基于机舱双曲分段建造的下口定位自检方法及装置、介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种基于机舱双曲分段建造的下口定位自检方法及装置、介质，该方法包括：导入船体模型，确定船体模型中表征分段下口的参考截面；根据参考截面确定首口基准点和尾口基准点，根据首口基准点和尾口基准点确定定位辅助线；从参考截面中确定至少两个自检参考点，将自检参考点到定位辅助线的距离确定为自检距离，其中，自检参考点位于参考截面的外板下口；根据定位辅助线和自检距离生成自检参考值模板；获取余量测量值，根据余量测量值和自检参考值模板得到自检结果。根据本发明专利技术实施例的技术方案，能够自动生成参考值模板，根据参考值模板对余量测量值进行自动自检，有效提高了下口定位自检的效率和准确性。了下口定位自检的效率和准确性。了下口定位自检的效率和准确性。

【技术实现步骤摘要】
基于机舱双曲分段建造的下口定位自检方法及装置、介质


[0001]本专利技术涉及但不限于造船
，尤其涉及一种基于机舱双曲分段建造的下口定位自检方法及装置、介质。

技术介绍

[0002]随着造船技术的提升，船舶机舱双曲分段大多采用反造的方式。反造的方式虽然有利于简化胎架制作，但是机舱双曲分段设计的下口都是带有余量的，由于分段反造时下口远离胎架面，采用传统的吊线或者拉尺的方式进行下口定位自检很容易受到内部结构的干扰，较难实时，因此采用分段反造的方式面临着带余量的分段下口精度定位和自检困难的问题。

技术实现思路

[0003]以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
[0004]本专利技术实施例提供了一种基于机舱双曲分段建造的下口定位自检方法及装置、介质，能够实现精准、高效、简单地完成分段下口定位。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种基于机舱双曲分段建造的下口定位自检方法，包括：
[0006]导入船体模型，确定所述船体模型中表征分段下口的参考截面；
[0007]根据所述参考截面确定首口基准点和尾口基准点，根据所述首口基准点和所述尾口基准点确定定位辅助线；
[0008]从所述参考截面中确定至少两个自检参考点，将所述自检参考点到所述定位辅助线的距离确定为自检距离，其中，所述自检参考点位于所述参考截面的外板下口；
[0009]根据所述定位辅助线和所述自检距离生成自检参考值模板；
[0010]获取余量测量值，根据所述余量测量值和所述自检参考值模板得到自检结果。
[0011]本专利技术实施例包括：导入船体模型，确定所述船体模型中表征分段下口的参考截面；根据所述参考截面确定首口基准点和尾口基准点，根据所述首口基准点和所述尾口基准点确定定位辅助线；从所述参考截面中确定至少两个自检参考点，将所述自检参考点到所述定位辅助线的距离确定为自检距离，其中，所述自检参考点位于所述参考截面的外板下口；根据所述定位辅助线和所述自检距离生成自检参考值模板；获取余量测量值，根据所述余量测量值和所述自检参考值模板得到自检结果。根据本专利技术实施例的技术方案，能够自动生成参考值模板，根据参考值模板对余量测量值进行自动自检，有效提高了下口定位自检的效率和准确性。
[0012]作为上述方案的进一步改进，所述确定首口基准点和尾口基准点，包括：
[0013]从所述参考截面获取首口参考点和尾口参考点；
[0014]获取预先设定的基准偏移值，根据所述基准偏移值和所述首口参考点确定所述首
口基准点，根据所述基准偏移值和所述尾口参考点确定所述尾口基准点。
[0015]作为上述方案的进一步改进，在所述确定所述船体模型中表征分段下口的参考截面之后，所述方法还包括：
[0016]确定参考辅助线，所述参考辅助线包括船体中心线和肋位参考线。
[0017]作为上述方案的进一步改进，所述获取余量测量值，包括：
[0018]从所述肋位参考线中确定无余量点；
[0019]获取所述无余量点与所述外板下口的距离作为所述余量测量值。
[0020]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种基于机舱双曲分段建造的下口定位自检装置，包括：
[0021]截面获取单元，用于导入船体模型，确定所述船体模型中表征分段下口的参考截面；
[0022]定位辅助线获取单元，用于根据所述参考截面确定首口基准点和尾口基准点，根据所述首口基准点和所述尾口基准点确定定位辅助线；
[0023]自检参考点确定单元，用于从所述参考截面中确定至少两个自检参考点，将所述自检参考点到所述定位辅助线的距离确定为自检距离，其中，所述自检参考点位于所述参考截面的外板下口；
[0024]自检参考值模板生成单元，用于根据所述定位辅助线和所述自检距离生成自检参考值模板；
[0025]自检单元，用于获取余量测量值，根据所述余量测量值和所述自检参考值模板得到自检结果。
[0026]作为上述方案的进一步改进，所述定位辅助线获取单元还包括：
[0027]参考点获取单元，用于从所述参考截面获取首口参考点和尾口参考点；
[0028]基准点确定单元，用于获取预先设定的基准偏移值，根据所述基准偏移值和所述首口参考点确定所述首口基准点，根据所述基准偏移值和所述尾口参考点确定所述尾口基准点。
[0029]作为上述方案的进一步改进，还包括：
[0030]辅助线获取单元，用于确定参考辅助线，所述参考辅助线包括船体中心线和肋位参考线。
[0031]作为上述方案的进一步改进，所述自检单元还包括：
[0032]无余量点获取单元，用于从所述肋位参考线中确定无余量点；
[0033]余量测量值获取单元，用于获取所述无余量点与所述外板下口的距离作为所述余量测量值。
[0034]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的基于机舱双曲分段建造的下口定位自检方法。
[0035]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0036]附图用来提供对本专利技术技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术的技术方案，并不构成对本专利技术技术方案的限制。
[0037]图1是本专利技术一个实施例提供的基于机舱双曲分段建造的下口定位自检方法的流程图；
[0038]图2是本专利技术另一个实施例提供的自检参考值模板的示意图；
[0039]图3是本专利技术另一个实施例提供的确定基准点的流程图；
[0040]图4是本专利技术另一个实施例提供的确定辅助线的流程图；
[0041]图5是本专利技术另一个实施例提供的获取余量测量值的流程图；
[0042]图6是本专利技术另一个实施例提供的基于机舱双曲分段建造的下口定位自检装置的示意图；
[0043]图7是本专利技术另一个实施例提供的电子设备的装置示意图。
具体实施方式
[0044]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0045]需要说明的是，虽然在装置示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书、权利要求书或上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
[0046]下面结合附图，对本专利技术实施例作进一步阐述。
[0047]如图1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于机舱双曲分段建造的下口定位自检方法，其特征在于，包括：导入船体模型，确定所述船体模型中表征分段下口的参考截面；根据所述参考截面确定首口基准点和尾口基准点，根据所述首口基准点和所述尾口基准点确定定位辅助线；从所述参考截面中确定至少两个自检参考点，将所述自检参考点到所述定位辅助线的距离确定为自检距离，其中，所述自检参考点位于所述参考截面的外板下口；根据所述定位辅助线和所述自检距离生成自检参考值模板；获取余量测量值，根据所述余量测量值和所述自检参考值模板得到自检结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述参考截面确定首口基准点和尾口基准点，包括：从所述参考截面获取首口参考点和尾口参考点；获取预先设定的基准偏移值，根据所述基准偏移值和所述首口参考点确定所述首口基准点，根据所述基准偏移值和所述尾口参考点确定所述尾口基准点。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述确定所述船体模型中表征分段下口的参考截面之后，所述方法还包括：确定参考辅助线，所述参考辅助线包括船体中心线和肋位参考线。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取余量测量值，包括：从所述肋位参考线中确定无余量点；获取所述无余量点与所述外板下口的距离作为所述余量测量值。5.一种基于机舱双曲分段建造的下口定位自检装置，其特征在于，包括：截面获取单元，用于导入船体模型，确定所述船体模型中表征分段下口的参考截面；定位辅助线获取单元，用于根据所述参考截面确定首口基准点和尾口基准点，根据所述首口基准点和所述尾口基准点确定定位辅助线；自...

【专利技术属性】
技术研发人员：严海马，叶健冲，
申请(专利权)人：江门市南洋船舶工程有限公司，
类型：发明
国别省市：