一种光学干涉断层成像系统扫描范围的测量方法技术方案

本申请公开了一种光学干涉断层成像系统扫描范围的测量方法，包括如下步骤：将成像导管的有效扫描成像窗和靶装置置于折射率为n的介质中；将成像导管的有效扫描成像窗置于靶装置的内壁上；光学干涉断层成像系统和成像导管配合使用，成像导管探头沿轴向移动并扫描靶装置的内腔，从而得到目标扫描图像；在目标扫描图像中，测量代表成像导管扫描探头位置的点o与该帧图像中距o最远的点之间的距离L；光学干涉断层成像系统扫描半径R为L

【技术实现步骤摘要】
一种光学干涉断层成像系统扫描范围的测量方法


[0001]本申请涉及光学干涉断层成像系统
，具体涉及一种光学干涉断层成像系统扫描范围的测量方法。

技术介绍

[0002]光学相干断层扫描技术(Optical Coherence Tomography，简称OCT)是近年来发展较快的一种最具发展前途的新型层析成像技术，特别是在生物组织活体检测和成像方面具有诱人的应用前景，已尝试在心内科、眼科、牙科和皮肤科的临床诊断中应用，是继X
‑
CT和MRI技术之后的又一大技术突破，近年来已得到了迅速的发展，基于该技术的光学干涉断层成像系统可使人们获得微米量级空间分辨率的超高清影像。光学干涉断层成像系统扫描用的成像导管常常是基于侧向光光纤透镜，与此同时，光学干涉断层成像系统的扫描范围等关键指标的测量成为此
的重要课题。
[0003]关于光学干涉断层成像系统的扫描范围，目前也没有统一的测量方法，因此研究一种测量方法简单、准确率高的光学干涉断层成像系统的扫描范围的测量方法是目前该领域亟待解决的问题之一。

技术实现思路

[0004]针对，本申请提出一种光学干涉断层成像系统的扫描范围的测量方法，通过一次扫描便可以得到光学干涉断层成像系统的扫描范围，具有测量方法简单、方便快捷的优点。
[0005]本申请提供如下技术方案。
[0006]1、一种光学干涉断层成像系统扫描范围的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
[0007]将成像导管的有效扫描成像窗和靶装置置于折射率为n的介质中；
[0008]将成像导管的有效扫描成像窗置于所述靶装置的内壁上；
[0009]光学干涉断层成像系统和成像导管配合使用，所述成像导管探头沿轴向移动并扫描所述靶装置的内腔，从而得到目标扫描图像；
[0010]在所述目标扫描图像中，测量代表成像导管扫描探头位置的点o与该帧图像中距o最远的点之间的距离L；
[0011]所述光学干涉断层成像系统扫描半径R为L
×
n0/n；
[0012]n0为光学干涉断层成像系统的匹配折射率。
[0013]2、根据项1所述的测量方法，其特征在于，当所述靶装置的内腔为沿轴向的径向尺寸逐渐变大或变小时，
[0014]将成像导管的有效扫描成像窗置于所述靶装置的内壁上，光学干涉断层成像系统和成像导管配合使用，所述成像导管探头沿轴向扫描所述靶装置的内腔，从而得到多帧扫描图像；
[0015]选择最后一帧或第一帧可识别的扫描图像，作为目标扫描图像。
[0016]3、根据项1所述的测量方法，其特征在于，当所述靶装置的内腔为沿轴向的径向尺
寸一致时，即内腔为等径的柱状结构时，所述靶装置的径向尺寸大于光学干涉断层成像系统理论设计扫描范围。
[0017]4、根据项1
‑
3任一项所述的测量方法，其特征在于，所述靶装置的内腔的横截面为三角形、圆形、半圆形、矩形、梯形中的一种。
[0018]5、根据项2所述的测量方法，其特征在于，当所述成像导管扫描探头沿轴向从所述靶装置内腔横截面内径小的位置向内径大的位置移动时，所述成像导管扫描探头扫描得到的扫描图像的尺寸也逐渐变大，选择最后一帧可识别的扫描图像为目标扫描图像。
[0019]6、根据项2所述的测量方法，其特征在于，当所述成像导管扫描探头沿轴向从所述靶装置内腔横截面内径大的位置向内径小的位置移动时，所述成像导管扫描探头开始扫描得到的扫描图像尺寸较大、不完整，随后扫描得到的扫描图像尺寸逐渐减小、完整，选择第一帧可识别的扫描图像为目标扫描图像。
[0020]7、根据项1
‑
3任一项所述的测量方法，其特征在于，当所述靶装置的横截面为半圆时，所述成像导管的有效扫描成像窗放置于所述靶装置内腔的半圆弧的中心或中心附近进行扫描。
[0021]8、根据项1所述的测量方法，其特征在于，所述靶装置的内壁的表面为均匀漫反射表面。
[0022]9、根据项1
‑
3任一项所述的测量方法，其特征在于，所述光学干涉断层成像系统扫描半径R的误差为
‑
0.05R～+0.05R。
[0023]10、一种光学干涉断层成像系统扫描范围的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
[0024]将成像导管的有效扫描成像窗和长条状的靶装置置于折射率为n的介质中；所述成像导管探头的移动轨迹与所述长条状的靶装置呈锐角；
[0025]光学干涉断层成像系统和成像导管配合使用，所述成像导管探头移动并扫描所述靶装置的外表面，从而得到目标扫描图像；
[0026]在所述目标扫描图像中，测量代表成像导管扫描探头位置的点o与该帧图像中距o最远的点之间的距离L；
[0027]所述光学干涉断层成像系统扫描半径R为L
×
n0/n；
[0028]n0为光学干涉断层成像系统的匹配折射率。
[0029]11、根据项10所述的测量方法，其特征在于，当所述成像导管扫描探头从距离所述靶装置较近点向远离靶装置的方向移动时，所述成像导管扫描探头扫描得到扫描图像，在所述扫描图像中靶装置图像逐渐远离代表成像导管扫描探头位置的点o，选择最后一帧可识别的扫描图像为目标扫描图像。
[0030]12、根据项10所述的测量方法，其特征在于，当所述成像导管扫描探头从距离所述靶装置较远点向靠近靶装置的方向移动时，所述成像导管扫描探头开始扫描得到扫描图像，在所述扫描图像中靶装置图像逐渐靠近代表成像导管扫描探头位置的点o，选择第一帧可识别的扫描图像为目标扫描图像。
[0031]13、根据项10所述的测量方法，其特征在于，所述靶装置的外表面为均匀漫反射表面。
[0032]14、根据项10
‑
13任一项所述的测量方法，其特征在于，所述光学干涉断层成像系
统扫描半径R的误差为
‑
0.05R～+0.05R。
[0033]本申请提供的光学干涉断层成像系统扫描范围的测量方法，通过一次扫描靶装置，可以得到一帧或多帧扫描图像，选择目标扫描图像，并通过测量目标扫描图像中代表成像导管扫描探头位置的点o与该帧图像中距o最远的点之间的距离L，从而获得扫描图像光学干涉断层成像系统的扫描范围，而且误差仅在
‑
0.05R～+0.05R之间，因此本申请的测量方法具有测量方法简单、方便快捷的优点。
附图说明
[0034]附图用于更好地理解本申请，不构成对本申请的不当限定。其中：
[0035]图1为本申请提供的靶装置的结构示意图。
[0036]图2为本申请提供的成像导管沿靶装置移动过程中获得的扫描图像。
[0037]附图标记说明
具体实施方式
[0038]以下对本申请的示范性实施例做出说明，其中包括本申请实施例的各种细节以助于理解，应当将它们认为仅仅是示范性的。因此，本领域普通技术人员应当认识到，可以对这里本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学干涉断层成像系统扫描范围的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：将成像导管的有效扫描成像窗和靶装置置于折射率为n的介质中；将成像导管的有效扫描成像窗置于所述靶装置的内壁上；光学干涉断层成像系统和成像导管配合使用，所述成像导管探头沿轴向移动并扫描所述靶装置的内腔，从而得到目标扫描图像；在所述目标扫描图像中，测量代表成像导管扫描探头位置的点o与该帧图像中距o最远的点之间的距离L；所述光学干涉断层成像系统扫描半径R为L
×
n0/n；n0为光学干涉断层成像系统的匹配折射率。2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，当所述靶装置的内腔为沿轴向的径向尺寸逐渐变大或变小时，将成像导管的有效扫描成像窗置于所述靶装置的内壁上，光学干涉断层成像系统和成像导管配合使用，所述成像导管探头沿轴向扫描所述靶装置的内腔，从而得到多帧扫描图像；选择最后一帧或第一帧可识别的扫描图像，作为目标扫描图像。3.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，当所述靶装置的内腔为沿轴向的径向尺寸一致时，即内腔为等径的柱状结构时，所述靶装置的径向尺寸大于光学干涉断层成像系统理论设计扫描范围。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的测量方法，其特征在于，所述靶装置的内腔的横截面为三角形、圆形、半圆形、矩形、梯形中的一种。5.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，当所述成像导管扫描探头沿轴向从所述靶装置内腔横截面内径小的位置向内径大的位置移动时，所述成像导管扫描探头扫描得到的扫描图像的尺寸也逐渐变...

【专利技术属性】
技术研发人员：王正义，孙杰，张林涛，
申请(专利权)人：苏州阿格斯医疗技术有限公司，
类型：发明
国别省市：