【技术实现步骤摘要】
用于探测容器中的填充介质的料位的料位传感器
本专利技术涉及一种用于探测容器中的填充介质的料位的料位传感器。该料位传感器具有：带馈电线的发生器、天线、馈电器和控制器。发生器、天线、馈电器和控制器是该料位传感器的重要组件。发生器不仅被构造用于产生具有谐振频率的电磁波而且被构造用于经由馈电线来输出电磁波。在此，馈电线具有线路阻抗，该线路阻抗具有线路阻抗值。馈电器布置在馈电线与天线之间，并且被构造用于将电磁波从馈电线传输到天线。馈电器例如是另一馈电线。天线被构造用于将电磁波辐射到具有填充介质的容器中。沿传输方向将电磁波从馈电线经由馈电器朝向天线传输。由天线辐射的电磁波具有如下传播方向，该传播方向无论如何都基本上与传输方向一致。控制器被构造用于探测由天线辐射的电磁波的由于容器中的填充介质的料位变化引起的在该天线周围的近场的变化。控制器进一步被构造用于通过分析所探测到的该近场的变化来探测容器中的填充介质的料位。在此，近场通过由天线辐射的电磁波来形成并且近场的变化由于容器中的填充介质的料位变化而发生。由...
【技术保护点】
1.一种用于探测容器中的填充介质的料位的料位传感器（1），/n- 其中所述料位传感器（1）具有：带馈电线（9）的发生器（8）、天线（10）、馈电器（11）和控制器（12），/n- 其中所述发生器（8）被构造用于产生具有谐振频率的电磁波并且经由所述馈电线（9）来输出所述电磁波，所述馈电线具有线路阻抗，所述线路阻抗具有线路阻抗值，/n- 其中所述馈电器（11）布置在所述馈电线（9）与所述天线（10）之间，并且被构造用于将所述电磁波从所述馈电线（9）朝向所述天线（10）传输，/n- 其中所述天线（10）被构造用于将所述电磁波辐射到具有填充介质的容器中，/n- 其中将所述电磁波沿传...
【技术特征摘要】
20200116 DE 102020100998.4;20200610 DE 102020115451.一种用于探测容器中的填充介质的料位的料位传感器（1），
-其中所述料位传感器（1）具有：带馈电线（9）的发生器（8）、天线（10）、馈电器（11）和控制器（12），
-其中所述发生器（8）被构造用于产生具有谐振频率的电磁波并且经由所述馈电线（9）来输出所述电磁波，所述馈电线具有线路阻抗，所述线路阻抗具有线路阻抗值，
-其中所述馈电器（11）布置在所述馈电线（9）与所述天线（10）之间，并且被构造用于将所述电磁波从所述馈电线（9）朝向所述天线（10）传输，
-其中所述天线（10）被构造用于将所述电磁波辐射到具有填充介质的容器中，
-其中将所述电磁波沿传输方向（22）从所述馈电线（9）经由所述馈电器（11）朝向所述天线（10）传输，而且
-其中所述控制器（12）被构造用于探测由所述天线（10）辐射的电磁波的由于容器中的填充介质的料位变化引起的在所述天线（10）周围的近场的变化并且被构造用于通过分析所探测到的所述近场的变化来探测所述容器中的填充介质的料位，
其特征在于，
-所述馈电器（11）具有谐振电路（19），
-所述谐振电路（19）和所述天线（10）沿所述传输方向（22）共同具有谐振输入阻抗（ZR），并且所述谐振电路（19）将在所述谐振频率下的谐振输入阻抗（ZR）转换成具有预先给定的谐振阻抗值的实阻抗，而且
-所述天线（10）具有与所述谐振频率不同的天线谐振频率。
2.根据权利要求1所述的料位传感器（1），其特征在于，所述馈电器（11）具有终端电路（20）；而且所述终端电路（20）、所述谐振电路（19）和所述天线（10）沿所述传输方向（22）共同具有终端输入阻抗（ZE），并且所述终端电路（20）将所述终端输入阻抗（ZE）设置到所述线路阻抗值。
3.根据权利要求2所述的料位传感器（1），其特征在于，所述终端电路（20）具有四分之一波长线，其中所述四分之一波长线优选地在使用空气隙的情况下被实现。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的料位传感器（1），其特征在于，所述天线谐振频率大于所述谐振频率。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的料位传感器（1），其特征在于，所述谐振频率在微波的频率范围内。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的料位传感器（1），其特征在于，所述天线（10）被构造用于与所述填充介质直接接触。
7.根据权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员：R·施托希，
申请(专利权)人：克洛纳测量技术有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE
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