用于中性束输入系统的低温泵组件再生方法技术方案

技术编号:29482814 阅读:25 留言:0更新日期:2021-07-30 18:53
本发明专利技术公开用于中性束输入系统的低温泵组件再生方法,低温泵组件包括液氮杜瓦、液氦杜瓦、分子泵、罗茨泵、低温泵、温度测量控制装置,所述液氮杜瓦与低温泵内防辐射挡板连接,所述液氦杜瓦与所述低温泵内低温吸附面连接,低温吸附面上具有活性炭和加热丝,温度测量控制装置连接加热丝,分子泵、罗茨泵分别与低温泵连接;再生过程,包括多次循环进行升温,抽空和制冷,次数大于等于5。本发明专利技术的有益效果:使整个再生过程时间压缩到一小时左右,相比没有控制系统的自然再生过程6‑8小时,大大缩短了再生时间,回温过程能够实现安全稳定快速的回温。

【技术实现步骤摘要】
用于中性束输入系统的低温泵组件再生方法
本专利技术涉及一种中性束输入系统
,尤其涉及的是一种用于中性束输入系统的低温泵组件再生方法。
技术介绍
中性束注入系统是一个复杂而分散的托卡马克注入加热装置,包括注入器系统、真空系统、电源系统、连锁保护系统、束诊断系统和控制系统等。其中,注入器系统由强流离子源、中性化室、偏转磁铁、离子吞食器、束流限制靶、漂移段、功率测量靶和真空室组成。对注入器来说,最重要的是产生高能粒子的离子源和将高能粒子中性化的中性化室。实验中,强流离子源利用大电流气体放电产生初始等离子体,温度一般只有几个电子伏,密度大约1019m-3。初始等离子体中的离子经过精心设计的电极结构而得到加速(20~200keV)。加速后的高能离子再经过中性化室,从中性化室气体中捕获电子而变成高能中性粒子。从中性化室出来的粒子流中除了高能中性粒子外还有部分尚未捕获电子的高能离子和再电离产生的高能离子,这些离子经过偏转磁铁时发生偏转,进入离子吞食器。从真空室出来的中性束经过漂移段后注入等离子体。中性束注入系统的真空性能的优劣关系着束传输效率的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.用于中性束输入系统的低温泵组件再生方法,其特征在于,低温泵组件包括液氮杜瓦、液氦杜瓦、分子泵、罗茨泵、低温泵、温度测量控制装置,所述液氮杜瓦与低温泵内防辐射挡板连接,所述液氦杜瓦与所述低温泵内低温吸附面连接,低温吸附面上具有活性炭和加热丝,温度测量控制装置连接加热丝,分子泵、罗茨泵分别与低温泵连接;/n再生过程,包括多次循环进行的部分再生,部分再生包括升温,抽空和制冷,次数大于等于5;所述部分再生具体为:关闭液氦;加热低温泵吸附面上加热丝到90±5K,温度测量控制装置通过温度传感器测得的温度实时监控加热过程;加热过程中抽出释放的气体,通过监测压力的变化来监控抽气过程;抽气完成后,停止抽气,...

【技术特征摘要】
1.用于中性束输入系统的低温泵组件再生方法,其特征在于,低温泵组件包括液氮杜瓦、液氦杜瓦、分子泵、罗茨泵、低温泵、温度测量控制装置,所述液氮杜瓦与低温泵内防辐射挡板连接,所述液氦杜瓦与所述低温泵内低温吸附面连接,低温吸附面上具有活性炭和加热丝,温度测量控制装置连接加热丝,分子泵、罗茨泵分别与低温泵连接;
再生过程,包括多次循环进行的部分再生,部分再生包括升温,抽空和制冷,次数大于等于5;所述部分再生具体为:关闭液氦;加热低温泵吸附面上加热丝到90±5K,温度测量控制装置通过温度传感器测得的温度实时监控加热过程;加热过程中抽出释放的气体,通过监测压力的变化来监控抽气过程;抽气完成后,停止抽气,待降温到工作温度;打开液氦,逐步降温到4.5-6K,降温完成;
所述再生过程还包括完全再生,所述完全再生过程位于多次部分再生循环后。


2.根据权利要求1所述的用于中性束输入系统的低温泵组件再生方法,其特征在于,所述低温泵组件还包括液氮阀门、液氦阀门,所述液氮阀门连接在所述液氮杜瓦与低温泵的液氮连接管道上,所述液氦阀门连接在所述液氦杜瓦与所述低温泵的液氦连接管道上。


3.根据权利要求1所述的用于中性束输入系统的低温泵组件再生方法,其特征在于,所述低温泵组件还包括压力测量装置、报警装置、控制装置,所述压力测量装置分别连接在液氮连接管道和液氦连接管道上,所述压力测量装置位于所述液氮阀门和所述液氦阀门的后端,所述压力测量装置连接所述报警装置,所述控制装置连接所述液氮阀门、液氦阀门、压力测量装置、报警装置。


4.根据权利要求1所述的用于中性束输入系统的低温泵组件再生方法,其特征在于,所述部分再生的循环次数为5-10次...

【专利技术属性】
技术研发人员:王铭翔谢远来胡纯栋汪金新郎嘉琪陶玲唐宁章思
申请(专利权)人:中国科学院合肥物质科学研究院
类型:发明
国别省市:安徽;34

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