一种通信芯片的检测方法技术

本发明专利技术公开了一种通信芯片的检测方法，包括，步骤A：读取被测通信芯片中的ID信息，分别检查被测通信芯片与供电电源的接触是否正常，通信芯片与信号发生单元的通讯是否正常；步骤B：读取供电电源的输出电流，并与理论电流进行比较；步骤C：运用信号发生单元，对通信芯片执行读写操作，以检测通信芯片的读写功能是否正常；步骤D：通过被测通信芯片按设定算法执行的结果，去判断通信芯片的内部寄存器是否失效；步骤E：通过信号发生单元对通信芯片输入功能信号，并判断通信芯片输出的功能数据是否与期望数据一致。其能通过信号发生单元输入功能信号对通信芯片进行功能测试，而能全面的检测通信芯片的性能。信芯片的性能。信芯片的性能。

【技术实现步骤摘要】
一种通信芯片的检测方法


[0001]本专利技术涉及电子芯片
，尤其涉及一种通信芯片的检测方法。

技术介绍

[0002]近年来通信芯片的需求量大幅度增长，给全球半导体业注入新的活力，通信芯片广泛应用于移动通信、无线internet和无线数据传输业，即将成为21世纪初全球半导体芯片业最大的应用市场。
[0003]传统的通信芯片的测试，主要是反复的向通信芯片进行基本的读写操作测试，这种方式能够检测通信芯片的基本读写功能，但缺乏对通信芯片功能的检测，而不能全面的检测通信芯片的性能。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种通信芯片的检测方法，其能通过信号发生单元输入功能信号对通信芯片进行功能测试，而能全面的检测通信芯片的性能。
[0005]本专利技术的目的采用以下技术方案实现：一种通信芯片的检测方法，包括，步骤A：读取被测通信芯片中的ID信息，分别检查被测通信芯片与供电电源的接触是否正常，通信芯片与信号发生单元的通讯是否正常；如果都正常，执行下一步；如果不正常，则重新连接线路；本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通信芯片的检测方法，其特征在于，包括，步骤A：读取被测通信芯片中的ID信息，分别检查被测通信芯片与供电电源的接触是否正常，通信芯片与信号发生单元的通讯是否正常；如果都正常，执行下一步；如果不正常，重新连接线路；步骤B：读取供电电源的输出电流，并与理论电流进行比较，如果所述输出电流大于所述理论电流，则表明电路短路，则对所述输出电流进行调整；如果所述输出电流小于或等于所述理论电流，则表明电路电流正常，执行下一步；步骤C：运用信号发生单元，对通信芯片执行读写操作，以检测通信芯片的读写功能是否正常，如果读写功能正常则进入下一步，否则停止检测；步骤D：通过被测通信芯片按设定算法执行的结果，去判断通信芯片的内部寄存器是否失效，如果内部寄存器没有失效，则进入下一步，否则停止检测；步骤E：通过所述信号发生单元对通信芯片输入功能信号，并判断通信芯片输出的功能数据是否与期望数据一致，当功能数据与期望数据一致时，则表明该通信芯片为良品芯片；否则，把不一致的功能数据与期望数据反馈给所述信号发生单元进行储存和分析。2.根据权利要求1所述的通信芯片的检测方法，其特征在于，在所述步骤A中，所述ID信息包括通信芯片的额定电压、额定电流、时序和功能描述。3.根据权利要求2所述的通信芯片的检测方法，其特征在于，在所述步骤B中，所述理论电流I
理
=I
额
n/4，其中，I
理
为芯片的理论电流
，
I
额
为芯片的额定电流，n为芯片的管脚数。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：曹佶，赵宝忠，
申请(专利权)人：浙江杭可仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：