一种通用数字集成电路测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种通用数字集成电路测试仪，包括单片机、键盘、待测芯片插座及显示屏，所述待测芯片插座分为14脚插座、16脚插座及20脚插座，所述的单片机为STC12C5A60S2单片机，所述的测试仪还包括发光二极管，所述发光二极管设置两组，一组为红色一组为绿色，所述的单片机还包括RS232通讯单元，所述的RS232通讯单元与电脑的9针串口相连接。所述的显示屏上设置1602LCD接口，所述的键盘使用HD7279A芯片与单片机连接，所述的键盘为4*4按键阵列。本实用新型专利技术利用单片机内置的测试程序对芯片进行测试，工作人员仅需要插上芯片及输入芯片型号便可对芯片进行准确的测试，工作量小，测试效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种通用数字集成电路测试仪
本技术涉及一种测试设备，具体的说，是一种对集成电路进行测试的测试仪。
技术介绍
74系列TTL集成电路和4000系列CMOS电路是很常用的数字集成电路，特别是在高校的电子技术实验实训中大量使用，但是由于学生使用不当或者违规操作等，这些集成电路可能会发生损坏，每次实验结束，老师需要对用过的集成电路进行测试，清除损坏的芯片，工作量很大，实验室需要配备一种快速数字集成电路测试仪，以提高工作效率，降低相应工作量。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种可有效减轻工作人员负担的数字集成电路测试仪。本技术采用如下技术手段实现：一种通用数字集成电路测试仪，包括单片机、键盘、待测芯片插座及显示屏，所述的单片机与待测芯片插座、键盘及显示屏连接，所述单片机根据键盘输入的待测芯片型号调用对应的测试程序对待测芯片插座上设置的芯片进行测试，并将结果显示在显示屏上，红绿发光二极管指示灯提示芯片正常或者故障，测试结果同时发送给电脑。所述待测芯片插座分为14脚插座、16脚插座及20脚插座，所述的待测芯片插座的管脚与单片机的P1.0~P1.7、P2.0~P2.7以及P3.2、P3.3连接。所述的单片机为STC12C5A60S2单片机，所述的测试仪还包括发光二极管，所述发光二极管设置两组，一组为红色一组为绿色，所述的发光二极管与单片机的P4.0、P4.2管脚连接。所述的单片机还包括RS232通讯单元，所述的RS232通讯单元与电脑的9针串口相连接。所述的显示屏上设置1602LCD接口，所述1602LCD接口的DD0~DD7为数据总线，与单片机的P0.0~P0.7相连；RS、RW、E为控制端，与单片机的P3.4~P3.6相连，所述显示屏可以显示16*2个字符。所述的键盘使用HD7279A芯片与单片机连接，HD7279A通过CS、DAT、KEY、CLK与单片机的P5.0~P5.3相连，与单片机之间传递数据和指令，所述的键盘为4*4按键阵列，其包括0~9数字键、以及确认键、重复键、清除键、数据发送键、光标下移键、光标上移键共16个按键。本技术利用单片机内置的测试程序对芯片进行测试，工作人员仅需要插上芯片及输入芯片型号便可对芯片进行准确的测试，工作量小，测试效率高。附图说明图1为本技术组成框图；图2为本技术14脚插座示意图；图3为本技术16脚插座示意图；图4为本技术20脚插座示意图；图5为本技术单片机管脚示意图；图6为本技术1602LCD接口管脚示意图；图7为本技术按键管脚示意图；图8为本技术键盘智能控制芯片管脚示意图；图9为本技术发光二极管管脚连接示意图。具体实施方式下面结合说明书附图对本技术进行进一步详述：本技术涉及一种通用数字集成电路测试仪，包括单片机、键盘、待测芯片插座及显示屏，所述的单片机与待测芯片插座、键盘及显示屏连接，所述单片机根据键盘输入的待测芯片型号对待测芯片插座上设置的芯片进行测试，并将结果显示在显示屏上，红绿发光二极管指示灯提示芯片正常或者故障，测试结果同时发送给电脑。由于74系列和4000系列通用数字集成电路常用的是3种管脚——14脚、16脚、20脚，因此，测试仪上就使用了3种插座：14脚插座、16脚插座及20脚插座——分别插入不同管脚的芯片。所述的待测芯片插座的管脚与单片机的P1.0~P1.7、P2.0~P2.7以及P3.2、P3.3连接。本测试仪使用的是STC12C5A60S2的LQFP48脚封装，拥有38个I/O引脚。P1.0~P1.7、P2.0~P2.7、P3.2、P3.3连接待测芯片插座；P5.0`P5.3用于4*4键盘阵列；P0.0~P0.7以及P3.4~P3.6用于1602LCD控制；RXD、TXD用于RS232通讯；P4.0、P4.2用于红绿发光二极管指示灯控制。所述的测试仪还包括发光二极管，所述发光二极管设置两组，一组为红色一组为绿色，所述的发光二极管与单片机的P4.0、P4.2管脚连接，当芯片测试正常时，单片机P4.2脚为高电平，绿色发光二极管点亮；若芯片测试不正常时，单片机P4.3脚为高电平，红色发光二极管点亮。所述的单片机还包括RS232通讯单元，所述的RS232通讯单元与电脑的9针串口相连接，可以将测试结果发送到电脑上显示。所述的显示屏上设置1602LCD接口，所述1602LCD接口的DD0~DD7为数据总线，与单片机的P0.0~P0.7相连；RS、RW、E为控制端，与单片机的P3.4~P3.6相连，显示屏即1602LCD可以显示16*2个字符，用于显示待测芯片功能测试的一些基本情况。所述的键盘使用HD7279A芯片与单片机连接，HD7279A通过CS、DAT、KEY、CLK与单片机的P5.0~P5.3相连，与单片机之间传递数据和指令，所述的键盘为4*4按键阵列，其包括0~9数字键、以及确认键、重复键、清除键、数据发送键、光标下移键、光标上移键共16个按键。本技术可十分便利与准确地对芯片进行测试，下面通过一个具体的例子来说明本测试仪测试芯片的操作：以测试常用的4双输入与非门7400芯片为例，将需要测试的7400芯片放入14脚JP3插座中，然后在4*4键盘阵列上用数字键输入芯片型号7400，再按下确认键，测试仪就调用7400芯片所对应的测试子程序进行测试。单片机中已经固化了所有常用74系列TTL集成电路和4000系列CMOS电路的测试子程序，所有测试子程序均按照具体型号集成电路的功能编写，对于7400芯片来说，由于每片7400芯片封装内包含了4个完全独立的双输入与非门，7400芯片测试子程序依次对4个与非门进行测试。对于每一个与非门，单片机先在与非门的2个输入引脚输入低电平-低电平信号，读取此时芯片的响应输出，按照与非门的功能，此时正确的输出电平应该是高电平；然后再按照以下顺序先后输入低电平-高电平信号、高电平-低电平信号、高电平-高电平信号，先后读取芯片的响应输出，正确的输出电平应该依次是高电平、高电平和低电平。单片机读取芯片的响应输出后，根据芯片的输出结果与理论值的异同判断芯片工作是否正常，若不正常，则红色发光二极管点亮，同时测试的具体情况在1602LCD上显示（包括是芯片封装内哪一片与非门故障以及故障的具体现象等），1602LCD每次只能显示2行32个字符，若显示数据量较大时，1屏无法全部显示，这时可以通过光标下移键和光标上移键翻屏显示；若测试正常，则绿色发光二极管点亮，1602LCD上则显示OK。按下4*4键盘阵列上重复键，则可以对原芯片重新测试一遍；按下数据发送键，则将测试结果以及测试的具体信息通过RS232串口发送给电脑。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种通用数字集成电路测试仪，其特征在于：包括单片机、键盘、待测芯片插座及显示屏，所述的单片机与待测芯片插座、键盘及显示屏连接，所述单片机根据键盘输入的待测芯片型号调用对应的测试程序对待测芯片插座上设置的芯片进行测试，并将结果显示在显示屏上，红绿发光二极管指示灯提示芯片正常或者故障，测试结果同时发送给电脑。/n

【技术特征摘要】
1.一种通用数字集成电路测试仪，其特征在于：包括单片机、键盘、待测芯片插座及显示屏，所述的单片机与待测芯片插座、键盘及显示屏连接，所述单片机根据键盘输入的待测芯片型号调用对应的测试程序对待测芯片插座上设置的芯片进行测试，并将结果显示在显示屏上，红绿发光二极管指示灯提示芯片正常或者故障，测试结果同时发送给电脑。


2.根据权利要求1所述的一种测试仪，其特征在于：所述待测芯片插座分为14脚插座、16脚插座及20脚插座，所述的待测芯片插座的管脚与单片机的P1.0~P1.7、P2.0~P2.7以及P3.2、P3.3连接。


3.根据权利要求1所述的一种测试仪，其特征在于：所述的单片机为STC12C5A60S2单片机，所述的测试仪还包括发光二极管，所述发光二极管设置两组，一组为红色一组为绿色，所述的发光二极管与单片机的P4.0、P4.2管脚连接。

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【专利技术属性】
技术研发人员：许弋，
申请(专利权)人：无锡职业技术学院，
类型：新型
国别省市：江苏;32