标记的鉴定方法和装置制造方法及图纸

为了鉴定一种设置在一物体上的标记（３００），该标记含有一种特殊性能的标记材料（３２０），首先用一种辐射（Ｌ１）扫描第一次参考测量的标记（３００），然后该标记材料（３２０）与一种其特性与标记材料（３２０）一致的检测材料（３１０）进行接触，由于这种一致的特性而从标记材料（３２０）和检测材料（３１０）产生的一种化合物具有发荧光的特性。接着用辐射（Ｌ２）对标记（３００）进行第二次扫描并用两次测量的结果对标记（３００）进行鉴定。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种设置在某种物体上的标记的鉴定方法和装置，该标记含有一种带特殊性能的标记材料。从WO 99/47702 A2中已知这种方法和这种装置。在该已知方法和该已知装置中，标记材料与一种检测材料接触，该检测材料具有一种与该标记材料一致的特殊性能。标记材料和检测材料分别作为核苷酸序列特别是作为脱氧核糖核酸(＝DNA)或肽核酸(＝PNA)构成。当两个相互一致的核苷酸序列以一定的方式进行接触时，则产生杂化。此外，检测材料的核苷酸序列与至少一个荧光团分子化合。该分子只有在与标记材料的核苷酸序列杂化后通过附加的措施才发挥它的荧光特性。然后通过用相应波长的光信号的辐射引起荧光反应，这种荧光反应被用来鉴定标记。在WO 99/47702 A2中，没有对如何精确测定这种荧光反应进行说明。即接收的光辐射由第一部分和第二部分组成，其中第一部分源于杂化了的荧光反应，而第二部分则通过标记上尤其是标记本底上的反射产生。由于只能用荧光部分来进行标记鉴定，所以必须对这部分进行分离。但WO 99/477 02 A2没有提供这方面的任何信息。在最不利的情况中，这两个辐射部分都不能分离，因而不可能进行鉴定。从WO 97/500 53 A2中已知一种测定不可见的、近红外线波长范围内的荧光标记用的、作为所谓荧光反射扫描仪构成的装置。为了在接收的辐射中把源于本底的部分从由荧光反应引起的部分中分离出来，该装置采用了跟踪辐射源功率或特殊的本底材料。功率跟踪是这样进行的，使接收的辐射中由本底引起的部分保持恒定。但功率跟踪需要一个结构相当复杂的调节单元。而且制造荧光反射扫描仪用的元器件也相当昂贵。此外，所述的装置不便搬运，因而也不可能作为手提式仪器使用。上面的论述也适用于在US 5 331 140中描述的、用来测定不可见的荧光标记的另一种装置。为了在接收的辐射中分离出由荧光引起的部分，激励所用的辐射用两个频率进行调制。从接收的辐射导出的电信号中析取这两个频率的互调部分。互调部分由一种随荧光反应伴生的非线性特性产生。调频和互调部分的分离是与相当大的费用联系在一起的。此外，还要用别的复杂的器件，例如可调的偏转镜来使待激励的辐射对准标记的不同部位。JP 11-306276 A描述了一种用来鉴定含有荧光材料的标记的装置。该装置做成手提式仪器的形式。为了分离接收辐射中的本底辐射和荧光辐射，使用了一个昂贵的光学滤波器。此外，该装置完全象上述其他全部装置那样，只适用于探测一种在测量开始之前就已经发出荧光的标记。所以，本专利技术的目的在于，提出一种方法和装置来鉴定设置在某种物体上的、含有特殊性能的标记材料的标记，这种方法和装置操作简单、便捷，而且不用昂贵的器件。特别是，这种装置还可做成便携的手提式仪器的形式。涉及该方法的上述目的是通过一种具有独立权利要求1所述特征的方法来实现的。根据本专利技术，设置在某种物体上的、含有某种特殊性能的标记材料的标记的鉴定方法涉及这一种方法中，在这种方法中a)在第一次测量中用一种辐射扫描标记，并从中确定一个参考点；b)标记材料与一种其特征与该标记材料一致的检测材料进行接触，所以由于这种一致的特性而从该标记材料和检测材料中产生的一种化合物具有发荧光的特性；c)在第二次测量中用辐射扫描标记；d)用参考点和第二次测量的结果鉴定该标记。涉及该装置的上述目的是通过一个具有独立权利要求14所述特征的装置来实现的。根据本专利技术，设置在某种物体上的、含有某种特殊性能的标记材料的标记的鉴定装置涉及这样一种装置，它至少包括a)一个用一种辐射来测量标记用的扫描单元；b)一个有一种检测材料的配料单元，该单元用来使该检测材料与该标记材料产生接触，其中该检测材料具有一种与该标记材料一致的特殊性能，并由于一致的特性而从该标记材料和该检测材料中产生出的一种化合物具有发出荧光的特性；c)一个控制和处理单元，其中该扫描单元、计量单元以及控制和处理单元用于依序实施d)该标记的第一次测量以及从中导出的一个参考值的确定；e)使该标记材料和该检测材料产生接触；f)第二次测量该标记；g)用该参考值和第二次测量的结果鉴定该标记。本专利技术基于这样的认识，通过前面的第一次测量以简单的方式获得的本底辐射的参考值可将本底辐射的部分从荧光辐射的部分中分离出来。即在涂上检测材料后，由于标记材料中和检测材料中的化合物的发荧光的特性，第二次测量范围内接收的辐射除了含有本底辐射部分外，还含有荧光辐射部分。第一次(参考)测量的结果现在用来从第二次测量的结果中消除本底辐射的部分，所以，其后基本上只存在由标记的荧光反应所引起的、令人感兴趣的部分。这样就可对标记进行鉴定。在与检测材料化合之前，标记材料最好不具有或不具有明显的自发荧光的性能。无论如何自发的荧光与检测材料化合后出现的荧光比较，是不明显的。但完全象其余本底那样，标记材料可具有一个小的、例如一个自然的荧光。但标记的和本底的这种必要时存在小的荧光可通过参考测量进行探测并可在第二次测量的分析时一起考虑。之所以能够确定本底辐射的参考值，是因为在涂上探测材料之前，标记还没有或只有不明显的发荧光性能。在先有技术的方法和装置中，没有提供确定本底辐射的参考值的这个特别有利的可能性，因为在该处从一开始就用具有发荧光性能的材料进行工作。由于可用本专利技术的方法和装置依序进行参考测量、输入检测材料和第二次测量，所以可用特别简便的方式鉴定标记。确定参考值可用实际测量反正要用的相同的器件进行。参考测量的考虑可根据从接收的辐射中导出的电信号来进行，最好在事先的数字化后在一个电子计算单元内进行，该计算单元例如是控制和处理单元的组成部分。这样，尽管进行附加的参考测量并在第二次测量的计值时要进行确定的参考值的考虑，但可对标记进行很快的鉴定。该方法和该装置的有利方案可从与权利要求1或14有关的权利要求中得知，虽然下面只给出了一种方法或一种装置的方案所具有的诸多优点，但这些优点以相似的方式同样适用于其他相应的装置或方法的方案。这样的一种方案是有利的，即第一次测量(＝参考测量)、检测材料与标记材料进行接触的步骤和第二次测量在一个紧接着的时间序列中进行。这样就保证了环境条件和尤其是本底特性在参考测量和第二次测量之间不发生变化。所以可获得较好的鉴定结果。此外，由此还可实现很快的鉴定。其次，通过在第二次测量之前涂上检测材料，可防止在进行第二次测量之前标记材料和检测材料中的化合物的分解。另一种有利的实施方式是，即让鉴定用的装置在标记上方运动。特别是，这种运动可用手来进行。此外，所用的装置最好在一个前进的方向内并随即在一个后退的方向内在标记上方运动。通过在标记上方的运动可省去先有技术一般用辐射来扫描标记的昂贵的模拟。通过整个装置的运动，扫描该标记发射的辐射可探测到标记的所有重要部分，而无需为此进行单独的模拟。这样就实现了该装置和该方法的特别简单的方案。此外，该装置在标记上方运动的过程中与标记保持直接接触是有利的，这样就防止了用手进行运动时由于到标记的不同距离而引起结果的波动。此外，通过所用的装置和标记之间的直接接触还可减少甚至完全避免不希望有的杂散辐射的输入。在另一种有利的实施方式中，在标记上方的运动过程中探测位置并在计值中一起考虑。这样就可考虑通常会导致结果失真的运动速度的波动。此外，这本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种设置在一物体（２００）上的标记（３００）的鉴定方法，该标记含有一种具特殊性能的标记材料（３２０），其中：ａ）在第一次测量中用一种辐射（Ｌ１）扫描标记（３００）并从中确定一个参考值；ｂ）标记材料（３２０）与一种检测材料（３ １０）接触，这两种材料具有一致的特殊性能，所以由于这种一致的特殊性能而从标记材料（３２０）和检测材料（３１０）产生的一种化合物具有发荧光的特性；ｃ）在第二次测量中用辐射（Ｌ１）扫描标记（３００）；ｄ）用该参考值和第二次测量的 结果鉴定标记（３００）。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：J凯泽，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]