一种多通道相关的低频噪声测试装置及分析方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种多通道相关的低频噪声测试装置及分析方法，所述测试装置包括：待测器件模块，用于为待测器件提供外部的偏置电压，引入待测器件需要关注的噪声信号并输出；第一路噪声测试通路，用于将所述待测器件模块输出的第一路小信号噪声放大和数字化采样以得到第一路数字噪声信号；第二路噪声测试通路，用于将所述待测器件模块输出的第二路小信号噪声放大和数字化采样以得到第二路数字噪声信号；频谱分析模块，用于根据采样后的两路数据，对每个通路分别计算各通道的噪声谱情况，然后再进行两个通路之间的相关性分析或进行噪声消除。

【技术实现步骤摘要】
一种多通道相关的低频噪声测试装置及分析方法
本专利技术涉及低频噪声测试
，特别是涉及一种多通道相关的低频噪声测试装置及分析方法。
技术介绍
随着电子设备精密程度不断提升，对器件的稳定性提出了更高的要求。器件内部噪声成为了制约高精密设备的关键因素。器件内部载流子的涨落形成了器件的主要噪声。为此，开展器件噪声测试分析成为了衡量器件好坏的关键手段之一，同时，器件的低频噪声特性与器件的可靠性之间具有紧密的联系，低频噪声已经成为了表征器件质量和可靠性的重要参数，开展器件低频噪声的测试和分析具有重要的意义。低频噪声测试设备目前主要采用通用仪器构建，通过低噪声放大模块实现对关键信号的处理与识别。在低频噪声采集过程中影响低频噪声测量准确性的因素有两个：1、测量过程受低频噪声电压的随机性影响，导致测试结果有偏差；2、测试设备的噪声掩盖了低频噪声电压，无法识别噪声信号。在实际设备中，测量时间无法无限增长，设备噪底无法设计地非常低，因此，迫切需要提出新的有效手段解决该问题。为了提升低频噪声的测量精度，传统通用仪器搭建的测试系统已经被逐渐完善，各本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多通道相关的低频噪声测试装置，包括：/n待测器件模块，用于为待测器件提供外部的偏置电压，引入待测器件需要关注的噪声信号并输出；/n第一路噪声测试通路，用于将所述待测器件模块输出的第一路小信号噪声放大和数字化采样以得到第一路数字噪声信号；/n第二路噪声测试通路，用于将所述待测器件模块输出的第二路小信号噪声放大和数字化采样以得到第二路数字噪声信号；/n频谱分析模块，用于根据采样后的两路数据，对每个通路分别计算各通道的噪声谱情况，然后再进行两个通路之间的相关性分析或进行噪声消除。/n

【技术特征摘要】
1.一种多通道相关的低频噪声测试装置，包括：
待测器件模块，用于为待测器件提供外部的偏置电压，引入待测器件需要关注的噪声信号并输出；
第一路噪声测试通路，用于将所述待测器件模块输出的第一路小信号噪声放大和数字化采样以得到第一路数字噪声信号；
第二路噪声测试通路，用于将所述待测器件模块输出的第二路小信号噪声放大和数字化采样以得到第二路数字噪声信号；
频谱分析模块，用于根据采样后的两路数据，对每个通路分别计算各通道的噪声谱情况，然后再进行两个通路之间的相关性分析或进行噪声消除。


2.如权利要求1所述的一种多通道相关的低频噪声测试装置，其特征在于，所述第一路噪声测试通路与第二路噪声测试通路分别包括：
低噪声放大器模块，用于将所述待测器件模块输出的第一或第二路小信号噪声放大；
可调增益放大模块，用于依据待测器件输出的信号幅度大小选择合适的信号增益将所述噪声放大器模块放大后的噪声信号进行再次放大输出模拟噪声信号；
低频采样模块，用于对所述可调增益放大模块输出的模拟噪声信号进行采样，将模拟噪声信号转化为第一或第二路数字噪声信号。
...

【专利技术属性】
技术研发人员：岳龙，明志茂，陆裕东，刘远，李汝冠，江雪晨，毛景雄，
申请(专利权)人：广州广电计量检测股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44