一种OCT系统轴向分辨率测量方法技术方案

本发明专利技术提供了一种OCT系统轴向分辨率测量方法，包括如下步骤：将弱相干光分成参考光和采样光，所述参考光经参考臂的反射镜反射回OCT系统，所述采样光经光纤透镜和采样物反射回OCT系统，反射回到系统的采样光和参考光在OCT系统中发生干涉形成干涉光信号；将所述干涉光信号转换为电信号，并对所述电信号进行处理，得到FFT频谱；将所述采样物远离所述光纤透镜移动位移Δz，所述FFT频谱峰值对应的序列号变化为ΔN；所述Δz和所述ΔN的比值即为OCT系统的轴向分辨率。本发明专利技术获得OCT系统轴向分辨率的方法便捷、有效、低成本，并且本发明专利技术的测量方法可用于不同波长、频率的OCT系统，具有普遍适用性。

【技术实现步骤摘要】
一种OCT系统轴向分辨率测量方法
本专利技术涉及一种OCT系统轴向分辨率测量方法，适用于光学检测

技术介绍
近几十年来,生物医学科学领域迅猛发展,生命科学的研究从传统的定性研究转为定量研究,对光学检测技术提出了很高的要求。光学相干层析成像术(OpticalCoherenceTomography,OCT)的概念自从1991年在美国麻省理工大学被首次提出之后,在过去的十几年得到了飞速的发展。作为一种新兴的光学检测技术，OCT能无损伤地观察生物体表面以下的组织结构,具备组织病理分析所需的高分辨率,有望成为生物光学成像研究的重要手段。为适应更多更广的基础研究和临床应用的需要,OCT在分辨率、成像速度等方面都需要进一步提高,其中分辨率是OCT发展的重要指标。OCT的轴向分辨能力决定了它的层析能力，因此轴向分辨率的准确测量非常重要。目前测量轴向率分辨率的测量方法往往操作复杂，不能快速测量，而且不适宜应用于工业应用中OCT的轴向分辨率的测量。为了实现OCT轴向分辨率的测试，本专利技术提供了一种便捷、有效、低成本的测试OCT系统的轴向本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，包括如下步骤：/n将弱相干光分成参考光和采样光，所述参考光经参考臂的反射镜反射回OCT系统，所述采样光经光纤透镜和采样物反射回OCT系统，反射回到系统的采样光和参考光在OCT系统中发生干涉形成干涉光信号；/n将所述干涉光信号转换为电信号，并对所述电信号进行处理，得到FFT频谱；/n将所述采样物远离所述光纤透镜移动位移Δz，所述FFT频谱峰值对应的序列号变化为ΔN；/n所述Δz和所述ΔN的比值即为OCT系统的轴向分辨率。/n

【技术特征摘要】
20190917 CN 20191087743801.一种OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
将弱相干光分成参考光和采样光，所述参考光经参考臂的反射镜反射回OCT系统，所述采样光经光纤透镜和采样物反射回OCT系统，反射回到系统的采样光和参考光在OCT系统中发生干涉形成干涉光信号；
将所述干涉光信号转换为电信号，并对所述电信号进行处理，得到FFT频谱；
将所述采样物远离所述光纤透镜移动位移Δz，所述FFT频谱峰值对应的序列号变化为ΔN；
所述Δz和所述ΔN的比值即为OCT系统的轴向分辨率。


2.根据权利要求1所述的OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，由弱相干光所分成的所述参考光和所述采样光的分光比范围为1:99–50:50。


3.根据权利要求1所述的OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，所述采样物为平面镜或表面平整、反射率高的玻璃。


4.根据权利要求3所述的OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，所述采样物的平面和所述光纤透镜的出射光垂直。


5.根据权利要求3所述的OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，所述采样物安装...

【专利技术属性】
技术研发人员：王正义，侯利平，明良裕，冯庆宇，吴振英，
申请(专利权)人：苏州阿格斯医疗技术有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32