基于概率密度函数提高相移误差检测精度的方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了基于概率密度函数提高相移误差检测精度的方法，建立了测量系统中由于相移不准导致的相位误差模型，并提出了一种利用统计方法提取相移误差的算法。即利用“理想情况下截断相位的概率密度(PDF)均匀一致”的特点，对待测条纹采用不同的相移误差组合，计算每条概率密度函数曲线的STD值，STD值最小时对应的补偿相移误差组合作为测量系统的真实相移误差，通过本发明专利技术的方法提高了相移误差检测的准确度，减小了检测误差。减小了检测误差。减小了检测误差。

【技术实现步骤摘要】
基于概率密度函数提高相移误差检测精度的方法及系统


[0001]本专利技术涉及相移干涉测量领域，特别是一种基于概率密度函数提高相移误差检测精度的方法及系统。

技术介绍

[0002]随着人类社会的不断发展，物体表面三维形貌测量对于人类的生产生活有着越来越重要的作用。常见的物体三维测量方法可以分为接触式测量和非接触式测量。在非接触测量方法中，相位测量轮廓术由于其高精度、非接触以及快速测量的优点被广泛应用于医学治疗、文物保护、工业制造、智能监控等领域。相位测量轮廓术是利用相移技术从被物体表面高度所调制的条纹图中提取出相位，进而重建物体三维信息。在相移方法中，一类是数字相移技术，另一类是机械相移技术，包括机械投影法和相移干涉法等。其中数字相移尽管无相移误差，但由于需要数字设备而限制了其使用范围；另一方面，由于机械相移技术大多依赖于机械结构实现相移，此时相移不准就成为了影响测量精度的重要因素之一，所以，获取精确的相移量对提高系统测量精度具有重要意义。

技术实现思路

[0003]本专利技术的专利技术目的在于：针对现有相移误差检测技术存在的问题本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于概率密度函数提高相移误差检测精度的方法，其特征在于，包括：S1获取待测相移条纹，用一系列相移误差组合对其进行补偿并计算得到一系列补偿后的相位分布；S2画出相应的概率密度函数曲线，计算每一条概率密度函数曲线的标准差；S3通过找出具有最小标准差的概率密度函数曲线，将对应的相移误差组合作为测量系统真实的相移误差。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤S1中，一系列误差组合为：通过设置采样间隔，在[
‑
π/10，π/10]区间内模拟产生一系列不同的误差Δδ1和Δδ2。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述步骤S2中，所述概...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘元坤，于馨，陈文静，张启灿，薛俊鹏，王亚军，申俊飞，
申请(专利权)人：四川大学，
类型：发明
国别省市：