一种用于测试电气性能的设备制造技术

本申请涉及一种用于测试电气性能的设备，其包括电子元件，还包括：用于承载电子元件的承载盘；设于X轴方向上的传输带组件，其用于传输和接受承载盘；设于传输带组件一侧的转盘测试组件，其包括转盘和载具，转盘的外周间隔设有多个测试工位；与测试工位对应设置的测试组件，其包括设于载具上方的测试单元；与测试工位对应设置的驱动单元；以及分别设于转盘两侧的传送组件，其包括靠近转盘设置的抓料单元和设于传输带组件与抓料单元之间的第一传送单元以及取料区；其中，载具被用于固定电子元件，驱动单元驱使载具上升。通过上述方式，本申请中的用于测试电气性能的设备具有传输平稳、测试稳定、安全可靠的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试电气性能的设备
本申请涉及检测设备
，尤其涉及用于测试电气性能的设备。
技术介绍
随着时代的发展，各种高科技电子产品不断更新换代，为了防止不合格的产品流通到市场。检测设备的使用就很有必要了，它能有效减少不符合国家标准的产品流入市场。测试电气性能（LCR）的设备用于测试电子元件各种各样的元件参数，主要是用来测试电感、电容、电阻的参数。现有技术中，测试电气性能（LCR）的设备具有传输不稳定、测试效率低的缺陷，因此，有必要研究一种用于测试电气性能的设备。
技术实现思路
本申请的目的在于提供一种用于测试电气性能的设备，其包括电子元件，还包括：用于承载所述电子元件的承载盘；设于X轴方向上的传输带组件，其用于传输和接受所述承载盘；设于所述传输带组件一侧的转盘测试组件，其包括可转动的转盘和均匀间隔设于所述转盘边沿的载具，所述载具与所述转盘活动连接，所述转盘的外周间隔设有多个测试工位；与所述测试工位对应设置的测试组件，其包括设于所述载具上方的测试单元；与所述测试工位对应设置的驱动单元，其设于所述载具的下方；以及分别设于所述转盘本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测试电气性能的设备，其包括电子元件（110），其特征在于，还包括：/n用于承载所述电子元件（110）的承载盘（120）；/n设于X轴方向上的传输带组件（200），其用于传输和接受所述承载盘（120）；/n设于所述传输带组件（200）一侧的转盘测试组件，其包括可转动的转盘（510）和均匀间隔设于所述转盘（510）边沿的载具（610），所述载具（610）与所述转盘（510）活动连接，所述转盘（510）的外周间隔设有多个测试工位；/n与所述测试工位对应设置的测试组件（700），其包括设于所述载具（610）上方的测试单元（710）；/n与所述测试工位对应设置的驱动单元（620），其设于所述...

【技术特征摘要】
1.一种用于测试电气性能的设备，其包括电子元件（110），其特征在于，还包括：
用于承载所述电子元件（110）的承载盘（120）；
设于X轴方向上的传输带组件（200），其用于传输和接受所述承载盘（120）；
设于所述传输带组件（200）一侧的转盘测试组件，其包括可转动的转盘（510）和均匀间隔设于所述转盘（510）边沿的载具（610），所述载具（610）与所述转盘（510）活动连接，所述转盘（510）的外周间隔设有多个测试工位；
与所述测试工位对应设置的测试组件（700），其包括设于所述载具（610）上方的测试单元（710）；
与所述测试工位对应设置的驱动单元（620），其设于所述载具（610）的下方；以及
分别设于所述转盘（510）两侧的传送组件，其包括靠近所述转盘（510）设置的抓料单元（430）和设于所述传输带组件（200）与所述抓料单元（430）之间的第一传送单元（410）以及设于所述抓料单元（430）与所述第一传送单元（410）之间的取料区（470），所述第一传送单元（410）被配置为运输所述承载盘（120），所述取料区（470）被配置为放置所述承载盘（120），所述抓料单元（430）被配置为抓取所述电子元件（110）；
其中，所述第一传送单元（410）包括设于Y轴方向上的直线模组（411）和用于抓取所述承载盘（120）的抓取气缸模组（412）以及连接所述直线模组（411）与所述抓取气缸模组（412）的升降气缸模组（413），所述载具（610）被用于固定所述电子元件（110），所述驱动单元（620）驱使所述载具（610）上升。


2.如权利要求1所述的用于测试电气性能的设备，其特征在于，所述直线模组（411）的滑块（4111）与所述升降气缸模组（413）连接，所述升降气缸模组（413）的滑台（4131）与所述抓取气缸模组（412）连接。


3.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋朝伟，
申请(专利权)人：荣旗工业科技苏州股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32