一种光学测试平台试件位置调节装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及光学测试技术领域，具体是一种光学测试平台试件位置调节装置，包括底座，所述底座上端左右两侧均连接有支撑板，支撑板中部内侧开设有光学检测主机，支撑板上端连接有顶板，顶板上端右侧设置有正反电机,正反电机上端连接有转轴，转轴上端连接有齿轮，底座上端中部滑动连接有支撑台,支撑台内侧上端设置有第一套筒,第一套筒中部转动连接有第一转杆，第一转杆下侧开设有外螺纹，第一转杆上端开设有齿槽，齿槽位于顶板上端，齿槽与齿轮相配合，该装置可以使被测物件多方位进行对焦，在测试过程中方便调节。

【技术实现步骤摘要】
一种光学测试平台试件位置调节装置
本技术涉及光学测试
，具体是一种光学测试平台试件位置调节装置。
技术介绍
光学检测平台是安装光学检测主机及试件的关键性基础承载装置，其主要作用是实现检测过程中的重心稳定与姿态平衡，现有的光学检测平台通常包括位于底部的支撑框架，在检测过程中，试件和光学检测主机分别固定于支撑框架的上、下两端，并通过安装在其上的驱动系统、传动系统、传感系统等附属装置实现检测过程中试件位置的精密对焦调整，以完成整个光学检测操作。现有的光学测试平台大多数都是固定的，在测试过程中难以进行多角度调节位置。本技术旨在解决现有技术中存在的技术问题，为此，提出一种光学测试平台试件位置调节装置。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种光学测试平台试件位置调节装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种光学测试平台试件位置调节装置，包括底座，所述底座上端左右两侧均连接有支撑板，支撑板中部内侧开设有光学检测主机，支撑板上端连接有顶板，顶板上端中部开设有第二滑槽，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学测试平台试件位置调节装置，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）上端左右两侧均连接有支撑板（3），支撑板（3）中部内侧开设有光学检测主机（21），支撑板（3）上端连接有顶板（5），顶板（5）上端中部开设有第二滑槽（26），顶板（5）上端右侧设置有正反电机（10）,正反电机（10）下端连接有第二滑块（27），正反电机（10）上端连接有转轴（9），转轴（9）上端连接有齿轮（8），底座（1）上端中部滑动连接有支撑台（15）,支撑台（15）内侧上端设置有第一套筒（19）,第一套筒（19）中部转动连接有第一转杆（6），第一转杆（6）穿过第二滑槽（26），第一转杆（6）下侧开设有外螺纹（1...

【技术特征摘要】
1.一种光学测试平台试件位置调节装置，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）上端左右两侧均连接有支撑板（3），支撑板（3）中部内侧开设有光学检测主机（21），支撑板（3）上端连接有顶板（5），顶板（5）上端中部开设有第二滑槽（26），顶板（5）上端右侧设置有正反电机（10）,正反电机（10）下端连接有第二滑块（27），正反电机（10）上端连接有转轴（9），转轴（9）上端连接有齿轮（8），底座（1）上端中部滑动连接有支撑台（15）,支撑台（15）内侧上端设置有第一套筒（19）,第一套筒（19）中部转动连接有第一转杆（6），第一转杆（6）穿过第二滑槽（26），第一转杆（6）下侧开设有外螺纹（14），第一转杆（6）上端开设有齿槽（7），第一转杆（6）上端连接有第二连接块（28），第二连接块（28）位于齿槽（7）下侧，第二连接块（28）左侧开设有第二套筒（29），第一转杆（6）位于第二套筒（29）之中，第二连接块（28）右端与正反电机（10）相连接，齿槽（7）位于顶板（5）上端，齿槽（7）与齿轮（8）相配合。


2.根据权利要求1所述的一种光学测试平台试件位置调节装置，其特征在于，所述第一转杆（6）中部连接有...

【专利技术属性】
技术研发人员：时岱，白昱，
申请(专利权)人：时代科技深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44