一种用于显示面板缺陷检测的自动对焦方法、装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种用于显示面板缺陷检测的自动对焦方法、装置及系统，涉及显示面板缺陷检测技术领域。本发明专利技术所述的用于显示面板缺陷检测的自动对焦方法，包括：在预定位区域通过相机实时采集显示面板的图像；根据设定条件调整所述相机的位置，以使所述相机采集多张所述图像；通过评价算法确定多张所述图像中清晰度评价分数最高的图像；通过所述清晰度评价分数最高的图像确定对应的激光位移传感器数值；将所述激光位移传感器数值作为对焦参考值实时调整所述相机的位置。本发明专利技术所述的技术方案，通过评价算法对图像清晰度进行评价，减少人工对焦方式可能出现误判的情况，使光学成像系统始终位于合焦位置，确保光学成像系统能高质量清晰地采集到图像。

An automatic focusing device and method for display panel

【技术实现步骤摘要】
一种用于显示面板缺陷检测的自动对焦方法、装置及系统
本专利技术涉及显示面板缺陷检测
，具体而言，涉及一种用于显示面板缺陷检测的自动对焦方法、装置及系统。
技术介绍
显示面板是生产TFT-LCD(Thinfilmtransistorliquidcrystaldisplay，薄膜晶体管液晶显示器)的重要原材料,在其生产过程中,由于各种原因,零部件不可避免会产生多种不同类型的缺陷，包括电路板或是显示面板、滤光片上的各种缺陷。这些缺陷不仅影响产品的性能，给生产厂家造成巨大经济损失，严重时甚至会危害到用户人身安全。目前显示面板尺寸已经从第一代线的300mm×400mm发展到如今第十代线的2850mm×3050mm，随着显示面板尺寸越来越大，检测精度越来越高，对AOI(automaticallyopticalinspection，表面缺陷自动光学(视觉)检测)技术要求越来越高。由于高精度的要求，往往采用高放大倍率的光学成像系统，例如3.5倍、5倍等倍率，高放大倍率光学成像系统的镜头到相机的法兰距很长，这会造成景深很小，常见景深±10μm，小至本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于显示面板缺陷检测的自动对焦方法，其特征在于，包括：/n在预定位区域通过相机实时采集显示面板的图像；/n根据设定条件调整所述相机的位置，以使所述相机采集多张所述图像；/n通过评价算法确定多张所述图像中清晰度评价分数最高的图像；/n通过所述清晰度评价分数最高的图像确定对应的激光位移传感器数值；/n将所述激光位移传感器数值作为对焦参考值实时调整所述相机的位置。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于显示面板缺陷检测的自动对焦方法，其特征在于，包括：
在预定位区域通过相机实时采集显示面板的图像；
根据设定条件调整所述相机的位置，以使所述相机采集多张所述图像；
通过评价算法确定多张所述图像中清晰度评价分数最高的图像；
通过所述清晰度评价分数最高的图像确定对应的激光位移传感器数值；
将所述激光位移传感器数值作为对焦参考值实时调整所述相机的位置。


2.根据权利要求1所述的用于显示面板缺陷检测的自动对焦方法，其特征在于，所述在预定位区域通过相机实时采集显示面板的图像包括：
对所述相机进行对焦预定位，以使所述相机移动至所述预定位区域实时采集所述图像。


3.根据权利要求1所述的用于显示面板缺陷检测的自动对焦方法，其特征在于，所述根据设定条件调整所述相机的位置，以使所述相机采集多张所述图像包括：
根据设定条件驱动Z轴电机，以使所述相机在包含最佳合焦位置的行程内移动采集所述图像，并记录所述图像对应的Z轴位置值和所述激光位移传感器数值作为记录数据。


4.根据权利要求3所述的用于显示面板缺陷检测的自动对焦方法，其特征在于，所述根据设定条件驱动Z轴电机包括：
将行走间距、行程和采集次数中的任意两者组合，以确定所述相机的采集频率，并根据所述采集频率确定所述Z轴电机的运行频率。


5.根据权利要求1所述的用于显示面板缺陷检测的自动对焦方法，其特征在于，所述通过评价算法确定多张所述图像中清晰度评价分数最高的图像包括：
通过方差法、拉普拉斯能量评价法、能量梯度评价法、Brenner函数评价法和Tenegrad函数评价法中的任一种评价算法确定所述清晰度评价分数最高的图像。


6.根据权利要求3所述的用于显示面板缺陷检测的自动对焦方法，其特征在于，所述通过...

【专利技术属性】
技术研发人员：王绍凯，罗川淦，童光红，谭久彬，
申请(专利权)人：哈工大机器人中山无人装备与人工智能研究院，
类型：发明
国别省市：广东;44