具有弯曲弹簧的探测器、转动头和测试仪制造技术

技术编号:29328783 阅读:19 留言:0更新日期:2021-07-20 17:45
本发明专利技术涉及一种用于转动头(1)的探测器(19,27),它具有至少一个绕转动轴线(8)可转动地安装的支承臂(21,28,29)、至少一个与该支承臂(21,28,29)联接的探头(22,31)以及至少一个能支承在该转动头(1)上且作用于该支承臂(21,28,29)的弹簧件(20,30),该弹簧件设置用于对该支承臂(21,28,29)施力,该支承臂因所述力而经受与该转动轴线(8)相关的转矩。该支承臂(21,28,29)具有至少一个与该转动轴线(8)同心的用于弹簧件(20,30)的容座(23),该弹簧件在安置于该容座(23)处时至少部分绕该转动轴线(8)弯曲。因此,在转动头(1)工作中作用于弹簧件(20,30)的离心力没有影响弹簧件(20,30)的拉紧。

【技术实现步骤摘要】
具有弯曲弹簧的探测器、转动头和测试仪
本专利技术涉及用于转动头的探测器,其具有至少一个绕转动轴线可转动地安装的支承臂、至少一个与该支承臂相连的探头以及至少一个可支承在该转动头上的且作用于该支承臂的弹簧件,该弹簧件设置用于对该支承臂施力,支承臂因为所述力而经受与该转动轴线相关的转矩。本专利技术还涉及具有至少一个这样的探测器的转动头以及具有至少一个这样的探测器和/或至少一个这样的转动头的测试仪。
技术介绍
尤其是为了借助涡电流方法或漏磁方法检查杆状圆形金属半成品是否有缺陷如裂纹和缩孔,采用被设计成回转系统的测试仪。在这样的回转系统中,探测器安置在测试仪的可转动的转动头上。因为当长条形的待测件通过居中的通孔被移动穿过转动头时转动头连同安置在其上的探测器被转动,故探测器相对于待测件沿螺旋形运动轨迹运动。为了能测量由待测件缺陷部位引起的磁场变化,探测器的针对涡电流方法所预设的探头必须按照预定距离或尽量靠近待测件表面就位。而在漏磁方法中,探头接触待测件并且划擦其表面。在此,它们磨损并且必须定期更换。因此缘故,探头作用于待测件表面的压紧力应该尽量小,而探头未本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于转动头(1)的探测器(19,27),它具有至少一个绕转动轴线(8)可转动地安装的支承臂(21,28,29)、至少一个与该支承臂(21,28,29)联接的探头(22,31)以及至少一个能支承在该转动头(1)上且作用于该支承臂(21,28,29)的弹簧件(20,30),该弹簧件设置用于对该支承臂(21,28,29)施力,该支承臂因所述力而经受与该转动轴线(8)相关的转矩,其中,该支承臂(21,28,29)具有至少一个与该转动轴线(8)同心的、用于该弹簧件(20,30)的容座(23),该弹簧件在安置在该容座(23)处时至少部分绕该转动轴线(8)弯曲。/n

【技术特征摘要】
20200116 DE 102020200480.31.一种用于转动头(1)的探测器(19,27),它具有至少一个绕转动轴线(8)可转动地安装的支承臂(21,28,29)、至少一个与该支承臂(21,28,29)联接的探头(22,31)以及至少一个能支承在该转动头(1)上且作用于该支承臂(21,28,29)的弹簧件(20,30),该弹簧件设置用于对该支承臂(21,28,29)施力,该支承臂因所述力而经受与该转动轴线(8)相关的转矩,其中,该支承臂(21,28,29)具有至少一个与该转动轴线(8)同心的、用于该弹簧件(20,30)的容座(23),该弹簧件在安置在该容座(23)处时至少部分绕该转动轴线(8)弯曲。


2.根据权利要求1所述的探测器(19,27),其特征是,该弹簧件(20,30)是弯曲弹簧或螺旋弹簧或椭圆形弹簧或抛物线形弹簧或波簧或金属丝弹簧或螺旋扭力弹簧。


3.根据权利要求1或2所述的探测器(19,27),其特征是,该弹簧件(20,30)具有用于支承在该转动头(1)的止挡(25)上的支承部(24)。


4.根据权利要求1至3之一所述的探测器(19,27),其特征是,该探测器具有至少一个用于该支承臂(21,28,29)和/或该探头(22,31)的机械的转角限位机构(36)。

【专利技术属性】
技术研发人员:J·彼得斯
申请(专利权)人:普乐福尼克迪特布什有限责任公司
类型:发明
国别省市:德国;DE

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