种办法。现有技术发展水平文件(1)-(7)说明了现有技术的发展水平,在本说明书末尾的全部参考文献中对这些文件进行了详细说明。如上所述,显示屏的一个重要控制参数是是否存在有缺陷像素,以及缺陷像素在屏幕上的位置。对某些特定领域诸如空中监测或医学成象,显示屏中任何缺陷的存在都可能使这些显示屏无法使用。此外,在连续制造的一系列屏幕上检测到的系统性缺陷可能是对诸如丝网印制掩膜或光刻掩膜器件产生影响的某种缺陷的标志。最后,某些屏幕配备有冗余控制电路,可在一定程度上对缺陷予以校正。但是,除非知道缺陷的准确位置否则不可能对其进行校正。能够影响显示屏的某些缺陷通常包括“异常点亮”和“异常熄灭”缺陷。异常点亮缺陷是,即使在像素上没有施加丝毫命令时本文档来自技高网...

【技术保护点】
显示屏控制方法,其包括下述步骤:a)控制待控制屏幕(E)以显示具有至少一个空间周期P的至少一个测试图形;b)使用分辨率低于待控制屏幕分辨率的电子摄像机(12)来采集测试图形的一系列简单图象(I),连续的简单图象各自有偏移,   c)从简单图象开始来建立测试图形的全采样图象(S),d)使用第一傅里叶变换来计算全采样图象的频谱分量,e)通过频谱分量的删除和/或加权对前述步骤产生的频谱变化进行补偿,f)使用步骤e)所产生的频谱分量的第二傅里 叶变换计算出测试图形新图象的空间分量,g)分析新图象。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:T莱罗克斯V吉布尔
申请(专利权)人:埃尔迪姆公司
类型:发明
国别省市:FR[法国]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1
相关领域技术
  • 暂无相关专利