背向反射式圆极化微波探测天线制造技术

技术编号:29315546 阅读:44 留言:0更新日期:2021-07-17 02:49
本实用新型专利技术公开了一背向反射式圆极化微波探测天线,其中所述背向反射式圆极化微波探测天线包括一圆极化天线体和一背向反射腔体,其中所述圆极化天线体包括一辐射源和一参考地,其中所述辐射源与所述参考地相间隔,其中所述辐射源被圆极化设置,其中所述背向反射腔体具有形成于所述参考地至所述辐射源方向的一背向反射腔,其中所述背向反射腔于所述辐射源至所述参考地方向具有一电磁辐射口,其中所述圆极化天线体以所述辐射源背向所述电磁辐射口的状态被设置于所述背向反射腔体,以通过背向反射的方式,将副波瓣能量合成至主波束而形成对副波瓣的“抑制”效果,从而形成对所述背向反射式圆极化微波探测天线的抗干扰能力和增益的双重提升。增益的双重提升。增益的双重提升。

Back reflection circularly polarized microwave detection antenna

【技术实现步骤摘要】
背向反射式圆极化微波探测天线


[0001]本技术涉及微波探测领域,特别涉及用于微波探测的一背向反射式圆极化微波探测天线。

技术介绍

[0002]微波探测技术作为人与物,物与物之间相联的重要枢纽在行为探测和存在探测技术中具有独特的优势,其能够在不侵犯人隐私的情况下,探测出活动物体,因而具有广泛的应用前景,然而由于缺乏对电磁辐射的有效约束和控制手段,即对电磁辐射覆盖范围的形状调整手段,尤其是对与副波瓣相对应的电磁辐射的抑制手段,微波探测技术在实际应用中于不同应用场景的适应能力、抗干扰能力以及稳定性难以保障。具体地,由于缺乏对与副波瓣相对应的电磁辐射的抑制手段,现有的微波探测技术的实际探测空间难以控制,以致于目标探测空间之外的实际探测空间中与副波瓣相对应的电磁辐射覆盖范围存在环境干扰时,包括动作干扰、电磁干扰以及因对应于副波瓣的电磁辐射覆盖范围具有电磁屏蔽环境而形成的自激干扰,造成现有的微波探测技术的适用性、抗干扰能力以及稳定性难以保障。
[0003]现有的微波探测技术主要采用柱状辐射源结构的微波探测模块和平面辐射源结构的微波探测模块,其中由于柱状辐射源结构的微波探测模块的与其电磁辐射覆盖范围相对应的辐射空间具有辐射死区,在实际使用中,如在垂直探测应用中,当将柱状辐射源结构的微波探测模块安装于吊顶、天花板以及棚顶等垂直方向应用于垂直向下的探测时,该柱状辐射源结构的微波探测模块安装位通常被降低以减小或避免相应辐射空间的辐射死区在该微波探测模块和地面之间的空间形成的探测死区,同时由于柱状辐射源结构的微波探测模块相对于平面辐射源结构的微波探测模块具有较大的副波瓣,柱状辐射源结构的微波探测模块更易受到目标探测空间之外的实际探测空间的环境干扰。也就是说,现有的柱状辐射源结构的微波探测模块在实际使用中的探测距离远小于与其增益大小相匹配的探测距离,并且相对于平面辐射源结构的微波探测模块具有较差的适用性和稳定性,因此,现有的微波探测技术多采用平面辐射源结构的微波探测模块。
[0004]具体地,参考本技术的说明书附图之图1A和1B所示,现有的平面辐射源结构的微波探测模块10P的结构原理和相应的辐射方向图分别被示意,其中该平面辐射源结构的微波探测模块10P包括一平面辐射源12P和一参考地面11P,其中该平面辐射源12P与该参考地面11P相互平行地被间隔设置,且该平面辐射源12P在该参考地面11P的投影位于该参考地面11P之内,则该平面辐射源12P和该参考地面11P之间形成有一辐射缝隙13P,如此则在该平面辐射源12P被馈电时,该平面辐射源12P能够与该参考地面11P耦合而自该辐射缝隙13P以垂直于该平面辐射源12P的物理中心点的轴线为中心轴形成一辐射空间100P,其中该辐射空间100P对应于该平面辐射源结构的微波探测模块10P的电磁辐射覆盖范围而与该平面辐射源结构的微波探测模块10P的实际探测空间相对应。在实际使用中,该参考地面11P至该平面辐射源12P方向为该平面辐射源结构的微波探测模块10P的探测方向,对应该
辐射空间100P在图中的Z轴方向,可知,该辐射空间100P于该方向在相应目标探测面的投射面趋于圆形,即该平面辐射源结构的微波探测模块10P适用于圆形目标探测面和方形目标探测面需求的目标探测空间,其中由于实际应用中圆形目标探测面和方形目标探测面需求的目标探测空间居多,因此该平面辐射源结构的微波探测模块10P对实际应用中的目标探测空间具有一定的适应性。然而由于缺乏对该辐射空间100P的有效约束和控制手段,尤其是以该平面辐射源12P为界于该探测方向的反向方向对该辐射空间100P的抑制,对应于对该辐射空间100P的副波瓣101P(包括后瓣和旁瓣)的抑制,该平面辐射源结构的微波探测模块10P难以抵抗相应目标探测空间之外的实际探测空间中与该副波瓣101P相对应的电磁辐射覆盖范围的环境干扰,包括动作干扰、电磁干扰,以及因对应于所述副波瓣101P的电磁辐射覆盖范围具有电磁屏蔽环境而形成的自激干扰。
[0005]综上所述,由于缺乏对电磁辐射的有效约束和控制手段,尤其是对与副波瓣相对应的电磁辐射的抑制手段,目前的微波探测技术难以稳定地适应于不同应用场景的选择和抵抗相应目标探测空间之外的实际探测空间中与副波瓣相对应的电磁辐射覆盖范围的环境干扰。因此,获取对相应微波探测模块的辐射空间的形状的有效调整手段,尤其是对与副波瓣相对应的电磁辐射的抑制手段,不仅有利于提高微波探测技术于不同应用场景的适应能力,同时有利于提高微波探测技术于相应应用场景的抗干扰能力和稳定性。

技术实现思路

[0006]本技术的一个目的在于提供一背向反射式圆极化微波探测天线,其中所述背向反射式圆极化微波探测天线具有一目标探测方向并能够形成在所述目标探测方向的反向方向被抑制的一辐射空间,即抑制了所述辐射空间的位于一非目标探测空间的一副波瓣,对应减小了所述背向反射式圆极化微波探测天线在所述目标探测方向的反向方向于所述非目标探测空间的电磁辐射,有利于在所述目标探测方向的反向方向避免所述非目标探测空间的动作干扰和电磁干扰,提高了所述背向反射式圆极化微波探测天线对所述非目标探测空间的适应性,和对相应目标探测空间的探测的可靠性。
[0007]本技术的另一目的在于提供一背向反射式圆极化微波探测天线,其中所述背向反射式圆极化微波探测天线的所述副波瓣被抑制,有利于避免与所述副波瓣相对应的电磁辐射在所述非目标探测空间具有电磁屏蔽环境而多次反射造成的自激干扰,从而提高了所述背向反射式圆极化微波探测天线对所述非目标探测空间的适应性,和对相应目标探测空间的探测的可靠性。
[0008]本技术的另一目的在于提供一背向反射式圆极化微波探测天线,其中所述背向反射式圆极化微波探测天线基于多普勒效应原理采用圆极化的电磁辐射探测物体的运动,提高了所述背向反射式圆极化微波探测天线的抗衰减特性和抗雨雾干扰能力,从而有利于满足对运动物体的探测的高探测精度要求和适应户外探测场景。
[0009]本技术的另一目的在于提供一背向反射式圆极化微波探测天线,其中所述背向反射式圆极化微波探测天线包括一辐射源,其中所述辐射源被圆极化设置,以在被馈电状态具有圆极化的极化方式,对应使得所述背向反射式圆极化微波探测天线的电磁辐射具有圆极化形式。
[0010]本技术的另一目的在于提供一背向反射式圆极化微波探测天线,其中基于圆
极化的电磁辐射的旋向正交性,所述背向反射式圆极化微波探测天线的抗多径反射干扰能力被提升,对应所述背向反射式圆极化微波探测天线基于多普勒效应原理获取的探测数据与运动物体之间的关联度被提升,从而有利于提高所述背向反射式圆极化微波探测天线基于多普勒效应原理获取的探测数据对运动物体的反馈的准确度。
[0011]本技术的另一目的在于提供一背向反射式圆极化微波探测天线,其中所述背向反射式圆极化微波探测天线基于多普勒效应原理获取的探测数据对运动物体的反馈的关联度和准确度被提高,对应所述背向反射式圆极化微波探测天线的探测精度被提高,有利于提高所述背向反射本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一背向反射式圆极化微波探测天线,其特征在于,包括:一圆极化天线体,其中所述圆极化天线体包括一辐射源和一参考地,其中所述辐射源与所述参考地相间隔,其中所述辐射源被圆极化设置;和一背向反射腔体,其中所述背向反射腔体具有形成于所述参考地至所述辐射源方向的一背向反射腔,其中所述背向反射腔于所述辐射源至所述参考地方向具有一电磁辐射口,其中所述圆极化天线体以所述辐射源背向所述电磁辐射口的状态被设置于所述背向反射腔体,并形成所述参考地与所述背向反射腔体的电性连接。2.根据权利要求1所述的背向反射式圆极化微波探测天线,其中所述背向反射腔体具有一环形侧腔壁,和对向所述电磁辐射口的一底壁,以形成由所述环形侧腔壁和所述底壁界定的所述背向反射腔,其中所述圆极化天线体以所述辐射源背向所述电磁辐射口的状态对应于所述底壁至所述电磁辐射口的方向与所述参考地至所述辐射源的方向反向的状态。3.根据权利要求2所述的背向反射式圆极化微波探测天线,其中对所述环形侧腔壁的中心轴界定对应于在垂直于所述环形侧腔壁的中心轴的平面上,所述环形侧腔壁的截口曲线为环形,其中以与所述环形侧腔壁的中心轴垂直交叉的直线在所述环形侧腔壁的截线长度为所述环形侧腔壁的直径D,所述环形侧腔壁的直径D满足3λ/4≤D≤5λ/4,其中λ为与所述背向反射式圆极化微波探测天线的频率参数相对应的波长参数。4.根据权利要求3所述的背向反射式圆极化微波探测天线,其中所述电磁辐射口的口径D被设置满足λ/8≤ D ≤λ。5.根据权利要求4所述的背向反射式圆极化微波探测天线,其中以所述环形侧腔壁的中心轴方向为所述环形侧腔壁的高度方向,所述环形侧腔壁的高度参数H满足λ/8≤ H ≤λ。6.根据权利要求5所述的背向反射式圆极化微波探测天线,其中所述背向反射腔体的所述环形侧腔壁被设置为圆环状,对应在垂直于所述环形侧腔壁的中心轴的平面上,所述环形侧腔壁的截口曲线为圆形。7.根据权利要求6所述的背向反射式圆极化微波探测天线,其中所述电磁辐射口被设置与所述环形侧腔壁同中心轴,即所述环形侧腔壁的中心轴穿过所述电磁辐射口的物理中心和垂直于所述电磁辐射口所处...

【专利技术属性】
技术研发人员:邹高迪邹新
申请(专利权)人:深圳迈睿智能科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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