一种光压测量装置制造方法及图纸

技术编号:29208545 阅读:26 留言:0更新日期:2021-07-10 00:44
本发明专利技术公开了一种光压测量装置,其包括光频转换单元、信号调理采集单元、信号处理单元、显示单元和直流稳压单元;光频转换单元包括驱动电路和压电谐振式传感器;压电谐振式传感器的输出端与驱动电路的输入端连接;驱动电路的输出端与信号调理采集单元的输入端通信连接;信号处理单元分别与信号调理采集单元的输出端和显示单元通信连接;直流稳压单元与驱动电路电连接;压电谐振式传感器包括:传感器晶片、第一传感器电极和第二传感器电极;传感器晶片固定在第一传感器电极和第二传感器电极之间。本发明专利技术通过将光信号转换成频率信号,通过频率差快速获取光压信息,提高了光压测量精度。提高了光压测量精度。提高了光压测量精度。

【技术实现步骤摘要】
一种光压测量装置


[0001]本专利技术涉及传感器领域,具体涉及一种光压测量装置。

技术介绍

[0002]光子压力(简称光压)是指光照射到物体表面对物体产生的机械压力。光压的精确测量一直是科学界有待解决的问题。主要原因在于光子压力非常微小,现有的测量设备由于灵敏度不够而不能直接检测。另外,在国际单位制中,力学量为导出量,无法直接进行观测,通常需要将其转化为可见的宏观物体运动或形变,或利用特殊的物理效应将压力转化为其他类型的物理信号进行测量。在国际单位向量子化发展的时代,光压作为一种能量子化的微小力值,具有很高的研究价值,不管是在星际航行、卫星姿态控制、微小力值的溯源,还是在活体细胞操控、原子密度图谱绘制,光压都会起到至关重要的作用,需要继续加大对光压测量乃至计量研究的力度,对航空航天事业和精密制造工业都具有重要的意义。
[0003]目前,光压的测量方法主要有6种,分别为:(1)利用测量扭秤的旋转角度测量光压的扭秤法(见论文Lebedev P.N.“Experimental examination of lightpressure[J]”本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光压测量装置,其特征在于,包括光频转换单元、信号调理采集单元、信号处理单元、显示单元和直流稳压单元;所述光频转换单元包括驱动电路和压电谐振式传感器;所述压电谐振式传感器的输出端与驱动电路的输入端连接;所述驱动电路的输出端与信号调理采集单元的输入端通信连接;所述信号处理单元分别与信号调理采集单元的输出端和显示单元通信连接;所述直流稳压单元与驱动电路电连接;所述压电谐振式传感器包括:传感器晶片(1)、第一传感器电极(2)和第二传感器电极(3);所述传感器晶片(1)固定在第一传感器电极(2)和第二传感器电极(3)之间;所述驱动电路,用于驱动压电谐振式传感器,并获取压电谐振式传感器的频率值;所述信号调理采集单元,用于采集并调理接收到的实时频率信息,并将调理后的数据发送至信号处理单元;所述信号处理单元,用于根据无光压环境下信号调理采集单元的输出和当前信号调理采集单元的输出数据计算当前的光压;所述显示单元,用于显示数据,包括信号处理单元计算得到的光压;所述直流稳压单元,用于为压电谐振式传感器提供电能。2.根据权利要求1所述的光压测量装置,其特征在于,传感器晶片为压电石英晶体。3.根据权利要求1所述的光压测量装置,其特征在于,所述驱动电路包括:电...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐林谭峰廖霜王厚军叶芃黄武煌张沁川邱渡裕
申请(专利权)人:电子科技大学
类型:发明
国别省市:

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