显微镜和确定显微镜的测量位置的方法技术

在用于确定显微镜(100)的测量位置(22)的方法中，获得样品载体(10)的概览图像(70)。确定映射或单应性，借助于该映射或单应性，可以基于样品载体(10)的高度(H)将概览图像(70)透视地转换为平面图图像(71)。借助于确定的映射/单应性，在概览图像(70)或从中得出的输出图像中识别出测量位置(22)。此外，还公开了一种对应的显微镜。

【技术实现步骤摘要】
显微镜和确定显微镜的测量位置的方法
本专利技术涉及一种显微镜和用于确定显微镜的测量位置的方法。
技术介绍
在常规显微镜中，样品载体放置在样品台上。样品载体可以包括多个样品容器，并且可以由例如腔室物体载体(多孔腔室载玻片)或带有孔的多孔板形成。在这种情况下，特别地，用户难以可靠地识别显微镜的物镜所指向的孔或测量位置。如果使用手动支架，在其中手动或使用xy平台移动样品台，则通常没有有关样品台位置的有用信息。显微镜图像是通过物镜和下游相机记录的，因此必须记录相应显微镜图像所属的测量位置(例如，多孔板的孔)。为此，需经常计算当前正在检查的多孔板中的孔的行和列，并为记录的显微镜图像手动输入此信息。在此，必须正确考虑多孔板的方向。因此，正确的文档编制需要大量的精力，并且容易出错。还可以记录概览图像，特别是出于文档目的。样品载体的概览图像以通用方法获得，例如通过概览相机。除了从显微镜的物镜接收检测光的照相机之外，还可以存在后者。如果记录了概览图像，则用户通常必须执行现有技术中的上述工作步骤，这将伴随有上述问题。从高内涵筛选中可以看出全本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种确定显微镜(100)的测量位置(22)的方法，包括：/n接收样品载体(10)的概览图像(70)，其特征在于，/n根据样品载体(10)的高度(H)，确定将概览图像(70)从透视图转换为平面图(71)的映射；和/n借助于所确定的映射，来识别概览图像(70)或从中得出的输出图像中的测量位置(22)。/n

【技术特征摘要】
20200120 DE 102020101191.11.一种确定显微镜(100)的测量位置(22)的方法，包括：
接收样品载体(10)的概览图像(70)，其特征在于，
根据样品载体(10)的高度(H)，确定将概览图像(70)从透视图转换为平面图(71)的映射；和
借助于所确定的映射，来识别概览图像(70)或从中得出的输出图像中的测量位置(22)。


2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，
映射为单应性。


3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，
导出的输出图像是平面图图像(71)，平面视图图像(71)借助于确定的单应性，从概览图像(70)计算得出。


4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，
用于平面图图像的测量位置图像坐标存储在存储器中，通过以下方式识别测量位置(22)：
A)借助于确定的单应性，从作为导出的输出图像的概览图像(70)计算平面图图像(71)；
并且将存储在存储器中的测量位置图像坐标识别为平面图图像(71)中的测量位置(22)；或
B)借助于确定的单应性，将存储在存储器中的测量位置图像坐标转换为概览图像(70)的透视图，并且将这些转换后的图像坐标识别为测量位置(22)。


5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，
在样品载体(10)上提供具有已知几何形状的校准图案；
通过图像分析，将校准图案的图像表示定位在概览图像(70)或其他概览图像中；
从校准图案的图像表示的局部相对位置，或校准图案的图像表示的透视畸变，得出样品载体(10)的高度(H)和/或单应性。


6.如权利要求2所述的方法，其特征在于，
通过图像分析，监控概览图像(70)或其他概览图像是否包括具有已知几何形状的校准图案的图像表示，并且在这种情况下，自动在概览图像(70)或其他概览图像中定位校准图案的图像表示，并从校准图案的图像表示的局部位置，或校准图案的图像表示的透视畸变得出样品载体(10)的高度(H)和/或单应性。


7.如权利要求2所述的方法，其特征在于，
确定样品载体(10)的高度(H)；和
在确定的高度(H)的基础上计算或选择单应性。


8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，
通过图像分析，确定概览图像(70)中元素的图像表示的尺寸或位置；和
从元素的图像表示的测量尺寸或位置，得出样品载体(10)的高度(H)或单应性。


9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，
概述图像(70)的图像分析，以识别样品载体(10)的类型；
如果识别出一定的样品载体类型：
-从数据库中检索样品载体(10)的相关几何信息，在该数据库中存储了用于各种样品载体类型的几何信息，其中图像表示借助于几何信息推导而出，或
-从数据库中检索样品载体类型的图像表示，其中存储了各种样品载体类型的图像表示。


10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，
如果在类型识别中，确定了先前未知的样品载体类型：
-请求用户输入关于样品载体(10)的几何信息，和/或
-从具有在概览图像(70)中识别出的已知几何形状的校准图案的图像表示，得出关于样品载体(10)的几何信息，和/或
-请求用户提供校准图案，随后记录其他的概览图像，...

【专利技术属性】
技术研发人员：阿姆托尔·曼努埃尔，哈泽·丹尼尔，高格勒·迈克尔，
申请(专利权)人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE