一种光场相机的重聚焦方法技术

技术编号:29412233 阅读:31 留言:0更新日期:2021-07-23 22:53
本发明专利技术公开了一种光场相机的重聚焦方法,包括以下步骤:S1、使用光场相机拍摄图像获得光场图像;S2、标定及校正光场图像,获取光场图像的子孔径图像;S3、对子孔径图像进行编号得到编号完成的子孔径图像;所述编号完成的子孔径图像包括编号完成的中心孔径图像和编号完成的非中心孔径图像;S4、将编号完成的非中心孔径图像转换到频域并在频域上进行位移,得到位移后的频域子孔径图像;S5、将位移后的频域子孔径图像转换到空间域得到位移后的空间域子孔径图像;S6、将位移后的空间域子孔径图像与未位移的中心孔径图像一起求和再求平均获得重聚焦图。本发明专利技术利用傅里叶频移定理得到聚焦后的子孔径图像,最终通过这一系列子孔径图像来获得重聚焦图。

【技术实现步骤摘要】
一种光场相机的重聚焦方法
本专利技术涉及光场相机应用领域,具体涉及一种光场相机的重聚焦方法。
技术介绍
光场相机作为一种记录光场来实现被动式三维立体成像的设备,有着广泛的民用与军事领域应用前景。相比于传统成像“所见即所得”的探测形式,光场相机获取的是光辐射的完整分布,也就可以通过变换和积分等数据处理的手段来计算出所需的图像。光场相机最主要的特点就是数字聚焦,但目前的重聚焦方法都要用到插值方法,因此切片的效果不是很好。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是目前的光场相机重聚焦方法都要用到插值方法,切片效果不好的问题,目的在于提供一种光场相机的重聚焦方法,无需用到插值,也能获得更好的切片效果。本专利技术通过下述技术方案实现:一种光场相机的重聚焦方法,包括以下步骤:S1、使用光场相机拍摄图像获得光场图像;S2、标定及校正光场图像,获取光场图像的子孔径图像;S3、对子孔径图像进行编号得到编号完成的子孔径图像;所述编号完成的子孔径图像包括编号完成的中心孔径图像和编号完成的非中心孔径图像;本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光场相机的重聚焦方法,其特征在于,包括以下步骤:/nS1、使用光场相机拍摄图像获得光场图像;/nS2、标定及校正光场图像,获取光场图像的子孔径图像;/nS3、对子孔径图像进行编号得到编号完成的子孔径图像;所述编号完成的子孔径图像包括编号完成的中心孔径图像和编号完成的非中心孔径图像;/nS4、将编号完成的非中心孔径图像转换到频域并在频域上进行位移,得到位移后的频域子孔径图像;/nS5、将位移后的频域子孔径图像转换到空间域得到位移后的空间域子孔径图像;/nS6、将位移后的空间域子孔径图像与未位移的中心孔径图像一起求和再求平均获得重聚焦图。/n

【技术特征摘要】
1.一种光场相机的重聚焦方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、使用光场相机拍摄图像获得光场图像;
S2、标定及校正光场图像,获取光场图像的子孔径图像;
S3、对子孔径图像进行编号得到编号完成的子孔径图像;所述编号完成的子孔径图像包括编号完成的中心孔径图像和编号完成的非中心孔径图像;
S4、将编号完成的非中心孔径图像转换到频域并在频域上进行位移,得到位移后的频域子孔径图像;
S5、将位移后的频域子孔径图像转换到空间域得到位移后的空间域子孔径图像;
S6、将位移后的空间域子孔径图像与未位移的中心孔径图像一起求和再求平均获得重聚焦图。


2.根据权利要求1所述的一种光场相机的重聚焦方法,其特征在于,通过提取指定位置的像素点重排为子孔径图像,子孔径图像的数量由宏像素覆盖的像素点数量决定,子孔径图像的分辨率由宏像素数量决定。


3.根据权利要求1所述的一种光场相机的重聚焦方法,其特征在于,对于S3中编号完成的子孔径图像,对编号完成的中心孔径图像不进行任何操作,只对编号完成的非中心孔径图像进行频域上的位移。


4.根据权利要求1所述的一种光场相机的重聚焦方法,其特征在于,所述编号完成的子孔径图像的编号为(i,j);所述编号完成的子孔径图像用公式表...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘子骥郭任豪方磊李冠廷黄剑雄贺瑛攀梁志清郑兴
申请(专利权)人:电子科技大学
类型:发明
国别省市:四川;51

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