【技术实现步骤摘要】
一种可有效避免静电效应的集成电路测试载板
[0001]本技术涉及测试载板
,具体为一种可有效避免静电效应的集成电路测试载板。
技术介绍
[0002]测试载板是用以承载完成制程的集成电路并与测试机台耦接,使测试机台藉由测试载板检测集成电路的功能是否正常,并剔除功能不完全的集成电路,因为集成电路是安装在测试载板上的,测试载板在经过多次的安装和拆卸后会产生静电,而静电对电子工业具有危害,主要表现有尘埃吸附、静电放电和静电感应,因此测试载板在长时间使用后产生的静电会对集成电路造成影响,从而导致测试结果的不准确性,鉴于此,我们提出一种可有效避免静电效应的集成电路测试载板。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于提供一种可有效避免静电效应的集成电路测试载板,以解决上述
技术介绍
中提出测试载板在经过多次的安装和拆卸后会产生静电,而静电对电子工业具有危害,主要表现有尘埃吸附、静电放电和静电感应,因此测试载板在长时间使用后产生的静电会对集成电路造成影响,从而导致测试结果不准确性的问题。
[0004]为实现上述目的, ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种可有效避免静电效应的集成电路测试载板,其特征在于:包括固定底座(1),所述固定底座(1)的表面且靠近前后两侧边缘的位置粘接有两组对称分布的缓冲弹簧(2),每组由多个等间距排布的缓冲弹簧(2)组成,所述缓冲弹簧(2)的顶部设有载板组件(4),所述载板组件(4)包括测试基板(40),所述测试基板(40)的表面设有接头(400),所述测试基板(40)的顶部设有防静电PVC板(41),所述防静电PVC板(41)的表面开设有与所述接头(400)位置相对应的矩形通槽(410),所述测试基板(40)的底部开设有蛇形槽(401),所述蛇形槽(401)内粘接有蛇形铜片(42),所述蛇形铜片(42)的底部设有多个等间距排布的第一静电释放柱(420),所述测试基板(40)的外侧设有导电金属框(43),所述导电金属框(43)内壁的左右两侧之间且靠近底部的位置设有对称分布的导电金属条(430),所述导电金属条(430)的底部设有多个等间距排布的第二静电释放柱(4300),所述固定底座(1)后侧的中部水平设有凸板(10),所述凸板(10)表面的端部竖直设有L形固定板(11),所述L形固定板(11)的顶部且靠近端部的...
【专利技术属性】
技术研发人员:高勇,常海,何启芃,董海琪,樊璐,
申请(专利权)人:西安正芯云尚电子技术有限公司,
类型:新型
国别省市:
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