一种用于超声波无损检测的便携式校准/对比试块制造技术

本发明专利技术公开了一种用于超声波无损检测的便携式校准/对比试块，包括本体，开设在本体左侧的左侧圆弧面，开设在本体右侧的右侧圆弧面和直角临边侧，开设在本体中部的横孔，以及设置在本体中部的测定折射角。本发明专利技术可用于超声检测，具有加工方面简单；试块体积小巧；将CSK

【技术实现步骤摘要】
一种用于超声波无损检测的便携式校准/对比试块


[0001]本专利技术属于无损检测领域，具体涉及一种用于超声波无损检测的便携式校准/对比试块，用于超声检测现场仪器试块探头调节与校核，也可用于超声检测距离
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波幅曲线的灵敏度调节，特征在于能加工方面简单，试块体积小巧；将CSK
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IA和CSK
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IIA两块试块的部分功能集中设计在一块试块上，满足现场校核需要。

技术介绍

[0002]试块是超声波探伤的重要设备之一。在脉冲反射法超声波探伤过程中，是通过仪器荧光屏上反射回波的位置、高度、波形的静态和动态特征变量来表征被检材料或工件质量的优劣的。然而，这些变量与缺陷之间的声学关系是十分复杂的，同时还存在着仪器和探头、材料或工件材质、耦合条件等多种影响因素。因此，不能单靠调节仪器上的有关旋钮和简单的计算结果来完成对缺陷的定性、定量和定位等任务。所以，采用将仪器检出变量与已知的简单形状的人工反射体的相应位置的已知信号量进行比较的方法来进行评定。即利用这些人工反射体在荧光屏上的回波为尺度来衡量被检材料或工件缺陷的反射回波，从而评价其质量。现在我们用到的试块种类繁多，然而在超声检验时由于现场环境复杂需要做超声检验时，现场条件往往有限，携带大量试块很不方便，而且购买大量试块成本过高，这样就会不满足现场要求。
[0003]现有的超声检验试块虽然已经日渐成熟，但仍存在一些不足，如：
[0004]1、在携带与使用过程中，需要携带、购买多种试块，不利于节约成本、人力、物力。r/>[0005]2、常用的试块在使用、存储、运输时，复杂，不利于现场检测。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的是针对上述现有的不足之处，设计一种用于超声波无损检测的便携式校准/对比试块。
[0007]为实现以上目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0008]一种用于超声波无损检测的便携式校准/对比试块，包括本体，开设在本体左侧的左侧圆弧面，开设在本体右侧的右侧圆弧面和直角临边侧，开设在本体中部的横孔，以及设置在本体中部的测定折射角。
[0009]本专利技术进一步的改进在于，左侧圆弧面的半径为R100。
[0010]本专利技术进一步的改进在于，右侧圆弧面的半径为R50。
[0011]本专利技术进一步的改进在于，直角临边侧位于右侧下底面处。
[0012]本专利技术进一步的改进在于，横孔贯穿本体的前端和后端。
[0013]本专利技术进一步的改进在于，横孔的数量为两个。
[0014]本专利技术进一步的改进在于，本体上设有刻度。
[0015]本专利技术进一步的改进在于，本体近似呈梯形体，所述梯形体包括上底面、下底面、左斜面、右斜面、前端面和后端面，所述上底面平行于下底面且长度小于下底面，所述上底
面与左斜面的内夹角为160
°
，所述上底面与右斜面的内夹角为150
°
，所述下底面与左斜面通过左过渡面过渡连接，所述下底面与右斜面通过右过渡面过渡连接，所述左过渡面、右过渡面均垂直于下底面。
[0016]本专利技术至少具有如下有益的技术效果：
[0017]本专利技术中所述的检验设备一方面解决了现场检验携带试块繁多问题，另一方面解决了可由一块试块实施校准与进行调试的检验问题。具体的，包括以下优点：
[0018]1.本专利技术设计加工方面简单。
[0019]2.试块体积小巧。
[0020]3.试块更轻便。
[0021]4.试块将CSK
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IA试块和CSK
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IIA两块试块的部分功能集中设计在一块试块上，满足现场校核需要。
附图说明
[0022]图1是本专利技术的主视图结构示意图。
[0023]图2是本专利技术的透视图结构示意图。
[0024]图3是本专利技术的俯视图结构示意图。
[0025]图4是本专利技术的左视图结构示意图
[0026]附图标记说明：
[0027]1‑
左侧圆弧面，2
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横孔，3
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折射角，4
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右侧圆弧面，5
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直角临边侧。
具体实施方式
[0028]以下给出本专利技术的具体实施例，需要说明的是本专利技术并不局限于以下具体实施例，凡在本申请技术方案基础上做的等同变换均落入本专利技术的保护范围。
[0029]如图1至图4所示，本专利技术提供的一种用于超声波无损检测的便携式校准/对比试块，所述校核试块近似呈梯形体，所述梯形体包括上底面、下底面、左斜面、右斜面、前端面和后端面，所述上底面平行于下底面且长度小于下底面，所述上底面与左斜面的内夹角为160
°
，所述上底面与右斜面的内夹角为150
°
，所述下底面与左斜面通过左过渡面过渡连接，所述下底面与右斜面通过右过渡面过渡连接,所述左过渡面、右过渡面均垂直于下底面；所述校核试块上设有从前端面垂直贯穿至后端面的圆孔；所述校核试块上设有刻度。
[0030]具体的，如图1和图2所示，本专利技术提供的一种用于超声波无损检测的便携式校准/对比试块，包括本体，开设在本体左侧的左侧圆弧面1，开设在本体右侧的右侧圆弧面4和直角临边侧5，开设在本体中部的横孔2，以及设置在本体中部的测定折射角3。
[0031]其中，左侧圆弧面1的半径为R100。右侧圆弧面4的半径为R50。
[0032]使用本试块时，先用R50和R100圆弧面进行横波检测范围和扫描速度调整，在用R50和R100圆弧面进行斜探头入射点调试，调试完成后在图3处根据探头选择相应的刻度进行K值校准，校准工作结束。
[0033]校准完成后下来进行横波距离
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波幅曲线校准，上下两个横孔根据一次二次三层波调校进行制作DAC曲线。
[0034]虽然，上文中已经用一般性说明及具体实施方案对本专利技术作了详尽的描述，但在
本专利技术基础上，可以对之作一些修改或改进，这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此，在不偏离本专利技术精神的基础上所做的这些修改或改进，均属于本专利技术要求保护的范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于超声波无损检测的便携式校准/对比试块，其特征在于，包括本体，开设在本体左侧的左侧圆弧面(1)，开设在本体右侧的右侧圆弧面(4)和直角临边侧(5)，开设在本体中部的横孔(2)，以及设置在本体中部的测定折射角(3)。2.根据权利要求1所述的一种用于超声波无损检测的便携式校准/对比试块，其特征在于，左侧圆弧面(1)的半径为R100。3.根据权利要求1所述的一种用于超声波无损检测的便携式校准/对比试块，其特征在于，右侧圆弧面(4)的半径为R50。4.根据权利要求1所述的一种用于超声波无损检测的便携式校准/对比试块，其特征在于，直角临边侧(5)位于右侧下底面处。5.根据权利要求1所述的一种用于超声波无损检测的便携式校准/对比试块，其特征在于，横孔(2)贯穿本体的前端...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏润，王飞，贺锡鹏，纪园园，李旭，王理博，张喜，魏亚兵，毛敏，
申请(专利权)人：西安热工研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：